设计检查系统以及设计检查方法

    公开(公告)号:CN1530863B

    公开(公告)日:2010-04-28

    申请号:CN200410002244.X

    申请日:2004-01-16

    CPC classification number: G06F17/5022 G06F17/5081

    Abstract: 本发明的目的在于提供即使在用因特网连接的环境下,不公开电路设计技术或者基板设计技术,就能够进行基板布局的电特性检查的设计检查系统,设计检查方法以及设计检查程序,在本发明中,从所输入的基板布局信息基于基板布局的影响预测的发生电特性不良的位置抽取出特征量,修正判定单元通过把该特征量与从数据库读出的对应于电特性不良的修正判定基准进行比较判定是否需要进行布局修正,由此,不向使用者公开修正判定基准或者判定方法,就能够进行电特性的检查。

    非易失性存储器装置
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1767068A

    公开(公告)日:2006-05-03

    申请号:CN200510099030.3

    申请日:2005-09-05

    CPC classification number: G11C16/20 G11C7/1015 G11C7/1045 G11C16/06

    Abstract: 本发明的目的在于,提供一种能够将初始化所需时间缩短的非易失性存储器装置。提供的非易失性存储器装置(100),具有:非易失性存储器阵列(115),其包含多个作为数据的读出单位、由多个非易失性存储器单元构成的页,其特征在于:上述页分别具有存储数据的第1区域(150)和存储控制信息的第2区域(160),并包括:从上述页中读出数据的读出装置(185、180、190);以及,将通过上述读出装置从页中读出的数据暂时存储的数据缓存(200),并在上述控制信息的读出时,上述读出装置从多页中将上述第2区域(160)地一次性读出。

    设计检查系统,设计检查方法以及设计检查程序

    公开(公告)号:CN1530863A

    公开(公告)日:2004-09-22

    申请号:CN200410002244.X

    申请日:2004-01-16

    CPC classification number: G06F17/5022 G06F17/5081

    Abstract: 本发明的目的在于提供即使在用因特网连接的环境下,不公开电路设计技术或者基板设计技术,就能够进行基板布局的电特性检查的设计检查系统,设计检查方法以及设计检查程序,在本发明中,从所输入的基板布局信息基于基板布局的影响预测的发生电特性不良的位置抽取出特征量,修正判定单元通过把该特征量与从数据库读出的对应于电特性不良的修正判定基准进行比较判定是否需要进行布局修正,由此,不向使用者公开修正判定基准或者判定方法,就能够进行电特性的检查。

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