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公开(公告)号：CN103262124B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201180060794.5
申请日：2011-12-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/003 , G06T11/006 , G06T2211/408 , G06T2211/424
Abstract: 由成像系统（30）采集的探测值的噪声取决于感兴趣区域中将被成像的不同组分的贡献，辐射（4）穿过所述不同组分以产生分别的采集探测值。当迭代地重建所述感兴趣区域的图像时考虑这种依赖关系，其中，确定与所述感兴趣区域中的第一组分的元素相对应的第一组分衰减值，以及与所述感兴趣区域中的第二组分的元素对应的第二组分衰减值，其中，从所述第一组分衰减值和所述第二组分衰减值确定噪声值，并且其中，使用所述噪声值来更新所述图像。考虑在所述不同组分上的采集探测值的噪声的所述依赖关系改进了所述迭代地重建的图像的质量。
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公开(公告)号：CN102469975B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201080033602.7
申请日：2010-07-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·普罗克绍
CPC classification number: A61B6/405 , A61B6/032 , A61B6/4021 , A61B6/4233 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/508 , A61B6/542 , A61B6/585 , G01T1/171
Abstract: 本发明涉及一种X射线检查装置和相应的方法。在每个探测时段内执行快速和定期的X射线通量的调节，在探测时段的开始时，使X射线通量低，以确保无探测通道过载。随着X射线通量的增加，探测到特别是外围的探测器通道将进入饱和。饱和的探测器通道被停止，不再进一步辐射探测，测量未饱和的辐射探测的有效时间，用于校正那些探测信号。对从已饱和的探测通道的探测信号进行任何校正之后，根据所有的探测信号重建X射线图像。
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公开(公告)号：CN101911299B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN200880123119.0
申请日：2008-12-26
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1463 , H01L27/14659
Abstract: 为了减轻出现在半导体探测器中的电荷共享的影响，提供了一种改进的半导体探测器，其包括：布置用于形成至少一个开口的多个阳极，每个开口由多个阳极中的两个阳极形成；至少一个阴极；位于该多个阳极和该至少一个阴极之间的探测器单元；其中，该探测器单元包括至少一个沟槽，该至少一个沟槽中的每个具有第一开口，该第一开口与由多个阳极中的两个阳极形成的至少一个开口中的一个对准，至少一个沟槽中的每个朝向至少一个阴极延伸。通过在探测器单元中形成沟槽，可以通过相应阳极而不是几个相邻阳极接收由单一光子产生的电荷云，这因此改进了半导体探测器的频谱分辨率和计数速率。
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公开(公告)号：CN102098963B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN200980127987.0
申请日：2009-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·普罗克绍
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/504 , A61B5/4869 , A61B6/032 , A61B6/481 , A61B6/482 , A61B6/501 , A61B6/507 , A61K49/00 , A61M5/007
Abstract: 一种方法，包括基于调制分布图在成像过程期间同时调制对受检者施予至少两种不同的造影剂。所述至少两种不同的造影剂展现不同的谱特征。所述方法还包括：执行对指示所述至少两种不同的造影剂的数据的谱分解；基于谱重建确定所述至少两种不同的造影剂的浓度；以及基于所述浓度的比率和所述调制分布图确定灌注参数。
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公开(公告)号：CN103415253A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201180059685.1
申请日：2011-12-02
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4241 , A61B6/4291 , A61B6/488 , A61B6/544 , G21K1/10
Abstract: 一种成像系统，包括辐射源（310），所述辐射源（310）被配置为关于z轴绕检查区域旋转并且具有发射穿过所述检查区域的辐射束的焦斑。所述系统还包括具有多个探测器像素的辐射敏感探测器阵列（314），其探测穿过所述检查区域的辐射并且生成指示所探测到的辐射的投影数据。所述系统还包括动态患者后过滤器（316），所述动态患者后过滤器（316）包括一个或多个过滤器段（402、802、902、1004、1102）。所述过滤器被配置为在扫描对象或受试者期间，基于所述对象或受试者的形状，选择性地并且动态地在所述探测器阵列前方在所述探测器阵列与所述检查区域之间移动，并且移入和移出照射所述探测器像素的所述辐射束的路径，由此对未衰减的辐射和穿过所述对象或受试者的外围的辐射进行过滤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103339497A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201280007275.7
