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公开(公告)号：CN118897810A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411401823.5
申请日：2024-10-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN118312372B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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公开(公告)号：CN117032838A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310764873.9
申请日：2023-06-26
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种调用方法和装置、定位方法和装置及业务接口测试系统，属于计算机领域。该调用方法包括：确定测试业务接口时的调用类型；确定测试所述业务接口时使用的操作系统的系统类型；基于所确定的调用类型和确定的系统类型及预设调用规则，确定调用对象；以及调用所确定的调用对象，以测试所述业务接口。籍此，实现了跨平台及不同调用对象的调用。
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公开(公告)号：CN116331047A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310309021.0
申请日：2023-03-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种充电桩的交易验证方法，应用于充电桩的计费控制终端，所述方法包括：在读取到充电卡的情况下，确定被选择用于提供电能的目标充电机枪的机枪标识和所述充电卡中的冻结资源数据，并从安全芯片中获取终端标识和密钥索引号；在所述密钥索引号能够被所述充电卡支持的情况下，接收所述充电卡发送的伪随机数、资源脱机交易序号；向所述安全芯片发送初始化灰锁消息认证码计算命令，以得到消费密钥对应的子密钥；向所述充电卡发送灰锁命令，以指示所述充电卡进行交易验证。由此通过计费控制终端的专用安全芯片进行安全数据交互，可以有效防范伪造计费控制终端身份、重放攻击等攻击手段对充电控制系统造成恶意破坏。
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公开(公告)号：CN115048256B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119358573A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411255327.3
申请日：2024-09-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备，属于车载电子标签技术领域。其中装置包括：测试环境创建模块，用于根据第二测试类型选择指令创建ESAM逻辑单元测试所需要的第一测试环境和/或创建ICC逻辑单元测试所需要的第二测试环境；ESAM逻辑单元功能集模块，用于在第一测试环境中执行ESAM逻辑单元中的第一预设测试用例的测试；ICC逻辑单元功能集模块，用于在第二测试环境中执行ICC逻辑单元中的第二预设测试用例的测试；交叉功能模块，用于交替在第一测试环境和第二测试环境之间进行第三预设测试用例的测试。本发明用以解决现有车载电子标签测试均需使用两个软件测试，配置不灵活，自动化水平较低的缺陷。
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公开(公告)号：CN112052184B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN112213582B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202011048442.5
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。
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公开(公告)号：CN117234417A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202310952821.4
申请日：2023-07-31
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明提供一种文件系统均衡擦写验证方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：重复执行以下步骤直至达到预设次数：确定当前擦写的闪存扇区序号；将非易失性存储器中存储的闪存扇区序号对应的擦写次数进行加一操作；执行擦写程序以向闪存中写入大于一个扇区长度的数据；基于非易失性存储器中存储的所有闪存扇区序号的擦写次数，确定所有闪存扇区序号的擦写次数的平均值；基于每个闪存扇区序号的擦写次数与平均值的设定阈值范围的对比结果，确定文件系统均衡擦写的验证结果。本发明用以解决现有的文件系统的均衡擦写验证方法需依赖外部工具，并且验证方法不够直观有效的缺陷。
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公开(公告)号：CN115048317A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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