一种复合绝缘子缺陷无损检测方法

    公开(公告)号:CN106950227A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710163598.X

    申请日:2017-03-20

    CPC classification number: G01N22/02

    Abstract: 本发明公开了一种复合绝缘子缺陷无损检测方法。该方法步骤如下:A)控制扫频微波信号源发出入射信号,被物理探头发射至待测复合绝缘子内,并产生反射信号和透射信号;接收探头收集该三个信号并传送至分析仪进行处理;B)分析仪根据该三个信号的幅值和相位,进行联合计算得到散射参数S;C)如果已经完成一次完整的扫频检测则进入D),否则调整扫频微波信号源的入射信号频率,并返回A);D)完成一次完整的扫频检测后,得到一列散射参数S,绘制频率‑散射参数S曲线;E)根据曲线的变化情况,对待测复合绝缘子的缺陷进行判定和估计。本发明能够根据复合绝缘子散射参数的变化情况,对其状态及缺陷进行精确高效的诊断。

    绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法

    公开(公告)号:CN105588789A

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201610157134.3

    申请日:2016-03-18

    Inventor: 梅红伟 王黎明

    CPC classification number: G01N15/0205 G01N15/0227

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法,包括以下步骤:判断待检的绝缘子表面的污秽量,当判断绝缘子表面的污秽量不低于预定量时,利用激光粒度仪对绝缘子表面污秽的粒径分布进行测量,当判断绝缘子表面的污秽量低于预定量时,利用电子显微镜拍摄绝缘子表面的图像,分析所述图像以对绝缘子表面污秽的粒径分布进行统计,测出绝缘子表面污秽的粒径分布。本发明弥补了现有激光粒度仪测量方法的不足,能够对污秽等级较低、积污期较短等地区的绝缘子表面污秽粒径分布进行测量和分析。

    一种材料憎水性能的测试方法及装置

    公开(公告)号:CN104568676A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201510030861.9

    申请日:2015-01-20

    Abstract: 本发明公开了一种材料憎水性能的测试方法及装置,该方法包括如下步骤:将液滴滴到材料上,将参照物置于所述被测试材料上;对所述被测试材料、以及被测试材料上的液滴和参照物进行拍照,获得图像;计算所述液滴和参照物分别在所述图像中所占的液滴像素个数N和参照物像素个数N0;计算所述液滴至所述被测试材料的实际投影面积DA:其中,S0是设定的所述参照物至所述被测试材料的实际投影面积;根据所述实际投影面积DA的大小判断所述被测试材料的憎水性能。相比于现有技术,本发明测试材料的憎水性能更加简单和准确。

    一种直流瓷绝缘子铁帽加速电腐蚀试验方法

    公开(公告)号:CN103048260B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201210587698.2

    申请日:2012-12-29

    Abstract: 本发明是一种直流瓷绝缘子铁帽加速电腐蚀试验方法。包括如下步骤:1)清洗瓷绝缘子表面污垢,放置阴凉处干燥,避免阳光直射;2)将铜片粘贴至绝缘子表面,短接绝缘子下表面和部分上表面的爬距,铜片电极与铁帽间应有一定的距离;3)将粘贴有铜片的绝缘子置于液体环境模拟室内,采用滴水法试验,水滴从绝缘子正上方滴下,在绝缘子下侧的铁帽和瓷面间隙处汇聚,形成比较集中的液体接触点;4)选取年均泄漏电荷量并以此为基础进行试验;5)解剖绝缘子铁帽发生电腐蚀部位,测量电腐蚀区域的长度、宽度、深度及腐蚀方向。本发明试验步骤严谨、实用性强,试验结果与现场绝缘子的电腐蚀情况具有较好的等效性,可广泛应用于直流瓷绝缘子铁帽电腐蚀问题的试验研究。

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