一种适用于陶瓷电容弯曲载荷试验系统及测试方法

    公开(公告)号:CN116754163B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202310698171.5

    申请日:2023-06-13

    Abstract: 一种适用于陶瓷电容弯曲载荷试验系统及测试方法,属于陶瓷电容技术领域。包括:振动模块,负责为被测样品提供设定的模拟载荷环境;上位机,负责设置样品数量、测试需求的应变载荷、测试周期、采样频率、失效阈值参数,测量模块,用于在试验过程中监测被测样品的电容值参数变化,并发送给控制模块,最终送达至上位机完成试验过程中的数据记录;本发明通过三点弯曲式载荷为陶瓷电容提供给定频率与载荷的弯曲应变,实现可控载荷、可控频率与数据检测的陶瓷电容结构失效测试。本发明通过系统控制与应变片检测,实现将传统的等效曲率转换为样品实际受到的弯曲应变,能够避免板弯试验中的变形不均匀引发的试验误差。

    一种适用于触点熔焊力测试的试验系统及方法

    公开(公告)号:CN110274827B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN201910651105.6

    申请日:2019-07-18

    Abstract: 本发明公开了一种适用于触点熔焊力测试的试验系统及方法,所述试验系统包括电动滑台、动触点弹簧座、动软连接、传感器绝缘子、静触点夹具、力传感器,其中:所述电动滑台上安装有动触点弹簧座,电动滑台带动动触点弹簧座进行上、下方向的运动;所述动触点弹簧座的正下方设置有静触点夹具;所述动触点弹簧座和静触点夹具上设置有动软连接;所述静触点夹具的下端安装有传感器绝缘子;所述力传感器通过传感器绝缘子与静触点夹具相连接。相较于目前在开关电器研发过程中的熔焊力测试方法,本发明能够降低试验成本与试验周期,且实验结果更加清晰直观,便于开关电器设计人员及时评价相关设计方案的优劣,进而提高研发效率。

    一种基于Kriging的框架断路器稳健性参数设计方法

    公开(公告)号:CN108268744B

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN201810146871.2

    申请日:2018-02-12

    Abstract: 一种基于Kriging的框架断路器稳健性参数设计方法,属于断路器产品设计技术领域。本发明是为了解决目前参数设计方法无法确定全局最优解、无法消除因素交互性影响方案稳健性的问题,方法具体如下:一、确定可控因素、误差因素与正交试验方案;二、进行信噪比、灵敏度显著性分析,确定稳定因素;三、进行交互性分析,确定调整因素;四、建立稳定因素的Kriging模型及稳健性优化目标函数,确定稳定因素最优解;五、建立调整因素多项式模型及偏移量补偿目标函数,确定调整因素最优解。本发明通过对参数进行解耦,确定出调整因素,再利用调整因素对输出特性的偏离量进行补偿,从而实现在不影响稳定因素的稳健性最优的情况下将输出特性调整至目标值。

    一种适用于断路器内轴类零件疲劳寿命测试的试验系统

    公开(公告)号:CN109211560B

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN201811296492.8

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明公开了一种适用于断路器内轴类零件疲劳寿命测试的试验系统,所述试验系统包括载荷源、测试冲头、零件夹具、力传感器、独立导柱、储能压簧、测试结构框架、控制电气盒,其中:载荷源用于提供恒定位移;力传感器用于检测被测试的轴类零件受到的载荷值;控制电气盒用于控制载荷源的动作;测试冲头夹持在载荷源上,被测试的轴类零件固定在零件夹具上,轴类零件的上方设置有测试冲头,轴类零件的下端通过力传感器与独立导柱连接,储能压簧位于独立导柱内,零件夹具、力传感器、独立导柱和储能压簧被限制于测试结构框架内。该系统可以对断路器内某一单独的轴类零件进行疲劳寿命测试,能够在一定周期内对目标零件提供恒定、接近真实工况的载荷。

    一种基于多维设计参数的继电器寿命预测方法

    公开(公告)号:CN110795863A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201911102421.4

    申请日:2019-11-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于多维设计参数的继电器寿命预测方法,所述方法首先分析继电器产品的工作原理,通过控制变量法获得不同设计参数条件下的继电器寿命实验数据;然后,分析确定影响继电器寿命的敏感设计参数;在进行寿命实验的过程中,采集继电器工作数据,确定表征继电器寿命的特征参数;建立回归设计矩阵,将继电器寿命特征参数作为观察向量,求取参数向量,获得特征参数关于设计参数的数学模型;将特征参数变化率作为观察向量,拟合求取特征参数变化率关于设计参数的数学模型;最后,结合上述两个模型获得寿命预测模型。本发明能够通过建模确定继电器寿命与其多维设计参数之间的关系,可以指导继电器设计以进一步提升继电器寿命。

