公开(公告)号：CN1965228A

公开(公告)日：2007-05-16

申请号：CN200580013285.1

申请日：2005-04-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 岩本洋 ,  谷美幸 ,  久角隆雄 ,  岩田进裕 ,  坂口悦美

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 是对于放置在X射线照射室(7)上侧的试料台架(2)上的试料(1)，在自试料(1)上方关闭试料罩(6)而遮蔽围住试料(1)之后，对试料(1)的下面照射X射线而进行分析的荧光X射线分析方法，其中，在试料(1)放置在试料台架(2)上并关闭试料罩(6)的情况下，由试料罩检测机构(8)检测出试料罩(6)已关闭，就自动地从X射线源(3)照射X射线而开始进行分析。

公开(公告)号：CN1947003A

公开(公告)日：2007-04-11

申请号：CN200580013286.6

申请日：2005-04-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 谷美幸 ,  岩本洋 ,  久角隆雄 ,  岩田进裕 ,  坂口悦美

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明，解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置，采用其结构为：设定试料的测定条件之后开始测定，并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算，且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定，从而输出此时的浓度。