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公开(公告)号：CN101382499B
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN200810147596.2
申请日：2008-09-03
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: G01N15/1459
Abstract: 本发明公开了一种光照射装置、微粒分析装置以及光照射方法。光照射装置用定向光照射流道中的样本，其包括：光源，发射定向光；以及照射控制单元，用光照射流道中的样本、获得样本的位置信息、并且基于该位置信息控制定向光的照射。
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公开(公告)号：CN101382500B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200810211800.2
申请日：2008-09-03
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N2015/1445 , G01N2015/1447 , G01N2015/1452 , G01N2015/1465
Abstract: 本发明公开了一种光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置。该光照射方法使用定向光来照射流道中的样本，其包括以下步骤：当使用定向光在流道的宽度方向上执行扫描时，使用该定向光照射样本。该定向光具有小于流道的宽度的照射点。因此，可在不增加光源的输出功率的情况下，增加照射点的能量密度。
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公开(公告)号：CN101382499A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200810147596.2
申请日：2008-09-03
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: G01N15/1459
Abstract: 本发明公开了一种光照射装置、微粒分析装置以及光照射方法。光照射装置用定向光照射流道中的样本，其包括：光源，发射定向光；以及照射控制单元，用光照射流道中的样本、获得样本的位置信息、并且基于该位置信息控制定向光的照射。
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公开(公告)号：CN1741153A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200510084567.2
申请日：2005-07-27
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: G11B7/1374 , C30B15/00 , C30B29/28 , G02B1/02 , G02B3/00 , G11B2007/13727
Abstract: 本发明涉及光学透镜、聚焦透镜、光学拾取装置及光学记录和再现装置，具体地，借助于由立方晶体结构的Y3Al5O12单晶材料制成的光学透镜，提供一种在从紫外光波长到可见光波长的范围内具有高折射率和低光学吸收性能的光学透镜，并且使用这种光学透镜，提供适于近场常常光学记录和再现方法的一种光学透镜和一种聚焦透镜，及还提供一种适应光学记录介质的密度和容量增大的一种光学拾取装置和一种光学记录和再现装置。
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公开(公告)号：CN1204116A
公开(公告)日：1999-01-06
申请号：CN98109351.5
申请日：1998-05-28
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/0037 , G11B7/24079 , G11B7/24085 , G11B11/1053 , G11B11/10582 , G11B13/04 , G11B27/19 , G11B27/3027
Abstract: 一种新颖的光盘和一种光盘装置,这种光盘在具有与常规MD或MD数据的互换性的同时,还具有远大于这些光盘的容量。该光盘和该光盘装置考虑到伴随增大记录密度的歪斜限制。通过把随机码信号只记录在一个磁道上时产生的抖动设置为不大于8.4%,并且通过把同样将信号记录在两侧相邻磁道上时的抖动增大设置为不大于4.9%,来保证径向歪斜裕度不小于±0.7°,而在行走方向(周向)的歪斜裕度不小于±0.6°。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101581660B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200910136492.6
申请日：2009-05-13
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: B01L3/502715 , B01L3/5027 , B01L2200/0647 , B01L2200/087 , B01L2300/021 , B01L2300/0816 , B01L2300/0822 , B01L2300/0851 , B01L2300/0867 , B01L2300/168 , G01N21/05 , G01N2021/0346
Abstract: 本发明提供了一种通道基板，其中设置有通道，包括：多个检测部，被配置为使用光学装置来检测通道中的试样；导入部，被配置为将试样导入到通道中；以及排出部，被配置为将试样从通道中排出。检测部在通道基板的相对表面中的至少一个上具有检测部表面，检测部表面到通道的距离互不相同。通过本发明，无论光学测量装置的类型或性能如何，都可以以高精度来执行通道中的试样等的测量。
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公开(公告)号：CN101419171A
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200810171945.4
申请日：2008-10-24
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G01N15/1425 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N2015/1006 , G01N2015/1438
Abstract: 本发明公开了一种用于微粒的光学检测方法和光学检测装置，所述装置包括：光照射部，被配置为将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个上；以及光检测部，被配置为检测激光束照射的任何微粒所产生的荧光和/或散射光；所述方法包括以下步骤：将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个上；并且检测微粒产生的荧光和/或散射光；其中，激光束被形成为这样的脉冲激光束，所述脉冲激光束的脉冲强度被调节，从而使得一个激光束或者具有不同波长的两个以上的激光束用变化的强度来多次照射一个微粒。
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公开(公告)号：CN101382500A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200810211800.2
申请日：2008-09-03
Applicant: 索尼株式会社
Inventor： 篠田昌孝
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N2015/1445 , G01N2015/1447 , G01N2015/1452 , G01N2015/1465
Abstract: 本发明公开了一种光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置。该光照射方法使用定向光来照射流道中的样本，其包括以下步骤：当使用定向光在流道的宽度方向上执行扫描时，使用该定向光照射样本。该定向光具有小于流道的宽度的照射点。因此，可在不增加光源的输出功率的情况下，增加照射点的能量密度。
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公开(公告)号：CN1301015A
公开(公告)日：2001-06-27
申请号：CN00135504.X
申请日：2000-10-27
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11B11/10582 , G11B11/10515 , G11B11/10584 , Y10T428/24355 , Y10T428/24942 , Y10T428/31
Abstract: 为了在能承受使用蓝紫激光束的照射所进行的磁致超分辨率读出处理的情况下提高磁光记录介质的再生特性,这里提供一种磁光记录介质,它在其上形成有记录/再生磁性层的衬底表面上或在该衬底上所形成的绝缘体膜表面上具有0.3nm或更小的表面粗糙度。
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