公开(公告)号：CN1949022A

公开(公告)日：2007-04-18

申请号：CN200610132166.4

申请日：2006-10-12

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 加藤学

IPC: G02B26/12 ,  G03G15/00

CPC classification number: G02B26/127 ,  G02B26/125 ,  H04N1/40056

Abstract: 本发明公开一种光学扫描装置，包括光源和用于执行光源的光功率控制的结构，该结构包括建立主扫描平面中偏转单元的偏转表面与光功率检测器的光接收表面之间的光学共轭关系的光功率检测光学单元。因此，光功率检测光学单元上光束的存储时间增加，并且因由光源产生的热量和环境变化而引起的由光源发射的光功率的变化精确地检测。

公开(公告)号：CN1834724A

公开(公告)日：2006-09-20

申请号：CN200610059219.4

申请日：2006-03-15

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 加藤学

IPC: G02B26/10 ,  G03G15/00

CPC classification number: G02B26/123 ,  G02B26/124 ,  G02B26/125

Abstract: 一种扫描光学装置，包括入射光学系统，其使得从在同一基片上包括多个发光部件的光源元件发射的多个光束，在正交于主扫描截面的一个平面中以不同角度撞击到光偏转器的同一偏转面上，并被偏转，以在多个不同感光扫描面上形成潜像，从而实现一种尺寸小且廉价的扫描光学装置及成像设备。

公开(公告)号：CN1252508C

公开(公告)日：2006-04-19

申请号：CN02142203.6

申请日：2002-08-23

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 加藤学 ,  佐藤浩 ,  下村秀和 ,  石原圭一郎

IPC: G02B26/10 ,  G02B13/18 ,  G02B3/06

CPC classification number: G02B13/0005 ,  G02B26/125

Abstract: 本发明公开了一种扫描光学器件以及使用该器件的成像设备，其中该扫描光学器件包括由单透镜提供的扫描光学元件。关于在光轴上沿着副扫描方向具有较大折射能力的单透镜的两个光学表面中的预定一个，确定该单透镜的光学表面的形状以满足下式：0.9φm/φp≤φmx/φpx≤1.1φm/φp其中φp为单透镜在光轴上沿着副扫描方向的折射能力，φm为单透镜在最离轴处沿着副扫描方向的折射能力，φpx为在光轴上沿着副扫描方向在单透镜的预定光学表面处的折射能力，φmx为在最离轴处沿着副扫描方向在单透镜的预定光学表面处的折射能力。

公开(公告)号：CN1117140A

公开(公告)日：1996-02-21

申请号：CN95104386.2

申请日：1995-04-10

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 加藤学

IPC: G02B26/10

CPC classification number: G02B26/124 ,  G02B26/127

Abstract: 一种光扫描设备，包括：一个光源部分，一个反射来自光源部分的光束的反射体，一个将来自光源部分的光束转变成几乎是平行的光束的第一光学元件，一个将几乎是平行的光束在反射体的一个反射/偏转面上聚焦成线性图像的第二光学元件，一个将反射体反射的光束会聚在预定表面的第三光学元件，一个检测反射体反射的光束的检测装置，以及一个把反射体反射的光束引向检测装置的第四光学元件，其中第四光学元件和第二光学元件是整体式形成的。