微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪

    公开(公告)号:CN106066205A

    公开(公告)日:2016-11-02

    申请号:CN201610355268.6

    申请日:2016-05-25

    Inventor: 敖小强 石磊 郜武

    Abstract: 本发明公开了微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪,其中,该微动机构包括主动机构和从动机构,该主动机构包括:主动弹性簧片组、主动动子、斜块和主动定子;该从动机构包括:从动弹性簧片组、镜座、从动块、从动定子以及动镜模块;主动弹性簧片组的活动端处设置有所述主动动子和斜块,所述主动弹性簧片组的固定端通过所述主动定子固定;所述从动弹性簧片组的活动端处设置有镜座,所述从动块和所述动镜模块固定在所述镜座处,所述从动弹性簧片组的固定端通过所述从动定子固定,使所述从动弹性簧片组与主动弹性簧片组在未受外力时相互垂直,且使所述从动块与所述斜块可动地接触。具有体积小、重量轻、成本低、性能稳定的多种优点。

    分光光度计
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1026820C

    公开(公告)日:1994-11-30

    申请号:CN92102290.5

    申请日:1992-03-28

    Abstract: 一种分光光度计,包括:光源切换装置,用以摆动光源反射镜来切换多个光源;滤光片选择装置;衍射光栅转动机构;以及控制器,用以利用衍射光栅转动机构的粗略原点传感器和光度计确定三个驱动机构的动作原点。控制器的工作是:使滤光片架的一端与止动件接触,从而确定滤光片运动的原点;用粗略原点传感器确定衍射光栅的大致原点;检测光度计测出最大光强时的位置,由此确定光源反射镜运动的原点和衍射光栅运动的精确原点。

    分光光度计
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1065523A

    公开(公告)日:1992-10-21

    申请号:CN92102290.5

    申请日:1992-03-28

    Abstract: 一种分光光度计,包括:光源切换装置,用以摆动光源反射镜来切换多个光源;滤光片选择装置;衍射光栅转动机构;以及控制器,用以利用衍射光栅转动机构的粗略原点传感器和光度计确定三个驱动机构的动作原点。控制器的工作是:使滤光片架的一端与止动件接触,从而确定滤光片运动的原点;用粗略原点传感器确定衍射光栅的大致原点;检测光度计测出最大光强时的位置,由此确定光源反射镜运动的原点和衍射光栅运动的精确原点。

    一种光谱模块及光谱仪
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109084896A

    公开(公告)日:2018-12-25

    申请号:CN201810844983.5

    申请日:2018-07-27

    CPC classification number: G01J3/28 G01J3/0291 G01J2003/064

    Abstract: 本发明公开了一种光谱模块,包括座体、狭缝结构、光栅结构、DMD数字微镜结构及光电转换器,狭缝结构、光栅结构、DMD数字微镜结构及光电转换器分别固定于座体,入射光经狭缝结构进入光谱模块,经光栅结构分光后,不同波长的光被分开并依次折射到DMD数字微镜结构,DMD数字微镜结构驱动不同的镜片,将对应波长的光反射至光电转换器上,光电转换器检测入射光中不同波长光的含量,通过上述设计,整个光谱模块结构简单、组装及维修拆卸方便。

    材料表面处理工艺过程中的等离子体三维信息诊断系统

    公开(公告)号:CN107421639A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710319349.5

    申请日:2017-05-05

    Inventor: 安宁 倪俊 葛胜兵

    Abstract: 本发明涉及等离子体三维诊断技术领域,具体涉及一种材料表面处理工艺过程中的等离子体三维信息诊断系统;包括计算机、第一平面反射镜、聚焦透镜、入射狭缝、第二平面反射镜、第一球面反射镜、凸面光栅、第二球面聚焦镜和面阵探测器,本发明采用平面反射镜旋转扫描采集及Offner成像光谱诊断系统相结合,通过扫描第一平面反射镜实现不同区域的等离子体信号的采集,扫描过程简单、迅速。通过Offner成像光谱诊断系统实现对所采集信息的分光、探测,最终实现对腔体内的等离子体三维信息的诊断。该系统可以在表面处理腔体外实现对腔体内部的成像信号和二维光谱信息的获取,光谱信号和成像图相对应,可为表面处理工艺过程提供在线检测手段。

    一种电控光取样系统及太赫兹时域光谱仪

    公开(公告)号:CN106289528A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610814526.2

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本发明适用于太赫兹技术领域,提供一种电控光取样系统及太赫兹时域光谱仪,其中,电控光取样系统包括第一激光模块、第二激光模块、第一分束器、第二分束器、第一光电传感器、第二光电传感器、相位探测器、加法器和函数发生器,其中,第一激光模块包括压电传感器;第一分束器通过光纤与第一激光模块连接,第二分束器通过光纤与第二激光模块连接,第一光电传感器和第二光电传感器均与相位探测器连接,相位探测器和函数发生器均与加法器连接,加法器与压电传感器连接。本发明通过采用电控光取样系统来实现时域扫描,并采用光纤取代传统的自由空间来传输光信号,提高了扫描速度、保证了光束传播的稳定性。

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