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公开(公告)号：CN101472525B
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN200780023074.5
申请日：2007-06-13
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/5282 , A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/483 , A61B6/508 , G01T1/2985
Abstract: 一种断层扫描装置(10)，包括以不同切换模式同时驱动以生成独特编码的辐射的至少两个x射线源(16)。所述断层扫描装置(10)还包括至少两个探测器(20)，每个探测器探测由所述至少两个x射线源(16)中与其对应的一个发射的原发辐射，以及来自至少两个x射线源(16)中的至少另一个的交叉散射辐射。所述至少两个探测器(20)中的每个生成表示所探测到的原发辐射和交叉散射辐射的集合信号。所述断层扫描装置(10)还包括去耦器(30)，所述去耦器根据不同切换模式，识别与所述集合信号中至少两个x射线源(16)中的至少一个对应的至少一个信号，并将所述识别的信号和与其对应的x射线源(16)相关联。
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公开(公告)号：CN102802529A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201080026949.9
申请日：2010-06-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/4092 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N23/04 , G21K1/06 , G21K2207/005
Abstract: 本发明总体上涉及用于基于光栅的X射线微分相衬成像(DPCI)的校正方法以及能够有利地应用于X射线辐射照相术和层析成像的设备，用于对要扫描的样本对象或感兴趣解剖区域进行X射线DPCI。更确切地说，提出的发明提供了一种适当方式，有助于增强采集的X射线图像的图像质量，其受到相位缠绕的影响，例如，在Talbot-Lau型干涉仪的探测器平面中，在X射线束在相移分束光栅处衍射之后，所发射的所述X射线束的所得莫尔干涉图案中。这种问题被所获得的DPCI图像中的噪声进一步加重，如果所探测X射线图像中两个相邻像素之间的相位改变超过π弧度，就会发生这种问题，其受到对象局部相位梯度上线积分的影响，这种线积分诱发2π弧度的相位偏移误差，导致平行于所述线积分方向的显著线人为噪声。
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公开(公告)号：CN102655809A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201080055839.5
申请日：2010-12-03
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/032 , A61B6/4021 , A61B6/4092 , A61B6/4291 , A61B6/484
Abstract: 本发明总体上涉及X射线图像采集技术。为X射线图像采集采用相称成像可以显著提高所采集图像的质量和信息内容。不过，仅可以在小的探测器区域中获得相称信息，对于特定X射线成像应用的充分大视场而言这可能太小。因此，提供了一种用于相称成像的设备，其可以允许采集增大的视场。根据本发明，提供了一种用于相称成像的设备（1），其包括X射线源（2）、具有探测器大小的X射线探测元件（12）、分束器光栅（8）和分析器光栅（10）。能够在所述X射线源（2）和所述X射线探测器（12）之间布置对象（6）。能够在所述X射线源（2）和所述X射线探测器（12）之间布置分束器光栅（8）和分析器光栅（10）。操作性地耦合所述X射线源（2）、所述分束器光栅（8）、所述分析器光栅（10）和所述X射线探测器元件（12），从而使得能够获得所述对象（6）的相衬图像。所述设备（1）适于采集视场大于所述探测器大小的相称图像。X射线探测器元件（12）能够位移，通过位移X射线探测器元件（12），能够获得视场的相称图像。
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公开(公告)号：CN102651998A
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN201080055835.7
申请日：2010-12-08
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/032 , A61B6/4291 , A61B6/484 , A61B6/488 , A61B6/5241
Abstract: 本发明涉及X射线微分相衬成像领域。为了扫描大的对象并且为了改善的对比噪声比，提供一种用于对对象（18）成像的X射线设备（10）。X射线设备（10）包括X射线发射器装置（12）以及X射线检测器装置（14），其中，所述X射线发射器装置（14）适于发射X射线束（16）通过对象（18）到所述X射线检测器装置（14）上。X射线束（16）是至少部分空间相干的以及扇形的。所述X射线检测器装置（14）包括相位光栅（50）及吸收体光栅（52）。X射线检测器装置（14）包括用于检测X射线的面检测器（54），其中，所述X射线设备适于从检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述X射线图像数据提取相位信息，所述相位信息与由对象（18）导致的X射线的相移相关。所述对象（18）具有大于X射线检测器（18）的检测面的感兴趣区域（32），并且所述X射线设备（10）适于通过对所述对象（18）和所述X射线检测器装置（14）相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域（32）的图像数据。
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公开(公告)号：CN101557762B
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN200780046161.2
