公开(公告)号：CN107785034B

公开(公告)日：2020-03-27

申请号：CN201710991214.3

申请日：2014-12-26

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 前田高志 ,  久原巧己

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/82 ,  G11B5/84 ,  G11B5/48

Abstract: 本发明涉及磁盘用基板、磁盘和磁盘驱动装置。在使用DFH头进行记录、读取的磁盘中所用的圆盘状基板主表面的圆周方向上取得10～500μm波长成分的波纹度，并以50～100μm范围内的间隔从该波纹度取得斜率时，上述斜率的绝对值的平均值为0.45×10‑4以下。将该磁盘用基板用于磁盘和磁盘驱动装置。

公开(公告)号：CN102723084B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201210231202.8

申请日：2008-12-24

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 橘内浩二 ,  前田高志

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  G11B5/82

Abstract: 本发明的磁盘用玻璃基板，在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中，在各区域的表面形状中，抽取形状波长为60～500μm波段的表面形状，把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时，所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。

公开(公告)号：CN102171756B

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：CN200980138347.X

申请日：2009-09-29

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 江田伸二 ,  矶野英树 ,  前田高志 ,  土屋弘 ,  丸茂吉典

IPC: G11B5/73 ,  C03C19/00 ,  C03C23/00 ,  G01N13/16 ,  G11B5/84

CPC classification number: C03C23/009 ,  C03C19/00 ,  C03C21/008 ,  C03C23/0075 ,  C03C2204/08 ,  C09G1/02 ,  G11B5/7315 ,  G11B5/8404 ,  G11B5/8408

Abstract: 本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。

公开(公告)号：CN102723084A

公开(公告)日：2012-10-10

申请号：CN201210231202.8

申请日：2008-12-24

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 橘内浩二 ,  前田高志

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  G11B5/82

Abstract: 本发明的磁盘用玻璃基板，在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中，在各区域的表面形状中，抽取形状波长为60～500μm波段的表面形状，把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时，所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。

公开(公告)号：CN102171756A

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN200980138347.X

申请日：2009-09-29

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 江田伸二 ,  矶野英树 ,  前田高志 ,  土屋弘 ,  丸茂吉典

IPC: G11B5/73 ,  C03C19/00 ,  C03C23/00 ,  G01N13/16 ,  G11B5/84

CPC classification number: C03C23/009 ,  C03C19/00 ,  C03C21/008 ,  C03C23/0075 ,  C03C2204/08 ,  C09G1/02 ,  G11B5/7315 ,  G11B5/8404 ,  G11B5/8408

Abstract: 本发明的课题在于提供一种在算术平均粗糙度(Ra)为0.1nm附近的水平、表面存在的缺陷非常少、适合作为高记录密度磁盘用的基板的磁盘用基板及其制造方法。本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，使用原子力显微镜以2μm×2μm见方、256×256像素的分辨率测定的玻璃基板的主表面的算术平均粗糙度(Ra)为0.12nm以下，使用一边向所述玻璃基板的主表面照射波长632nm的氦氖激光，一边扫描时的入射光和反射光之间的波长差检测出的、以俯视为0.1μm～0.6μm的大小，且0.5nm～2nm的深度检测出的缺陷每24cm2不足10个。

公开(公告)号：CN101896972A

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：CN200880119945.8

申请日：2008-12-24

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 橘内浩二 ,  前田高志

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  G11B5/82

Abstract: 本发明的磁盘用玻璃基板，在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中，在各区域的表面形状中，抽取形状波长为60～500μm波段的表面形状，把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时，所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。