从存储器中读取配置信息的控制方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN106935266B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN201710156086.0

    申请日:2017-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种从存储器中读取配置信息的控制方法、装置和系统。其中,该方法包括:获取从存储器的第一存储区域读取到的第一存储值,以及从存储器的第二存储区域读取到的第二存储值,其中,第一存储区域为存储器中用于存储预烧值的存储区域,第二存储区域为存储器中用于存储配置信息的存储区域;判断第一存储值是否等于预烧值;如果第一存储值等于预烧值,则根据第二存储值与初始状态值确定输出的配置信息的状态值,其中,状态值用于表征配置信息是否有效。本发明解决了现有技术在从NVM(非易失存储器)中读取系统配置信息的过程中无法抵御低电压攻击的技术问题。

    一种复位检测电路和复位检测方法

    公开(公告)号:CN107463236B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN201710752467.5

    申请日:2017-08-28

    Abstract: 本发明公开了一种复位检测电路和复位检测方法,复位请求输入电路接收复位引脚输入的低电平有效的复位请求并输出所述复位请求;锁存器电路根据所述复位请求输入电路输出的复位请求通过第二反相器生成时钟电路的接通控制信号或者关断控制信号;所述时钟电路根据所述接通控制信号生成时钟信号或者根据所述关断控制信号关闭时钟信号;同步撤离电路根据所述复位请求输入电路通过第一反相器输出的复位请求控制M位计数器开始工作;所述M位计数器工作持续时间至少经过2M个时钟周期后,输出复位有效信号。通过采用该技术方案,提高了复位检测的稳定性。

    一种低功耗隔离电路及其方法、芯片

    公开(公告)号:CN109842402B

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN201711215658.4

    申请日:2017-11-28

    Abstract: 本发明涉及芯片技术领域,特别是涉及一种低功耗隔离电路及其方法、芯片。其中,该低功耗隔离电路应用于芯片,芯片包括电源门控模块与下级逻辑模块,低功耗隔离电路包括:功耗管理单元;锁存单元,在电源门控模块处于待机模式时,功耗管理单元将锁存单元切换至锁存状态,使得锁存单元锁存下级逻辑模块进入待机模式之前的数据状态;隔离单元,在锁存单元锁存下级逻辑模块进入待机模式之前的数据状态后,功耗管理单元复位隔离单元,使得隔离单元向锁存单元输出逻辑值,逻辑值未改变锁存单元的锁存状态。因此,其能够在给下级逻辑模块输出确定状态后,还可以保留与下级逻辑模块相关的输入/输出(IO)口的状态。

    一种复位电路及电子设备
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106502357B

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201610957360.X

    申请日:2016-10-27

    Inventor: 张浩亮 刘浩

    Abstract: 本发明涉及电子电路技术领域,特别是涉及一种复位电路及电子设备。其中,该复位电路包括:复位发生电路,包括第一输入端和第一输出端,用于根据时钟信号和第一复位请求信号,产生第一复位信号;同步释放电路,其和复位发生电路的第一输出端连接,根据第一复位信号和时钟信号,延时输出用于对后级电路进行复位的第二复位信号,并且复位发生电路根据第二复位信号停止输出第一复位信号;复位源标志电路,其和复位发生电路的第一输入端连接,用于根据第一复位请求信号和所述时钟信号,产生复位源标志信号,因此,调试员可以根据该复位源标志信号知悉何种复位源触发复位的,从而极大方便调试员调试产品。

    一种低功耗隔离电路及其方法、芯片

    公开(公告)号:CN109842402A

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201711215658.4

    申请日:2017-11-28

    Abstract: 本发明涉及芯片技术领域,特别是涉及一种低功耗隔离电路及其方法、芯片。其中,该低功耗隔离电路应用于芯片,芯片包括电源门控模块与下级逻辑模块,低功耗隔离电路包括:功耗管理单元;锁存单元,在电源门控模块处于待机模式时,功耗管理单元将锁存单元切换至锁存状态,使得锁存单元锁存下级逻辑模块进入待机模式之前的数据状态;隔离单元,在锁存单元锁存下级逻辑模块进入待机模式之前的数据状态后,功耗管理单元复位隔离单元,使得隔离单元向锁存单元输出逻辑值,逻辑值未改变锁存单元的锁存状态。因此,其能够在给下级逻辑模块输出确定状态后,还可以保留与下级逻辑模块相关的输入/输出(IO)口的状态。