申请日：2007-12-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置(100)，尤其是一种能谱CT扫描器，其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E，t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中，辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E，r)在对象(1)内衰减，通过探测器(20，30)的传感器单元(22)测量透射的辐射，并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器，例如，∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中，能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关，以确定能量相关的衰减系数μ(E，r)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102113060A
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200980130034.X
申请日：2009-08-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G21K1/025 , B22F3/114 , B22F7/002 , B22F2998/10 , B33Y70/00 , B33Y80/00 , Y02P10/295 , B22F3/1055
Abstract: 提出了一种用于选择性透射电磁辐射的格栅(1)和制造该格栅的方法。其中，所述格栅(1)包括具有壁(3)的结构元件，所述结构元件包括辐射吸收材料的多个颗粒(19)，其中，所述颗粒(19)烧结在一起，使得在相邻颗粒(19)之间存在孔隙(21)。所述孔隙(21)至少部分填充有第二固态材料。孔隙(21)的填充能够通过将第二材料引入孔隙中中实现，第二材料为液态的，优选地为熔融形式。第二材料本身也能够是辐射吸收的，且可以有助于提高格栅的机械稳定性并增强辐射吸收性质。
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公开(公告)号：CN101951837A
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200980105771.4
申请日：2009-02-19
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/02
CPC classification number: A61B6/025 , A61B6/027 , A61B6/4007
Abstract: 公开了用于采集成像体积的X射线图像数据的方法，该方法使用探测器和具有多个单独源元件的分布式X射线源结构，该单独源元件彼此以共同间距均匀分布，该方法包括相对于该成像体积移动该分布式X射线源结构和/或该探测器，重要的是在X射线图像数据采集期间，该分布式X射线源结构的最大移动距离dmax限于该间距的长度lp。在该移动期间，执行从该分布式X射线源结构的X射线发射，和响应于入射至该探测器上的该X射线生成多个信号。
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公开(公告)号：CN101443856A
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200680034322.1
申请日：2006-09-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G21K1/025 , A61B6/032 , A61B6/037 , A61B6/06 , A61B6/4258 , A61B6/4291
Abstract: 一种例如在CT或NM成像中采用的用于选择性吸收电磁辐射(2、3)的格栅(1)，包括：硬质泡沫材料块(4)，其中所述泡沫材料对电磁辐射(2、3)基本上是透明的；第一组辐射吸收薄片(5)；以及第二组辐射吸收薄片(6)，所述第一组和第二组薄片设置在泡沫材料块中，使得限定出了辐射透射方向(T)，所述第一组薄片和所述第二组薄片设置在彼此的相对于透射方向(T)的顶部上。这种格栅装置由于使用了载体材料所以是刚性的，可以精确制造，并且还可以制造二维格栅，而不需要在物理上交叉这些薄片。
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公开(公告)号：CN110398769B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN201910645070.5
申请日：2009-06-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(10)，包括像素(1)的阵列，其中，每个像素(1)包括用于将入射辐射转换成电信号的半导体材料(4)的转换层，并且其中，每个像素(10)被至少部分填充有阻隔材料的沟槽(3)围绕，所述阻隔材料吸收所述入射辐射生成的光子的至少一部分。本发明还涉及一种制造这种辐射探测器(10)的方法。
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公开(公告)号：CN102656644B
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201080055836.1
申请日：2010-12-03
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G21K1/06 , A61B6/484 , G21K2201/06 , G21K2207/005
Abstract: 本发明总体涉及X射线图像采集技术。采用用于X射线图像采集的相称成像可以显著提高所采集图像中的结构的可见度。然而，可能仅在小的探测器区域获得相称信息，随后的图像采集要求个体相位步进状态，以允许X射线图像的重建。因此，提供了一种用于相称的光栅装置，该光栅装置可以允许在视场扫描期间的即时相位步进。根据本发明，提供了一种用于相称成像的光栅装置（1），该光栅装置包括第一光栅元件（8）和第二光栅元件（10）。第一光栅元件（8）和第二光栅元件（10）中的每个都包括沟槽结构。沟槽结构包括至少一个沟槽区域（9）和至少一个屏障区域（3）。至少一个沟槽区域（9）和至少一个屏障区域（3）至少局部被布置为平行。第一光栅元件（8）和第二光栅元件（10）被布置成使得第一光栅元件（8）的沟槽结构与第二光栅元件（10）的沟槽结构不平行，包括角度α。
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