公开(公告)号：CN102460280A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN201080024391.0

申请日：2010-04-28

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤仁

IPC: G02F1/13 ,  B05D1/28 ,  G02F1/1337

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G02F1/133707 ,  G02F1/133711 ,  G02F1/133723 ,  G02F2201/506

Abstract: 本发明提供能够更容易地修复取向膜的缺损部位的液晶面板的制造方法。该液晶面板的制造方法包括在形成有取向膜(30)的基板(12)，利用被提供修复墨(61)的修复印模(60)修复取向膜(30)的缺损部位(50)的工序。修复工序包括：将修复印模(60)配置在包含缺损部位(50)的区域(修复区域)(55)的步骤(a)；使修复印模(60)从在步骤(a)中配置的位置(60a)移动的步骤(b)；和使修复印模(60)从在步骤(b)中移动到的位置(60b)再次移动到在步骤(a)中配置的位置(60a)的步骤(c)。

公开(公告)号：CN101401029B

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN200780008278.1

申请日：2007-02-21

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤仁

IPC: G02F1/1339 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/1337 ,  G02F1/1368

CPC classification number: G02F1/13394 ,  G02F1/133512

Abstract: 本发明涉及液晶显示装置及其制造方法。液晶显示装置包括平行重叠的TFT基板(10)和CF基板(20)、将两个基板(10、20)保持为规定间隔的间隔颗粒(31)、和在两个基板(10、20)彼此之间封入的液晶(32)，在TFT基板(10)的与CF基板(20)的相对面上，形成有在整个周围包围应该配置间隔颗粒(31)的突起部(18)，因此在含有在墨水中的状态下被涂敷到配置区域(17)内的间隔颗粒(31)不会向配置区域(17)外移动，间隔颗粒(31)可靠地配置在配置区域(17)内。

公开(公告)号：CN101395528B

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200780007051.5

申请日：2007-02-21

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤仁

IPC: G02F1/1339 ,  G02F1/1368

CPC classification number: G02F1/13392 ,  G02F1/13394

Abstract: 本发明提供一种液晶显示装置及其制造方法，如果与墨水一起，在包括定位凹部(32)的区域中涂敷成为间隔颗粒(35)或者核颗粒(34)的多个颗粒，则伴随着墨水蒸发其液滴减小，多个颗粒在配置区域(31)的表面上边移动边相互接近，并且任意一个颗粒收容到定位凹部(32)内成为核颗粒(34)。核颗粒(34)由于不能向定位凹部(32)的外面(配置区域(31)的表面)移动，因此残留在配置区域(31)中的其它颗粒向核颗粒(34)靠拢，成为在配置区域(31)上与核颗粒(34)邻接配置的间隔颗粒(35)。

公开(公告)号：CN112178461A

公开(公告)日：2021-01-05

申请号：CN202010610670.0

申请日：2020-06-29

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤仁

IPC: F17D1/08 ,  F17D3/01 ,  F17D3/18 ,  F17D5/00 ,  F26B21/00

Abstract: 抑制误检测的产生。贮液装置(20)是，包括：贮留容器(21)，贮留液体(L)；连通管(24)，连接到贮留容器(21)的容器上部(21U)与容器下部(21D)而使两方间连通；多个液体检测部(27)，安装在连通管(24)并且可检测存在于连通管(24)内的液体(L)，包含配置在连通管(24)之中最接近容器下部(21D)的最低位液体检测部(27γ)；以及检测控制部(35)，控制最低位液体检测部(27γ)的驱动的与否。

公开(公告)号：CN102639295B

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201080053452.6

申请日：2010-11-09

Applicant: 夏普株式会社 ,  株式会社V技术

Inventor： 佐藤仁

IPC: B24B21/00 ,  B24B27/033

CPC classification number: B24B27/033 ,  B24B21/004

Abstract: 捕捉工件表面的缺陷，生成用于修正的信息，基于该信息选择需要修正的异物，确定作为所选择的异物的中心的异物中心(Xa)，使研磨头的中心从该异物中心(Xa)向与研磨带的抽出方向相反的一侧偏移。并且，边从供给卷盘抽出并且用卷绕卷盘卷绕研磨带，边用研磨头按压供给卷盘和卷绕卷盘之间的研磨带来研磨而修正工件表面的异物。由此，即使是硬质异物、脆质异物附着于工件表面的情况，也使得质量不劣化地有效地进行研磨修正。

公开(公告)号：CN102666011A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080047892.0

申请日：2010-09-01

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 佐藤仁 ,  藤井茂喜

IPC: B24B21/00 ,  B24B27/033 ,  B24B49/12

CPC classification number: B24B27/033 ,  B24B21/004 ,  B24B49/12

Abstract: 捕捉工件表面的缺陷来制作用于修正的信息，以该信息为基础来测量需要修正的异物的高度，当该测量到的高度不到第1基准时，转移到通常的研磨工序，当该测量到的高度为第1基准以上且不到第2基准时，转移到临时研磨工序，当该测量到的高度为第2基准以上时，判断为不进行研磨。在该临时研磨工序中，使研磨头仅下降规定的量，一边从供给卷盘抽出并且用卷绕卷盘卷绕研磨带，一边用研磨头按压供给卷盘和卷绕卷盘之间的研磨带而研削异物，调查异物的高度是否发生了变化，当高度发生了变化时，转移到通常的研磨工序，当高度未发生变化时，不进行研磨。由此，即使在工件表面附着有大型且高硬度的异物的情况下，也可以尽可能不降低处理能力且可以防止发生研磨带的断开、拖伤。