    一种适用于断路器内轴类零件疲劳寿命测试的试验系统

    公开(公告)号:CN109211560A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201811296492.8

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明公开了一种适用于断路器内轴类零件疲劳寿命测试的试验系统,所述试验系统包括载荷源、测试冲头、零件夹具、力传感器、独立导柱、储能压簧、测试结构框架、控制电气盒,其中:载荷源用于提供恒定位移;力传感器用于检测被测试的轴类零件受到的载荷值;控制电气盒用于控制载荷源的动作;测试冲头夹持在载荷源上,被测试的轴类零件固定在零件夹具上,轴类零件的上方设置有测试冲头,轴类零件的下端通过力传感器与独立导柱连接,储能压簧位于独立导柱内,零件夹具、力传感器、独立导柱和储能压簧被限制于测试结构框架内。该系统可以对断路器内某一单独的轴类零件进行疲劳寿命测试,能够在一定周期内对目标零件提供恒定、接近真实工况的载荷。

    一种四断点接触器中的接触机构

    公开(公告)号:CN108922827A

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201810836542.0

    申请日:2018-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种四断点接触器中的接触机构,包括:动触头结构,包括第一动触头、第二动触头、一个动触头支架、两个超程弹簧、三个卡簧、两个导杆和一个连杆,动触头支架通过其中一个卡簧套设在连杆的顶部并具有第一端和第二端,两个导杆分别竖直设置于动触头支架的第一端和第二端;静触头结构,包括第一静触头、第二静触头、第三静触头、第四静触头、一个导电板和一个陶瓷座,陶瓷座上设有四个镂空孔,第一静触头、第二静触头、第三静触头和第四静触头的底部均设有一个静触点并分别通过一个镂空孔而露出,第一静触头和第二静触头的顶部通过导电板连接;灭弧结构,包括四块永磁体和两个永磁压板,两个永磁压板均呈凵形并围设在陶瓷座的四周。

    一种电磁继电器结构
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108565181A

    公开(公告)日:2018-09-21

    申请号:CN201810602549.6

    申请日:2018-06-12

    CPC classification number: H01H50/645

    Abstract: 本发明公开了一种电磁继电器结构,所述电磁继电器结构包括电磁继电器本体和挡板,所述挡板从电磁继电器外壳向电磁继电器内部伸出挡在动簧片与静簧片之间;电磁继电器吸合时,动簧片与静簧片均不与挡板接触;电磁继电器释放时,静簧片回弹超出初始位置时,挡板会抑制静簧片向动簧片运动,即静簧片处于初始位置和吸合位置之间,不会运动到靠近动簧片一侧;电磁继电器处于释放状态下,动簧片与静簧片均不与挡板接触。本发明在不改变继电器原有的性能参数的条件下,有效地加大了释放时动簧片与静簧片触点间的距离,缩短了电弧燃烧时间,杜绝了电弧重燃现象,减弱了触点的烧蚀情况,延长了继电器的电寿命。

    一种基于分光成像法的电弧瞬态温度场测试系统

    公开(公告)号:CN105973498A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201610444107.4

    申请日:2016-06-20

    CPC classification number: G01K11/00

    Abstract: 一种基于分光成像法的电弧瞬态温度场测试系统,属于电弧温度场测试领域。它解决了现有的电弧温度场测试方法不适用于测试开关电器分断电弧的温度场或者获得的温度场准确度低的问题。物镜用于放大电弧光,双面反光棱镜的两个侧面均为反射面,经物镜出射的一部分电弧光经过双面反光棱镜的一个反射面的反射、第一平面反光镜的反射和第一窄带滤光片的透射后,入射至感光元件的一部分感光面,经物镜出射的另一部分电弧光经过双面反光棱镜的另一个反射面的反射、第二平面反光镜的反射和第二窄带滤光片的透射后,入射至感光元件的另一部分感光面,入射至感光元件的两束电弧光的光程相同,感光元件与计算机连接。本发明适用于测试电弧瞬态温度场。

    基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法

    公开(公告)号:CN103218503B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201310177917.4

    申请日:2013-05-14

    Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法,属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对释放时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对释放时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合;然后根据该N组参数组合获得N组释放时间特性参数;进而获得释放时间参数的分布特性;最后根据该分布特性和接触器的释放时间设计参数利用Simpson法则获得接触器释放时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器释放时间的合格率进行预测分析,进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

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