申请日：2012-01-25
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
CPC classification number: G01N23/04 , A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4042 , A61B6/4241 , A61B6/5205 , A61B6/5258 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G06T11/003
Abstract: 本发明涉及一种探测值处理设备。提供了能量相关的探测值，其指示穿过检查区域（5）之后的多色辐射（4）。辐射由包括K边缘滤波材料的滤波器（15）进行滤波。将成分分解技术应用于探测值，以确定作为指示由K边缘滤波材料导致的衰减的第一成分衰减值的K边缘衰减值，以及指示由检查区域的附加成分导致的衰减的附加成分衰减值，其中用附加成分衰减值来重建检查区域的图像。因此能够重建不受滤波器不利影响的图像，因为未将K边缘衰减值用于重建图像。这样能够改善重建图像的质量。
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公开(公告)号：CN103229212A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201180057215.1
申请日：2011-11-25
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/003 , G06T11/006 , G06T2211/424
Abstract: 一种方法包括使用迭代统计重建算法重建测量的投影数据，所述迭代统计重建算法减少由所述测量的投影数据的投影中的方差的差异造成的图像伪影，所述投影数据用于针对图像的一个或多个体素更新所述图像的体素。一种重建器包括处理器，所述处理器使用迭代统计重建算法重建测量的投影数据，所述迭代统计重建算法减少或减轻由投影中的方差的差异造成的图像伪影，所述投影用于针对图像的一个或多个体素更新所述图像的体素。一种编写有计算机可执行指令的计算机可读存储介质，所述计算机可执行指令当由计算机的处理器执行时，令所述处理器：使用迭代统计重建算法减少由投影中的方差的差异造成的图像伪影，所述投影用于针对图像的一个或多个体素更新所述图像的体素。
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公开(公告)号：CN102098963A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200980127987.0
申请日：2009-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·普罗克绍
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/504 , A61B5/4869 , A61B6/032 , A61B6/481 , A61B6/482 , A61B6/501 , A61B6/507 , A61K49/00 , A61M5/007
Abstract: 一种方法，包括基于调制分布图在成像过程期间同时调制对受检者施予至少两种不同的造影剂。所述至少两种不同的造影剂展现不同的谱特征。所述方法还包括：执行对指示所述至少两种不同的造影剂的数据的谱分解；基于谱重建确定所述至少两种不同的造影剂的浓度；以及基于所述浓度的比率和所述调制分布图确定灌注参数。
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公开(公告)号：CN101262819B
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200680033557.9
申请日：2006-09-01
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·普罗克绍
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4028 , A61B6/4291 , A61B6/5282
Abstract: 具有大探测器阵列的锥束CT扫描器受到散射辐射增加的影响。这种辐射可能导致严重的伪影。提供一种检查装置，其直接地测量散射辐射并利用这种测量结果校正污染的图像数据。利用一维抗散射格栅和具有电子焦点运动的X射线管执行所述测量。在焦点的第一位置探测图像数据且在焦点的第二位置探测散射数据。基于散射数据校正图像数据。
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公开(公告)号：CN101868183A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN200880117147.1
申请日：2008-11-14
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·普罗克绍
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4042 , A61B6/481 , A61B6/482
Abstract: 本发明涉及一种用于执行K缘成像的医学X射线检查装置(1)。所述医学X射线检查装置(1)包括成像单元(21)，其被配置为谱分解X射线吸收谱，从而将所述X射线吸收谱成像为常规X射线吸收图像(23a)以及K缘吸收图像(23b)。所述常规X射线吸收图像(23a)包括表示感兴趣对象的解剖背景的数据元素。所述K缘吸收图像(23b)包括表示在感兴趣所述目标内的K缘吸收的材料的局部强度的量化信息。所述成像单元(21)包括空间分辨率降低器，其用于降低K缘吸收图像的空间分辨率，从而使得与已知医学X射线检查装置对K缘吸收图像进行选择性成像的敏感度相比，使用根据本发明的医学X射线检查装置改善了对K缘吸收图像进行选择性成像的敏感度。
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