公开(公告)号：CN1790986A

公开(公告)日：2006-06-21

申请号：CN200510123351.2

申请日：2005-11-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 佐藤友哉 ,  藤原睦 ,  盐见谦太郎 ,  根本祐辅 ,  鸟崎唯之 ,  清水和也 ,  井上信治 ,  藤村一哉 ,  越智诚

IPC: H04L9/32 ,  G06F1/00 ,  G06F21/00

Abstract: 本发明提供一种在使多个内容密钥与作为1个主干的域密钥相对应并存储在可由用户访问的区域内的机密信息处理系统中，处理量小的内容密钥的窜改检验方法。将与同一个域密钥对应的每个内容密钥的散列值以散列表的形式存储在普通区域内，并将作为域密钥的散列值的散列表的散列值存储在保护区域内。或者，通过将检验用数据埋入到内容密钥内而检验内容密钥的窜改，并且，将与同一个域密钥对应的检验用数据连接在一起并将连接后的散列值作为域密钥的散列值存储在保护区域内。

公开(公告)号：CN1532713A

公开(公告)日：2004-09-29

申请号：CN200410028788.3

申请日：2004-03-18

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 永田太一 ,  根本祐辅

IPC: G06F12/14

CPC classification number: G06F12/1433

Abstract: 本发明提供一种非易失性存储器的存取控制系统，按照在引导ROM中存储的系统初始化用程序，CPU在非易失性存储器(6)上设置禁止改写区域，并且根据在该禁止改写区域上设置的已写入标志(F)，存取控制电路可以进行允许改写或禁止改写的控制。由此，能使系统的制作者自由写入需要防止窜改的信息，并且能可靠防止该信息被窜改。

公开(公告)号：CN1495620A

公开(公告)日：2004-05-12

申请号：CN03155346.X

申请日：2003-08-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 藤原睦 ,  根本祐辅 ,  安井纯一 ,  前田卓治 ,  伊藤孝幸 ,  山田泰司 ,  井上信治

IPC: G06F12/14

CPC classification number: G06F21/72 ,  G06F9/4401 ,  G06F21/123 ,  G06F21/85 ,  G06F2221/2105

Abstract: 本发明的目的，在于：提供一种安全性级别很高的半导体器件。机密LSI1，拥有：对程序加密的加密部分2，及用以在它和外部存储器100之间输出入程序、数据的外部接口50。在加密部分2中，针对由密钥生成/更新定序器30判断出的不允许执行的顺序禁止秘密秘钥运算处理20的操作。在外部接口50中，程序处理部分51和数据处理部分55是相互独立的。

公开(公告)号：CN1409395A

公开(公告)日：2003-04-09

申请号：CN02142492.6

申请日：2002-09-20

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 藤原睦 ,  根本祐辅

IPC: H01L27/00 ,  H01L23/58

CPC classification number: H04L9/0822 ,  H04L9/0897

Abstract: 本发明是在密钥安装系统中以提高密钥的机密性和秘匿性为目的。在本发明的密钥安装系统中，复原电路12利用被加密密钥EDK1(MK1)作为密钥解密被加密密钥EKY1(EDK1(MK1))，复原电路13利用复原电路12的输出作为密钥解密被加密密钥EMK1(KEY1)。复原电路14利用复原电路13的输出即内部密钥MK1作为密钥解密被加密密钥EDK1(MK1)，而生成最后密钥DK1。即，安装在存储部1a和LSI10的密钥全部为加密的密钥，并在LSI10中生成最后密钥DK1。