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公开(公告)号：CN118897810B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411401823.5
申请日：2024-10-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/3668 , G06F11/22
Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN112052184A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN119619151A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411872278.8
申请日：2024-12-18
Applicant: 国网辽宁省电力有限公司营销服务中心 , 郑州三晖电气股份有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Inventor： 冯智博 , 董思同 , 代宇 , 汤野 , 李建强 , 薛激光 , 赵旭亮 , 王丹 , 武珺 , 张笑怡 , 赵磊洋 , 顾迎 , 曲胜波 , 刘罡 , 刘畅 , 朱耀文 , 徐明
Abstract: 本发明涉及断路器检测领域，公开了一种断路器外观质量检测系统，包括有检测台、检测箱体、固定块、送料台、CCD相机、控制气缸等；检测台上固接有检测箱体，检测台前安装有送料台，送料台位于检测箱体前，断路器从送料台被送入检测箱体内，检测箱体内固接有固定块，检测箱体和固定块上均固接有CCD相机。本装置通过两枚CCD相机对断路器进行检测，两枚CCD相机分别对断路器四周和上下面进行检测，在检测过程中旋转机构和升降翻转机构均能够调整断路器的状态，以快速对断路器外不同位置进行检测。
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公开(公告)号：CN115048317B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN118312372A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117149614A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310847617.6
申请日：2023-07-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明实施例提供一种测试脚本自动化生成方法、装置、存储介质及处理器，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取被测对象的待配置参数、循环体文件以及支持文件；根据所述被测对象的待配置参数，确定测试配置信息；根据预置的脚本框架和所述测试配置信息生成目标脚本框架；确定与所述被测对象对应的指令格式文件；根据所述目标脚本框架、所述指令格式文件、所述循环体文件以及所述支持文件，生成目标测试脚本。本发明能够快速生成自动化测试脚本，从而降低测试人员手工编写、修改脚本的成本以及出错概率，提高了测试脚本的生成效率。
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公开(公告)号：CN115048256A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN109635610B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201811512829.4
申请日：2018-12-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明公开了一种RFID标签数据的读写系统及方法，该系统包括：RFID标签、第一标签读写器、第二标签读写器、主站系统。第一标签读写器将密文数据写入RFID标签。第二标签读写器读取密文数据，内部的安全芯片对密文数据进行解密获得明文数据，并将内部预置的验证码与明文数据的验证码进行对比，若一致则对明文数据进行加密产生第二密文数据，产生一随机数并对随机数进行加密，第二标签读写器将第二密文数据、随机数明文以及随机数密文均上传。主站系统接收上传的数据对随机数的密文进行解密，然后将解密后的数与随机数明文进行对比，若一致则主站系统对第二密文数据进行解密获取明文数据。该系统及方法提升了标签数据的安全性以及读写标签数据的便利性。
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公开(公告)号：CN112052439A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202011053457.0
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种嵌入式系统的访问权限控制方法，所述控制方法包括：获取并运行权限编辑后应用，在所述嵌入式系统处于第一运行状态时运行所述权限编辑后应用；确定所述权限编辑后应用是否执行系统调用；在所述权限编辑后应用执行所述系统调用的情况下，生成对应的调用控制结果。本发明还公开了一种嵌入式系统的访问权限控制装置。通过在用户态应用程序使用前配置对应的权限控制信息，通过该权限控制信息对应用的指定文件或指定路径下的所有文件进行控制权限的配置，从而能够在较低资源占用的基础上，实现对用户态应用程序的访问权限快速、批量化配置，大大降低了配置复杂度，提高了配置效率。
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公开(公告)号：CN119415342A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411332643.6
申请日：2024-09-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司营销服务中心
IPC: G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本申请公开了一种掉电测试电路及系统，属于硬件测试技术领域。掉电测试电路包括：多个接口，具有多种总线标准；多个输出电压控制电路，配置为提供多种输出电压，各输出电压控制电路与各接口对应电连接；电源电路，与各输出电压控制电路电连接，且配置为将接入电源转换为各输出电压控制电路所需的供电电压；主控芯片，与各输出电压控制电路电连接，且配置为根据目标上电时间信息和目标掉电时间信息控制各输出电压控制电路上电或掉电。
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