公开(公告)号：CN107112255A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580059150.2

申请日：2015-08-28

Applicant: 奥罗拉太阳能科技(加拿大)公司

Inventor： 斯蒂芬·沃伦·布莱恩

IPC: H01L21/66 ,  G01J3/433 ,  H01L31/18 ,  H01L33/00

CPC classification number: G01N21/9501 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/433 ,  G01N21/55 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/065 ,  H01L22/12 ,  H01L31/18

Abstract: 一种通过以下来非接触地测量半导体材料的掺杂物含量的系统和方法：将离开材料的红外(IR)辐射反射到积分球中以散射所接收的辐射，并使部分的辐射穿过不同波长范围的带通滤波器，比较穿过每个滤波器的能级，并且通过参照由用于该系统的已知晶圆掺杂物含量制成的相关曲线来计算掺杂物含量。

公开(公告)号：CN103575508B

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201310030361.6

申请日：2013-01-25

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明 ,  白岩久志

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/04

CPC classification number: G02B17/00 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0425 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4252 ,  G02B5/08

Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。

公开(公告)号：CN106461463A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580025951.7

申请日：2015-04-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 江浦茂 ,  铃木健吾 ,  池村贤一郎 ,  井口和也

IPC: G01J3/443 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/12753

Abstract: 光测量装置向配置有试样的积分球内输入激发光，使激发光以规定的光束截面照射至试样，并利用光检测器检测来自积分球的测量光而取得试样的强度数据。光测量装置包括：存储部，其存储有修正数据；及光特性计算部，其基于试样的强度数据及修正数据，计算出试样的光特性。修正数据基于对第1光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第1修正用强度数据、以及对第2光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第2修正用强度数据而计算出。规定的光束截面被第1光吸收构件覆盖并且覆盖第2光吸收构件。

公开(公告)号：CN105683724A

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN201480051990.X

申请日：2014-09-18

Applicant: 欧莱雅公司 ,  光谱传感器有限公司

Inventor： 克洛伊·A·勒让德 ,  盖芙·巴洛赫 ,  克里斯多夫·A·罗格 ,  沃尔特·W·斯隆 ,  帕雷什·帕特尔 ,  艾伦·R·劳德米尔克

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/46 ,  A45D44/00 ,  A61B5/00

CPC classification number: A45D44/005 ,  A61B5/0022 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/1032 ,  A61B5/7264 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/463 ,  G01J3/465 ,  G01J3/524 ,  G01J2003/466 ,  G01N21/255 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/125 ,  G01N2201/127 ,  G06F19/00 ,  G16H40/67

Abstract: 本发明公开了一种颜色分类系统和方法。所述方法包括以下步骤：通过使用颜色或者光谱测量装置对表面的颜色进行至少一次颜色或者光谱测量，将所述至少一次颜色或者光谱测量映射到多维特征空间，以及通过使用至少一个分类器来将所述映射的至少一次光谱测量分类为颜色类别。

公开(公告)号：CN103323405B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201310211688.3

申请日：2009-09-24

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/01 ,  G01N21/15 ,  G01N21/47 ,  G01N21/64 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01N21/15 ,  G01J1/04 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/255 ,  G01N21/474 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/158 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6471 ,  G01N2021/6484 ,  G01N2201/065 ,  G01N2201/0833

Abstract: 本发明提供的一种光谱测定装置，具备将测定对象的试料（S）配置在内部而观测从试料（S）产生的被测定光的积分球（20），以及用于保持对试料（S）进行冷却的冷媒（R），并且以至少一部分面对所述积分球（20）内的方式定位的杜瓦瓶（50）。通过起到气体导入通路作用的规定间隙（G1～G6）和在支撑台（61）形成的多个连通路（64），将从冷媒（R）产生的气体导入到积分球（20）内。导入到积分球（20）内的气体吸收积分球（20）内的水分并降低积分球（20）内的温度，防止在杜瓦瓶（50）的第2容器部（50b）中的从积分球（20）内露出的部分出现结露。由此，即使在对冷却到所需温度的状态的试料（S）进行测定的情况下，也可以防止结露的出现。

