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公开(公告)号：CN103006174B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201210353478.3
申请日：2012-09-20
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/0025 , A61B3/0058 , A61B3/1225 , A61B3/14 , G06T7/0012 , G06T2207/10056 , G06T2207/20056 , G06T2207/30041
Abstract: 本发明涉及一种图像处理设备、眼科摄像设备和图像处理方法。所述图像处理设备包括：识别单元，用于识别通过对眼底进行摄像所获得的眼底图像的周期性；以及信息获取单元，用于基于所述周期性来获取表示所述眼底图像中的感光细胞的摄像状态的信息。
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公开(公告)号：CN105431077A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201480043571.1
申请日：2014-07-24
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/0025 , A61B3/0041 , A61B3/1005 , A61B3/102 , A61B3/113 , A61B3/1225 , A61B3/14 , G06T7/0016 , G06T7/337 , G06T2207/10101 , G06T2207/30041
Abstract: 为了针对用户提供病理支持以有效地进行对疾病的复查，使用从偏振敏感断层图像获得的偏振信息。一种图像处理设备，包括：定位单元(195)，用于基于通过在不同时刻拍摄被检体所获得的多个断层亮度图像，来定位与这多个断层亮度图像相对应的多个偏振敏感断层图像；以及比较单元(196)，用于比较所定位的多个偏振敏感断层图像。
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公开(公告)号：CN102058390B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201010547484.3
申请日：2010-11-17
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/14
Abstract: 本发明涉及一种自适应光学设备、自适应光学方法和成像设备。所述自适应光学设备包括：像差测量单元，其测量由被检对象引起的像差，基于从被检对象返回的返回光测量所述像差；像差校正单元，其根据通过像差测量单元测量的像差执行像差校正；照射单元，其用经像差校正单元校正的光照射被检对象；以及，获取单元，其基于通过像差测量单元测量的像差获取基于被检对象的透射率的信息。
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公开(公告)号：CN102016549A
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200980115967.1
申请日：2009-05-07
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01B9/02058 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02002 , G01B9/02035 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2021/1787
Abstract: 提供可缩短成像时间的光学相干断层(OCT)成像装置和相应的方法。该装置包括用于将入射到光学部分上的测量光束的第一光束直径变为比第一光束直径大的第二光束直径的光束直径改变部分(21)。调整台基于第一光束直径下来自检查对象(12)的位置的返回光束的强度信息来调整会聚光学部分(20)的位置。通过光束直径改变部分(21)，在通过调整台调整的位置处，光束直径从第一光束直径变为第二光束直径，以使具有第二光束直径的测量光束入射到检查对象(12)上。由于使用光束直径小的测量光束，因此可以在相对较短的时间内调整会聚光学部分(20)，并且，由于使用光束直径大的测量光束，因此可以以高横向分辨率获取与参照光束的合成光束。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105431077B
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201480043571.1
申请日：2014-07-24
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/0025 , A61B3/0041 , A61B3/1005 , A61B3/102 , A61B3/113 , A61B3/1225 , A61B3/14 , G06T7/0016 , G06T7/337 , G06T2207/10101 , G06T2207/30041
Abstract: 为了针对用户提供病理支持以有效地进行对疾病的复查，使用从偏振敏感断层图像获得的偏振信息。一种图像处理设备，包括：定位单元(195)，用于基于通过在不同时刻拍摄被检体所获得的多个断层亮度图像，来定位与这多个断层亮度图像相对应的多个偏振敏感断层图像；以及比较单元(196)，用于比较所定位的多个偏振敏感断层图像。
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公开(公告)号：CN103356161A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310110922.3
申请日：2013-04-01
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/102 , A61B3/0041
Abstract: 本发明涉及一种光学相干断层成像设备及其控制方法。所述光学相干断层成像设备用于使用基于来自波长扫频型光源的光的干涉光来拍摄被检眼的断层图像，并且包括：部位获取单元，用于获取摄像对象部位；显示控制单元，用于显示与获取到的所述摄像对象部位有关的信息；以及摄像单元，用于通过使用来自所述波长扫频型光源的光对所述被检眼的所述摄像对象部位进行扫描，来拍摄断层图像。
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公开(公告)号：CN101937132B
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201010219216.9
申请日：2010-06-25
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G02B27/01
CPC classification number: G02B27/0176 , A42B1/247
Abstract: 一种头戴式设备，其能被安装于观察者的头部，该头戴式设备包括：第一按压构件，其对头部的第一部位施加压力；第二按压构件，其对头部的第二部位施加压力；和调整单元，其适于将第一按压构件和第二按压构件移动到第一按压构件和第二按压构件分别按压第一部位和第二部位的位置。
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公开(公告)号：CN102058390A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN201010547484.3
申请日：2010-11-17
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B3/14
Abstract: 本发明涉及一种自适应光学设备、自适应光学方法和成像设备。所述自适应光学设备包括：像差测量单元，其测量由被检对象引起的像差，基于从被检对象返回的返回光测量所述像差；像差校正单元，其根据通过像差测量单元测量的像差执行像差校正；照射单元，其用经像差校正单元校正的光照射被检对象；以及，获取单元，其基于通过像差测量单元测量的像差获取基于被检对象的透射率的信息。
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公开(公告)号：CN101937132A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN201010219216.9
申请日：2010-06-25
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G02B27/01
CPC classification number: G02B27/0176 , A42B1/247
Abstract: 一种头戴式设备，其能被安装于观察者的头部，该头戴式设备包括：第一按压构件，其对头部的第一部位施加压力；第二按压构件，其对头部的第二部位施加压力；和调整单元，其适于将第一按压构件和第二按压构件移动到第一按压构件和第二按压构件分别按压第一部位和第二部位的位置。
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