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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102930874A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210369825.1
申请日：2012-09-28
Applicant: 旭硝子株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁记录介质用玻璃基板，具有一对主平面、外周端面和内周端面，其特征在于，所述外周端面具有外周侧表面部和外周倒角部，在所述外周端面上，在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个外周端面测定位置处测定表面粗糙度Ra时，所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下，且所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下。
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公开(公告)号：CN103400588B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201310224117.3
申请日：2012-09-28
Applicant: 旭硝子株式会社
Abstract: 本发明的目的在于提供能够得到平行度优良的磁记录介质用玻璃基板的磁记录介质用玻璃基板的制造方法及平行度优良的磁记录介质用玻璃基板。本发明提供一种磁记录介质用玻璃基板的制造方法及磁记录介质用玻璃基板，所述制造方法用于制造具有一对主平面、外周端面和内周端面的磁记录介质用玻璃基板，其特征在于，所述外周端面具有外周侧表面部和外周倒角部，所述磁记录介质用玻璃基板的制造方法具有使用两面研磨装置对保持在托板上的磁记录介质用玻璃基板的主平面进行研磨的主平面研磨工序，在通过所述主平面研磨工序进行研磨之前的磁记录介质用玻璃基板中，在所述外周端面上，在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个外周端面测定位置处测定表面粗糙度Ra时，所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下，且标准差为0.2μm以下。
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公开(公告)号：CN105590638A
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201510752153.6
申请日：2015-11-06
Applicant: 旭硝子株式会社
Abstract: 本发明提供一种对应于高记录密度化的磁盘用玻璃基板及磁盘。所述磁盘用玻璃基板具有主表面，其特征在于，通过原子力显微镜在所述主表面上测定的算术平均粗糙度Ra为0.15nm以下，基于通过原子力显微镜测定的结果，对预定的区域在使角度方向以每次变化1°的方式从0°变化至180°的同时算出各角度方向上的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg，在将所述算出的角度方向算术平均粗糙度Ra_deg中的最大值设为角度方向算术平均粗糙度最大值Ra_deg_max、且将最小值设为角度方向算术平均粗糙度最小值Ra_deg_min的情况下，(Ra_deg_max)/(Ra_deg_min)的值为2.6以下，由此解决了上述课题。
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公开(公告)号：CN103626406A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310482024.0
申请日：2012-12-21
Applicant: 旭硝子株式会社
Abstract: 本发明的目的在于提供一种在形成磁记录介质时错误的发生率较低的磁记录介质用玻璃基板的制造方法及使用了该磁记录介质用玻璃基板的磁记录介质的制造方法。本发明中，在磁记录介质用玻璃基板上，设如下的值为滞弹性变形量A：从下表面侧支承上述磁记录介质用玻璃基板的直径方向的两端部并在对上述磁记录介质用玻璃基板的中央部上表面施加48小时的载荷后解除载荷，在解除载荷之后经过5小时的时候的平坦度和施加载荷之前的平坦度的差的绝对值，这种情况下，上述滞弹性变形量A为4.2μm以下。
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公开(公告)号：CN102945676A
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN201210385812.3
申请日：2012-10-12
Applicant: 旭硝子株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁记录介质用玻璃基板，其具有一对主表面、外周端面、内周端面，其中，在所述主表面上0.1～0.3μm的异物的附着数为0.007个/mm2以下，在所述磁记录介质用玻璃基板的整个表面上存在的铈量小于0.004ng/mm2，在所述外周端面上长径1.0μm以上的异物的附着数小于1.2个/mm2。
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