    从存储器中读取配置信息的控制方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN106935266A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710156086.0

    申请日:2017-03-15

    CPC classification number: G11C16/26 G11C16/225 G11C16/3404

    Abstract: 本发明公开了一种从存储器中读取配置信息的控制方法、装置和系统。其中,该方法包括:获取从存储器的第一存储区域读取到的第一存储值,以及从存储器的第二存储区域读取到的第二存储值,其中,第一存储区域为存储器中用于存储预烧值的存储区域,第二存储区域为存储器中用于存储配置信息的存储区域;判断第一存储值是否等于预烧值;如果第一存储值等于预烧值,则根据第二存储值与初始状态值确定输出的配置信息的状态值,其中,状态值用于表征配置信息是否有效。本发明解决了现有技术在从NVM(非易失存储器)中读取系统配置信息的过程中无法抵御低电压攻击的技术问题。

    数据保护装置、方法以及存储控制器

    公开(公告)号:CN106599735A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201710077709.5

    申请日:2017-02-13

    CPC classification number: G06F21/79

    Abstract: 本发明公开了一种数据保护装置、方法以及存储控制器,涉及数据保护技术领域,其中的装置包括:加密单元,用于接收待写入存储模块的第一数据以及第一存储地址信息,基于第一存储地址信息和存储模块的特征信息对第一数据进行加密处理;解密单元,用于从存储模块中读取与第二存储地址信息对应的第二数据,基于第二存储地址信息和特征信息对第二数据进行解密处理。本发明的装置、方法以及存储控制器,基于存储地址和存储模块的特征信息对写数据、读数据进行加密、解密处理,能够提高存储模块中数据的安全性,当存储模块执行完擦除操作之后,读取的数据不携带解密模块信息,可以有效地提供破解难度,实现内容保护,可靠性高、适用范围广。

    识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端

    公开(公告)号:CN111314045A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201811518931.5

    申请日:2018-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端,该方法包括:获取芯片的配置信息;生成与所述配置信息对应的校验信息,并产生校验状态信号;根据所述校验信息和所述校验状态信号,检测所述芯片是否受到激光故障注入。所述装置包括:获取模块、校验位生成模块和检测验证模块。本发明的方案,根据生成的与配置信息对应的校验信息,以及校验状态信号,检测芯片是否受到激光故障注入,可以识别出芯片是否受到攻击,从而可以对芯片中的配置信息进行保护,避免造成重大损失。

    一种低功耗唤醒方法及装置

    公开(公告)号:CN109582371B

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201811311222.X

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种低功耗唤醒方法及装置,在低功耗模式下,配置芯片管脚中的输入信号,对输入信号进行信号检测,并在输入信号的电平发生变化时,确定发生变化的信号所对应的管脚,利用该管脚对芯片进行唤醒,通过对芯片的管脚进行输入信号的配置,使得芯片的所有输入输出管脚都具有低功耗唤醒的功能,从而提高芯片应用的灵活性。

    一种IC芯片测试系统和方法

    公开(公告)号:CN109324281A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201811326449.1

    申请日:2018-11-08

    Inventor: 张浩亮 谭鑫

    Abstract: 本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法,用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括:测试机台,时钟模块和控制模块;控制模块分别与时钟模块和测试机台连接;测试机台根据每种测试模式对应的信息,确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息,发送给控制模块;时钟模块用于计时;控制模块根据目标信息,确定目标测试模式对应的高、低电平的时长;根据高电平的第一时长和低电平的第二时长,时钟模块的计时时间,确定目标脉冲序列;将目标脉冲序列输出给测试机台,不同的测试模式对应的脉冲序列不同;测试机台显示目标脉冲序列,测试人员及时准确地根据目标脉冲序列确定出IC芯片当前进入的测试模式。

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