公开(公告)号：CN102959370B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201180031682.7

申请日：2011-07-18

Applicant: 韩国标准科学研究院

Inventor： 朴盛钟 ,  李东勋 ,  朴承男

IPC: G01J1/02 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0474 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/465 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2003/1213

Abstract: 本发明提供积分球光度计及其测量方法。该积分球光度计包括：多个光检测器；积分球，具有对应于所述光检测器而形成的贯通孔；遮光膜，位于所述光检测器前侧的积分球内部，与所述光检测器相间隔；光度计，安置于所述贯通孔中；调节部，用于调节所述光检测器的输出信号使其与相对于安置在所述积分球内的中心区域的标准光源照射的光具有相同的输出信号。

公开(公告)号：CN102192832B

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：CN201110043621.4

申请日：2011-02-23

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大泽祥宏 ,  大久保和明

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/04 ,  G02B27/09

CPC classification number: G01J3/0254 ,  G01J1/58 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(100、200、300)，其包括：内壁上具有漫反射层(1a)的半球部(1)；通过半球部的实际的曲率中心，且配置为封闭半球部的开口部的、在半球部的内表面侧具有反射层的平面部(10)。平面部包括：用于将要在形成于半球部与平面部之间的积分空间内均匀化的光导入该积分空间内的窗(2、4、17)和用于抽出在积分空间内被均匀化了的光的窗(6、18)中的至少一种窗；自平面部与半球部的内壁相接触的最外周起至少占有规定宽度的区域的、由主要产生正反射的第1材质构成的外周部(12)；由与第1材质相比至少在紫外波长区域具有更高的反射率且主要产生漫反射的第2材质构成的、占有外周部的内侧的区域的内周部(14)。

公开(公告)号：CN102265132B

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN200980152415.8

申请日：2009-09-24

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/63

CPC classification number: G01N21/0332 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/255 ,  G01N21/645 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明的光谱测定装置(1A)具备用于观测从测定对象试料(S)发出的被测定光的积分球(20)、以覆盖试料(S)的形式保持用于调节试料(S)温度的介质(R)，并且以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位的杜瓦瓶(50)。通过使用以覆盖试料(S)的形式保持介质(R)的杜瓦瓶(50)，从而就能够简便地将试料(S)调节至所希望的温度。通过以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位，从而就能够抑制来自于积分球(20)外部环境的对试料(S)的影响，并由介质(R)来调节试料(S)的温度。因此，就能够有效地将试料(S)调节至所希望的温度。

公开(公告)号：CN102428355A

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：CN201080019138.6

申请日：2010-04-29

Applicant: 夏特股份公司

Inventor： J·加斯科尔 ,  M·科斯纳 ,  K·R·哈密尔

IPC: G01J3/02 ,  G01J1/04 ,  G01N21/47 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J1/04 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0254 ,  G01N21/474 ,  G01N21/8983 ,  G01N21/95607

Abstract: 通过比较可选片段在至少两个样本之间进行外观比较的一种改进方法以及一种改进的装置，具有以下特征：-利用散射光照亮具有非均一结构和/或者非均一颜色特征的待检样本(UR，LE，I)；-利用分光计(23)从待检样本(UR，LE，I)所反射的光产生干涉光谱；-将分光计(23)产生的干涉光谱成像在摄像机(25，25′)上；-将所获得的干涉光谱和/或者据此得出的待检样本(I)的值作为样本值与参考样本(UR，LE)的相应样本值进行比较。

公开(公告)号：CN108732146A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201810356158.0

申请日：2018-04-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 渡边康之

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/1213 ,  G01N21/31 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2201/065

Abstract: 提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质，能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时，校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理，光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数，光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数，光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此，能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外，量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外，还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此，能够高精度地计算量子产率。