裂纹深度检测方法及装置
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112484681A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011203664.X

    申请日:2020-11-02

    Abstract: 本发明实施例提供一种裂纹深度检测方法及装置,所述方法包括:使用预设频率的激光在待测样品表面靠近裂纹的位置进行激励,获取激励点;在预设时间段内采集所述激励点处预设范围内的热图;基于所述热图获取第一路径的相位和第二路径的相位;基于所述第一路径的相位和所述第二路径的相位获取裂纹深度。通过获取待测材料激励点出的热图,并基于热图获取第一路径的相位和第二路径的相位,最后获取裂纹深度,提高了裂纹检测的精度和稳定性。

    一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法

    公开(公告)号:CN111678933A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN202010477831.3

    申请日:2020-05-29

    Abstract: 本发明公开了一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法,改变磁处理的参数之一磁场强度,对脉冲磁场放电次数相同、试样尺寸相同的20Cr2Ni4A齿轮钢试样进行微观组织观察,分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化。首先,用EBSD测试材料的晶粒组织变化,并分析晶粒组织变化原因。然后,利用EDS对试样进行测试,通过能谱分析图进行材料的元素种类和含量的分析。最后,分析不同场强下的材料晶粒组织和元素种类含量的变化原因。本方案通过分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化,为以后较为复杂的20Cr2Ni4A齿轮钢零件进行磁场处理的性能奠定了基础。

    一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法

    公开(公告)号:CN116908534A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202310630682.3

    申请日:2023-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法,属于电容测量技术领域,电容测量和筛选系统包括:介质基板、第一微带线、第二微带线、谐振环和测量仪器。第一微带线、第二微带线和谐振环均设置于介质基板上,第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧;第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合,第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合;在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口,第一开口用于安装第一电容,第二开口用于安装第二电容;测量仪器可获取谐振环的谐振频率。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选,适用范围广。

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