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公开(公告)号：CN1909982B
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：CN200580002991.6
申请日：2005-01-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B08B7/00 , B29C63/0013 , Y10S156/924 , Y10T156/1174 , Y10T156/195 , Y10T156/1956
Abstract: 本发明提供一种能够容易地将牢固地粘贴在显示面板上的薄膜剥离的薄膜剥离装置。薄膜剥离装置具有：圆柱状的马达辊(3)，具有比构成阴极射线管的真空管(7)的表面面板(7a)的短边的长度长的有效长度，且具有自转功能；抵板(4)，紧密地配置在马达辊(3)的表面上；和铰接夹(5)，设置在马达辊(3)的有效长度的外侧，将抵板(4)压接在马达辊(3)的表面上。
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公开(公告)号：CN1947002A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200580012228.1
申请日：2005-05-23
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N33/386 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 在再循环工序中，玻璃碎片的同质性低，再循环玻璃的质量也降低。为了解决该课题，本发明在粉碎显示器之前，利用荧光X线分析器实施各衬底的玻璃组成成分分析，由此判别相同组成的玻璃，进行碎玻璃化并回收。
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公开(公告)号：CN1993614B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200580026554.8
申请日：2005-07-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种荧光X线分析方法，可以测量未知试样中含有的元素浓度，而不需要依赖于人的视觉等判别试样，或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种，(2)根据判定的试样种类，选择荧光X线分析的测量条件，(3)根据所选择的测量条件，通过荧光X线分析，测量试样中含有的一种或多种元素的浓度，由此，例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。
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公开(公告)号：CN1965228A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200580013285.1
申请日：2005-04-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 是对于放置在X射线照射室(7)上侧的试料台架(2)上的试料(1)，在自试料(1)上方关闭试料罩(6)而遮蔽围住试料(1)之后，对试料(1)的下面照射X射线而进行分析的荧光X射线分析方法，其中，在试料(1)放置在试料台架(2)上并关闭试料罩(6)的情况下，由试料罩检测机构(8)检测出试料罩(6)已关闭，就自动地从X射线源(3)照射X射线而开始进行分析。
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公开(公告)号：CN1947003A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200580013286.6
申请日：2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明，解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置，采用其结构为：设定试料的测定条件之后开始测定，并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算，且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定，从而输出此时的浓度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1909982A
公开(公告)日：2007-02-07
申请号：CN200580002991.6
申请日：2005-01-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B08B7/00 , B29C63/0013 , Y10S156/924 , Y10T156/1174 , Y10T156/195 , Y10T156/1956
Abstract: 本发明提供一种能够容易地将牢固地粘贴在显示面板上的薄膜剥离的薄膜剥离装置。薄膜剥离装置具有：圆柱状的马达辊(3)，具有比构成阴极射线管的真空管(7)的表面面板(7a)的短边的长度长的有效长度，且具有自转功能；抵板(4)，紧密地配置在马达辊(3)的表面上；和铰接夹(5)，设置在马达辊(3)的有效长度的外侧，将抵板(4)压接在马达辊(3)的表面上。
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公开(公告)号：CN1947003B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200580013286.6
申请日：2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社 , 精工电子纳米科技有限公司
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明，解决不是在作为测定时间所设定的时间后就得不到浓度的计算结果这样的现有荧光X射线分析的问题。本发明的荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置，采用其结构为：设定试料的测定条件之后开始测定，并对试料中所包含的元素的测定浓度及测定精度进行计算，且当该精度成为满足预先规定的测定条件之值时结束测定，从而输出此时的浓度。
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公开(公告)号：CN1965228B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200580013285.1
申请日：2005-04-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明是对于放置在X射线照射室(7)上侧的试料台架(2)上的试料(1)，在自试料(1)上方关闭试料罩(6)而遮蔽围住试料(1)之后，对试料(1)的下面照射X射线而进行分析的荧光X射线分析方法，其中，在试料(1)放置在试料台架(2)上并关闭试料罩(6)的情况下，由试料罩检测机构(8)检测出试料罩(6)已关闭，就自动地从X射线源(3)照射X射线而开始进行分析。
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公开(公告)号：CN100436524C
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200480027450.4
申请日：2004-09-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: C08K9/12 , C08L67/00 , C08L101/00
Abstract: 本发明提供了一种树脂组合物，其是对从生物降解性树脂和源于植物的树脂中选择的至少一种树脂、和赋予阻燃性的成分进行混炼而得到的具有阻燃性的树脂组合物。就该树脂组合物而言，可以将作为对地球环境温和的树脂的聚乳酸树脂和聚琥珀酸丁二醇酯之类的生物降解性树脂或源于植物的树脂，应用于家电产品的外装体等。特别是在使用聚乳酸的情况下，通过使用乙酰丙酮铁作为阻燃性成分，可以作为非卤素系材料提供具有出色的阻燃特性的树脂组合物。
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公开(公告)号：CN1993614A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200580026554.8
申请日：2005-07-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种荧光X线分析方法，可以测量未知试样中含有的元素浓度，而不需要依赖于人的视觉等判别试样，或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种，(2)根据判定的试样种类，选择荧光X线分析的测量条件，(3)根据所选择的测量条件，通过荧光X线分析，测量试样中含有的一种或多种元素的浓度，由此，例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。
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