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公开(公告)号:CN106875887B
公开(公告)日:2019-04-05
申请号:CN201610969944.9
申请日:2016-10-26
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G09G3/3208 , G09G3/3233 , G03G15/00
Abstract: 提供防止TFT的Vsdd‑Id特性和OLED的正向电压Vel的分散引起的光量分散的发光装置、光写入装置以及图像形成装置。在向在TFT的漏极端子上连接了OLED的串联电路施加规定电压而使其发光的装置中,在每次使OLED发光时,估计用于使其以设定光量发光的OLED的正向电压Vel及驱动电流量Id、以及TFT的源极‑漏极电压Vsd,根据TFT的Vsd‑Id特性,决定与驱动电流量Id和源极‑漏极电压Vsd对应的TFT的栅极‑源极电压Vgs。将这样决定的栅极‑源极电压Vgs施加给TFT,能够防止非饱和区域中的Vsd‑Id特性引起的OLED的光量的分散。
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公开(公告)号:CN104932222B
公开(公告)日:2017-08-11
申请号:CN201510122662.0
申请日:2015-03-19
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/04 , G03G15/043
CPC classification number: B41J2/47 , B41J2/451 , B41J2002/453
Abstract: 本发明涉及光写入装置以及图像形成装置,能够抑制因电源线的电位下降引起的各发光元件的发光量的偏差。在具有OLED(101)、驱动电路(102)、电源切换开关(104)、保持元件(106)的发光部(100-1)中,在将信号线(94)上传送的亮度信号(SG1)写入保持元件(106)的采样期间,通过电源切换开关(104)将来自与对OLED(101)供给电流的电源线(91)不同的电源线(99)的电压供给至保持元件(106),在采样期间结束后的保持期间,通过电源切换开关(104)切换成将来自电源线(91)的电压供给至保持元件(106)。
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公开(公告)号:CN106886137A
公开(公告)日:2017-06-23
申请号:CN201611142626.1
申请日:2016-12-13
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/04
CPC classification number: G03G15/043 , G03G15/04054 , G03G15/04045
Abstract: 提供光写入装置以及图像形成装置,不会导致使用了LTPS TFT的OLED‑PH的大型化、成本上升,能够降低OLED的连续发光所引起的副扫描方向的浓度不均。图像形成装置的控制部针对图像数据的各行,按照每个OLED计时连续发光时间,计时累计发光时间,根据累计发光时间计算劣化度。进而,读出环境温度,取得目标光量,生成与连续发光时间、劣化度、环境温度以及目标光量对应的光量数据。在此,为了防止下垂现象所致的浓度不均,以连续发光时间越长,驱动电流量越多的方式,生成光量数据。依照从控制部接受的图像数据以及光量数据,光写入装置对感光体鼓的外周面进行曝光。
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公开(公告)号:CN104553309A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410528315.3
申请日:2014-10-09
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
CPC classification number: G03G15/043 , B41J2/45 , G01K7/01 , G01K7/42 , G06K15/027 , G06K15/1247
Abstract: 本发明提供能够准确地求出光检测器的温度的光写入装置、图像形成装置以及温度计算方法。光写入装置的特征在于,具备:多个发光点;光电二极管,其输出表示来自上述多个发光点中规定发光点的入射光量的信号;以及计算单元,其基于上述规定发光点未点亮的状态下上述光电二极管所输出的信号中包含的光电二极管暗电流的大小,来求出该光电二极管的温度。
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公开(公告)号:CN104049493A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201410092839.2
申请日:2014-03-13
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G03G15/043 , G03G15/00
CPC classification number: G03G15/043 , G03G15/04054
Abstract: 提供一种光写入装置以及图像形成装置。在光写入装置中,抑制在副扫描方向上基板的尺寸扩大,此外提高受光元件的受光效率。光写入装置用于将基于图像数据而调制的光照射到感光体上从而在该感光体上形成静电潜影,所述光写入装置具有:基板;发光元件阵列,由在所述基板上在主扫描方向(Y)上排列的多个发光元件(A1~An)构成;以及受光元件阵列,由在所述基板上与发光元件大致平行地在主扫描方向(Y)上排列的多个受光元件(B1~Bn)构成。针对一个发光元件(A1)的光量检测,至少利用在与该发光元件的主扫描方向(Y)的中心位置不同的位置具有中心位置的受光元件(B1)的输出值。
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