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公开(公告)号：CN103364384B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310338274.7
申请日：2013-08-06
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振涡旋光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。将第一形式的高级次轴对称偏振涡旋光束聚焦获得实心光斑，将第二形式的高级次轴对称偏振涡旋光束聚焦获得空心光斑。所述聚焦中空光斑与所述聚焦实心光斑重叠，聚焦实心光斑所激发的样品上的荧光基团发出荧光，而聚焦中空光斑抑制了该荧光基团外围所发出的荧光，这样就只有中间一个小于衍射极限的点发光并被观察到；激发的荧光经过滤光片滤波后被透镜聚焦，该聚焦光斑被探测器探测，得到超分辨受激发射损耗显微图像。
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公开(公告)号：CN103472576B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201310415225.9
申请日：2013-09-12
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法，包括步骤：激光器发出的激光束经过针孔滤波器进行空间滤波，被准直透镜准直为平行光束；该平行光束入射到偏振转换系统中进行偏振态转换；获得的高级次轴对称偏振光束进一步通过光瞳滤波器和环形光阑进行振幅及相位调制；调制后的高级次轴对称偏振光束经过二向色分束镜反射到高数值孔径的聚焦物镜中进行聚焦，并射入“玻璃基底-金属薄膜-样品”的三层结构上；激发的荧光信号通过该三层结构反射回聚焦物镜中，并被其扩束，通过二向色分束镜透射，经过滤波片滤波后，最终被一聚光镜聚焦到针孔阵列板上，通过探测器将光信号转换为电信号，并进一步处理。
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公开(公告)号：CN103431845B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310380538.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于径向偏振光束的光学相干层析成像方法及装置，所述方法包括如下步骤：低相干光源发出的光束经过科勒照明系统处理后，再经过偏振转换系统调控光束的偏振态，并经过光瞳滤波器调控光束的振幅及相位分布，从而形成径向偏振光束；径向偏振光束入射到分光棱镜上，光束被分为两路，分别进入样品臂和参考臂；两路光束分别被各自的显微物镜聚焦到待测样品上和参考平面镜上，被待测样品和参考平面镜反射后的返回的光在分光棱镜处汇合，经过聚焦透镜聚焦，成像到探测器上，并随后传输到计算机上进行后续处理，其中参考平面镜横向移动以实现横向扫描，而待测样品放置在能够空间移动的三维平移台以实现样品的三维成像。
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公开(公告)号：CN103697824A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310733992.4
申请日：2013-12-26
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种基于标准球的坐标测量机的光学测头的系统标定方法，步骤如下：a)将已知半径R的标准球放在坐标测量机的工作平台上；b)将测头安装在坐标测量机的移动末端，接着控制坐标测量机以合适的运动轨迹移动测头，在其测量范围之内，完成对工作平台上的标准球的点扫描，所述点扫描大致均匀覆盖整个标准球面，得到N组数据，N大于等于200，每一组数据包括测头的测点数值、坐标测量机的三坐标位置读数以及回转体的旋转角度；c)在上一步操作的基础上，选取N组数据中的一部分数据，经过坐标转换后带入球面约束方程，利用改进的非线性最小二乘法求解该超定非线性方程组即可求得待标定参数，完成系统标定。
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公开(公告)号：CN103633541A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310659834.9
申请日：2013-12-09
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种控制用于激光打标的基于FPGA的脉冲光纤激光器功率控制系统和控制方法，所述脉冲光纤激光器功率控制系统包括用于发出控制信号的计算机、基于FPGA实现的功率控制系统和在控制下发出激光的脉冲光纤激光器，所述方法通过进行激光器输出电压和半导体激光器输出功率的输出功率值分配，其中将恒流源驱动的功率与锁存的功率进行比较，将比较结果反馈至恒流源进行驱动。根据本发明的脉冲光纤激光器输出光功率可以很好的满足激光打标的要求，通过采用了双端输入单端输出的模糊控制算法来实时的监测功率的输出大小，并根据反馈的功率值来调节恒流源驱动电路的电流的大小，来保证输出的功率的稳定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103431845A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310380538.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于径向偏振光束的光学相干层析成像方法及装置，所述方法包括如下步骤：低相干光源发出的光束经过科勒照明系统处理后，再经过偏振转换系统调控光束的偏振态，并经过光瞳滤波器调控光束的振幅及相位分布，从而形成径向偏振光束；径向偏振光束入射到分光棱镜上，光束被分为两路，分别进入样品臂和参考臂；两路光束分别被各自的显微物镜聚焦到待测样品上和参考平面镜上，被待测样品和参考平面镜反射后的返回的光在分光棱镜处汇合，经过聚焦透镜聚焦，成像到探测器上，并随后传输到计算机上进行后续处理，其中参考平面镜横向移动以实现横向扫描，而待测样品放置在能够空间移动的三维平移台以实现样品的三维成像。
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公开(公告)号：CN103424859A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310328858.6
申请日：2013-07-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G02B21/06
Abstract: 本发明提供了一种基于柱矢量光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法，包括如下步骤：对发出激发光束的第一激光器发出的激光束进行准直，获得第一平行光束；将第一平行光束转换为径向偏振光；通过透镜将调制后的第一径向偏振光聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦实心光斑；对发出抑制光束的第二激光器发出的激光束进行准直，获得第二平行光束；将第二平行光束转换为切向偏振光；通过透镜将调制后的切向偏振光束聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦中空光斑，该聚焦中空光斑与上述聚焦实心光斑中心重叠，使得只有中间位置处、尺寸小于衍射极限的中间点发出荧光；通过探测器探测上述中间点所发出的荧光。
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公开(公告)号：CN103411941A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310367190.6
申请日：2013-08-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。
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公开(公告)号：CN103389573A
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201310329612.0
申请日：2013-07-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G02B21/06
Abstract: 基于径向偏振涡旋光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法，包括如下步骤：对激发光束进行准直，获得第一平行光束；将所述第一平行光束转换为第一径向偏振光；调制所述第一径向偏振光并将其聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦实心光斑；对抑制光束进行准直，获得第二平行光束；将第二平行光束转换为第二径向偏振光；将所述第二径向偏振光束转换为径向偏振涡旋光束；调制所述径向偏振涡旋光束并将其聚焦在所述焦平面的样品上，得到聚焦中空光斑，该聚焦中空光斑与上述聚焦实心光斑中心重叠，使得只有中间位置处、尺寸小于衍射极限的中间点发出荧光；通过探测器探测上述中间点所发出的荧光。
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公开(公告)号：CN102642092A
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：CN201210107331.6
申请日：2012-04-13
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明涉及一种基于激光光束的微孔加工装置及方法，该装置包括：径向偏振光束生成单元，用于将激光光束转换为径向偏振光束，并将所述径向偏振光束发射至衍射光学元件；所述衍射光学元件，用于调制所述径向偏振光束的振幅和相位，并将调制后的所述径向偏振光束发射至聚焦透镜；所述聚焦透镜，用于将调制后的所述径向偏振光束进行聚焦，在所述聚焦透镜的焦点附近获取所述径向偏振光束的聚焦场，所述聚焦场的强度分布由所述衍射光学元件的结构和所述聚焦透镜的数值孔径确定，通过控制所述聚焦场的强度分布对待加工的材料进行微孔加工。本发明实施例可加工大深径比的微孔且提高了微孔的切割速度和效率。
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