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公开(公告)号：CN100360919C
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200410090673.7
申请日：2004-11-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种无限兼有限共轭光电像分析器，可以实现多种测试功能，具有很高的集成度。由平移台和旋转台构成多维调整系统，可满足测试中的多维调整和折轴测试的需要；该仪器根据被测系统的需要，光电测头具有望远和显微两种功能，望远测头还要适应0视度和多个非0视度试样的测试功能，对望远系统参数的测试可以通过不同视度准直镜与CCD组成的接收系统实现，对照相系统可以通过在像分析器光学系统的物方接口处加接显微物镜来实现。该仪器通过相应的软件可以实现对光学系统所成的像进行采集和分析、图像数据处理，是集光、机、电、算、自动控制为一体的综合装置。
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公开(公告)号：CN101026778A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200710064396.6
申请日：2007-03-14
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶，所述综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。所述的方法包括步骤：依次建立世界坐标系和摄像机坐标系之间、像素坐标系与图像坐标系之间、摄像机坐标系和图像坐标系之间的变换关系；采集畸变图像的成像极坐标；标定理想无畸变的成像极坐标；分别确定理想图像坐标点和畸变图像坐标点的对应关系，建立多项式模型；根据多项式系数测量并校正畸变。本发明的综合测试靶结合考虑了点靶和行靶信息，用测试靶替代传统的三个分立的靶板，解决了目标采样点的位置精度不高和目标采样点与其像点位置对应困难的问题。
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公开(公告)号：CN101025382A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200710063161.5
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种统计调制传递函数的随机图案测量方法，采用功率谱相关性来得到传递函数，采用随机条纹测试靶标，或者其它随机图案靶标，随机图案由计算机随机算法生成，不需要扫描机构和精确对准机构，可以在计算机控制下快速得到离散采样成像系统的统计意义上的调制传递函数特性。利用该方法能非常容易地得到大量随机条纹测试图或者其它类型的测试图，便于进行统计意义上的测试，具有很高的灵活性和可操作性；具有平移不变特性，避免了微米级精密的机械扫描；采用高分辨率液晶作为光学分划图形发生器并应用于光学测量；测试过程简单，对人员的专业技术水平要求不高，利于实现计算机自动化测试。
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公开(公告)号：CN101013062A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200710063160.0
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统，包括：1)光源组件，包括光源和调制盘；2)发射单元，包括平行光管和可换光阑；3)接收单元，包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管；4)控制处理单元，包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏；其特征在于，将发射单元和接收单元做成分体结构，并且各个分体结构都可以独立升降或俯仰调整，满足折轴望远光学系统透过率的测试要求；为提高测量精度，系统采用了双光路方式，在一定程度上排除了光源、探测器、高压电源、放大器等部件的信号漂移，一次100％校准后可以在长时间内进行测量。
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公开(公告)号：CN101275870B
公开(公告)日：2010-07-07
申请号：CN200810106360.4
申请日：2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法，属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb＝Lmax-bak/Ltar；相邻极值差对比度Cmax＝∑|Lmax-tar-Lmax-bak|/L组成特征向量输入BP神经网络，对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中，Ltar为四杆靶平均灰度值；Lmax-bak为靶间(背景)灰度极值；Lmax-tar为四杆靶灰度极值；L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器，或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像，处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态，输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别，减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差，具有客观判读和重复性好的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101271284A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200810100860.7
申请日：2008-02-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种光刻机物镜掩膜照明条件下杂光系数测试装置，属于光电测试技术领域。本发明包括内置在积分球内的光源、放置在积分球出口光路上的掩膜板、掩膜板透射光路上的光刻物镜、以及中继光学系统、带牛角消光管、光电探测器的积分球、信号处理系统。照明光源发出光线经积分球内表面多次反射后从积分球开口射出均匀投射到掩膜板上，经光刻物镜的艾里斑像，被中继光学系统会聚到积分球后端的牛角消光管内全部吸收，其余杂光均被积分球内表面多次反射后，被光电探测器接收，最后由信号处理系统输出光刻物镜的轴上点杂光系数。本发明具有探测信噪比高、精度高，功能强，可用于新研制和使用中的光刻机物镜成像质量的检测、监控与评估。
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公开(公告)号：CN1614378A
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN200410090673.7
申请日：2004-11-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种无限兼有限共轭光电像分析器，可以实现多种测试功能，具有很高的集成度。由平移台和旋转台构成多维调整系统，可满足测试中的多维调整和折轴测试的需要；该仪器根据被测系统的需要，光电测头具有望远和显微两种功能，望远测头还要适应0视度和多个非0视度试样的测试功能，对望远系统参数的测试可以通过不同视度准直镜与CCD组成的接收系统实现，对照相系统可以通过在像分析器光学系统的物方接口处加接显微物镜来实现。该仪器通过相应的软件可以实现对光学系统所成的像进行采集和分析、图像数据处理，是集光、机、电、算、自动控制为一体的综合装置。
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公开(公告)号：CN101231343B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200810057899.5
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液晶调制的激光测距机瞄准与接收轴平行性测量装置，包括：离轴抛物面反射镜、液晶空间光调制器、积分球、可见光源、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器；所述液晶空间光调制器置于离轴抛物面反射镜的焦面上；所述液晶空间光调制器、积分球、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器依次放置在焦面后，耦合器与激光发射器连接；所述可见光源与积分球连接。此检测装置利用液晶进行光电调制生成面目标进行光电扫描，测量成功率高，其可用于激光测距机瞄准轴与接收轴平行性在室内、室外环境下的快速检测，具有精度高和可便携的优点。
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公开(公告)号：CN101355711B
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200810222211.4
申请日：2008-09-11
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于三角形方向识别的CCD摄像机分辨率测量装置及方法，属于光电测试领域。该装置包括待测CCD摄像机、分辨率靶板、均匀照明灯箱以及高分辨率监示器。分辨率靶板是采用等边三角形图案代替通常的栅条图案；在测试过程中以识别等边三角形的朝向代替常规的条纹分辨，可以有效避免常规栅条图案分辨率测试中的摩尔条纹影响；将达到75％以上正确判别概率所对应的电视线数确定为该摄像机的极限分辨率。为提高测试精度，对标准栅条间隔作数值内插计算，设计出一种新的电视分辨率靶板，两块靶板配合使用可大大提高测量精度。可应用于对各类可见光CCD摄像机的性能评测。
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公开(公告)号：CN101354308B
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200810211257.6
申请日：2008-09-19
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种数字视差测量仪及测量方法。本发明包括光源、物镜、图像采集模块、计算机、机电平移台。光源通过目镜照明被测光学系统的分划板，光线透过望远物镜后进入物镜并在图像采集模块上成像，图像采集模块将所成图像传送给计算机，计算机控制机电平移台实现机电平移，机电平移台向计算机返回机电平移数据；物镜装卡于机电平移台上。本发明还可以包括分光系统，光线通过分光系统进入粗瞄摄像机，将采集到的视频信号传输给监视器，用于测量前的粗瞄对准。本发明用计算机来修正由环境变化引起的测量误差，具有精度高、速度快、客观性好的优点，可用于光学系统的检测与装配过程中的高精度视差测量。
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