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公开(公告)号：CN115097538A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110769688.X
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种射线扫描设备及射线扫描系统。本发明的用于行李输送系统的射线扫描设备包括传送装置，其运送被检测物体通过射线扫描设备的扫描区域；和多个扫描级，其分别布置在被检测物体的输送方向的多个扫描平面上，每个扫描级包括相对布置的射线源模块和探测器组，并且射线源模块包括发射射线束的多个源点，其中，多个扫描级的射线源模块分别布置在所述扫描区域的下方、左方和右方。
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公开(公告)号：CN111736235B
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN201910226555.0
申请日：2019-03-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V13/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种CT设备的几何参数标定件及标定方法，该几何参数标定件包括至少一个标定单元，每个所述标定单元均包括多根标定丝，所述多根标定丝在同一平面内呈规则排布。该几何参数标定件易于加工，并能够标定CT设备的几何参数，且所述标定操作简单易实施。
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公开(公告)号：CN117796827A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202211177863.7
申请日：2022-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: A61B6/03
Abstract: 本公开提供了一种用于成像设备的标定方法，可以应用于安检技术领域和医疗诊断领域，该方法包括：根据成像设备的辐射源的靶点理论位置、探测器的探测理论位置、以及标定模体的模体位置，计算第一理论交线；基于第一理论交线、辐射源发射的射线在标定模体中的衰减系数以及成像设备中辐射源的射线能谱分布，确定针对标定模体的第一探测投影信息；以及利用第一探测投影信息、以及成像设备扫描标定模体得到的第二探测投影信息之间的差异信息，调整成像设备的参数，以便对成像设备进行标定，得到标定后的目标参数。本公开还提供了一种成像设备标定装置、成像设备。
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公开(公告)号：CN115097537A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110769674.8
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本申请涉及一种射线扫描设备，其包括：传送装置，其运送被检测物体通过射线扫描设备的扫描区域；射线源，其包括多个射线源模块，每个射线源模块包括发射射线束的至少一个射线源点，多个射线源模块在传送装置上方围绕扫描区域布置并固定在垂直于被检测物体的输送方向的平面内；和探测器，其用于检测在扫描期间传输通过被检测物体的射线并包括多个探测器组，多个探测器组的端部相互连接以围绕扫描区域布置，并且多个探测器组固定在垂直于被检测物体的输送方向的平面内，探测器沿被检测物体的输送方向的垂直方向位于射线源和扫描区域之间，射线源和探测器布置成沿被检测物体的输送方向至少部分重叠，多个射线源模块可相互独立地拆卸和安装。
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公开(公告)号：CN111736235A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201910226555.0
申请日：2019-03-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V13/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种CT设备的几何参数标定件及标定方法，该几何参数标定件包括至少一个标定单元，每个所述标定单元均包括多根标定丝，所述多根标定丝在同一平面内呈规则排布。该几何参数标定件易于加工，并能够标定CT设备的几何参数，且所述标定操作简单易实施。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN117825417A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311864035.5
申请日：2023-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法，包括：通过探测器采集经过几何标定模体的射线，以获得探测器数据，其中，探测器数据包括射线经过几何标定模体后在探测器上的实际投影位置；获取初始的射线源参数和初始的探测器参数；根据初始的射线源参数、初始的探测器参数以及几何标定模体相对于射线源和探测器的位置关系，通过几何计算获得几何标定模体在探测器上的理论投影位置；构建实际投影位置和理论投影位置之间的偏差关于射线源参数和探测器参数的优化函数；根据优化函数，将偏差取值最小值时对应的射线源参数和探测器参数确定为优化的射线源参数和优化的探测器参数，将优化的射线源参数和优化的探测器参数确定为几何标定参数。
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公开(公告)号：CN115113288A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202110769692.6
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本申请的实施例提供了一种射线扫描设备，其包括：传送装置，其运送被检测物体通过射线扫描设备的扫描区域；射线源，其包括多个射线源模块，每个射线源模块包括发射射线束的至少一个射线源点，多个射线源模块以在扫描区域的左侧或右侧开口的非封闭结构围绕扫描区域布置，并且固定在垂直于被检测物体的输送方向的平面内；以及探测器，其用于检测在扫描期间传输通过被检测物体的射线并且包括多个探测器组，多个探测器组的端部相互连接以围绕扫描区域布置，并且多个探测器组固定在垂直于被检测物体的输送方向的平面内，其中，探测器沿被检测物体的输送方向的垂直方向位于射线源和扫描区域之间，射线源和探测器布置成沿被检测物体的输送方向至少部分重叠，并且多个射线源模块可相互独立地拆卸和安装。
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公开(公告)号：CN115096922A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110770212.8
申请日：2021-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046
Abstract: 本申请涉及一种射线扫描设备，其包括传送装置，其运送被检测物体通过射线扫描设备的扫描区域；射线源，其包括多个射线源模块，每个射线源模块包括至少一个射线源点，沿被检测物体的输送方向观察，多个射线源模块以在扫描区域的一侧开口的非封闭结构围绕扫描区域布置；和探测器，用于检测在扫描期间传输通过被检测物体的射线并包括多个探测器组，多个探测器组的端部相互连接并且以在扫描区域的一侧开口的非封闭结构围绕扫描区域布置，射线源的非封闭结构的开口和探测器的非封闭结构的开口相对设置，探测器的多个探测器组固定在垂直于被检测物体的输送方向的同一平面内，射线源的多个射线源模块布置在垂直于被检测物体的输送方向的多个不同平面内。
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公开(公告)号：CN209514098U
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201920381093.5
申请日：2019-03-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V13/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种CT设备的几何参数标定件，该几何参数标定件包括至少一个标定单元，每个所述标定单元均包括多根标定丝，所述多根标定丝在同一平面内呈规则排布。该几何参数标定件易于加工，并能够标定CT设备的几何参数，且所述标定操作简单易实施。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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