公开(公告)号：CN119468984A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202410660775.5

申请日：2024-05-27

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  焦琦 ,  苏信晨 ,  李伟仙 ,  司娟宁 ,  牛海莎

IPC: G01B11/26

Abstract: 本申请公开了一种滚转角测量方法和装置。该方法包括：采用点剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化；根据所述相位变化确定所述物面的滚转角。本申请提供的技术方案可以测量物面滚转角误差，有效提高滚转角的测量速度，使得该方法可以适应工业现场中需要及时反馈滚转角误差的需求。

公开(公告)号：CN119043201A

公开(公告)日：2024-11-29

申请号：CN202410721010.8

申请日：2024-06-05

Applicant: 北京信息科技大学 ,  北京卫星制造厂有限公司

Inventor： 吴思进 ,  宋嘉正 ,  唐小军 ,  张硕 ,  李玄 ,  辛亮 ,  牛海莎

IPC: G01B11/16

Abstract: 本申请实施例公开了一种高温物体位移梯度、应变和变形测量方法和装置，所述方法包括：搭建三色三孔空间载波三维剪切散斑干涉光路；根据所述三色三孔空间载波三维剪切散斑干涉光路，同步确定被测物的多个相位分布；根据所述多个相位分布，同步确定被测物的多个位移空间梯度；根据所述多个位移空间梯度，同步确定所述被测物的多维应变量；根据所述多个位移空间梯度，同步确定所述被测物的多维变形量。

公开(公告)号：CN111457855A

公开(公告)日：2020-07-28

申请号：CN202010314839.8

申请日：2020-04-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  吴凡 ,  李伟仙

IPC: G01B11/16

Abstract: 本公开涉及一种数字散斑干涉系统的测量精度确定方法及装置。所述方法包括：采用激光双频干涉仪监控物面绕偏摆轴执行多次偏摆，其中，所述物面绕所述偏摆轴每次偏摆的角度为第一预设角度；采用数字散斑干涉系统测量所述物面中的目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变；根据所述第一预设角度和所述目标观测点每次偏摆对应的第一面外形变，确定所述数字散斑干涉系统的面外形变测量精度。本公开可以实现对数字散斑干涉系统的面外形变测量的精度评价，进而可以在面外形变测量时有效实现对数字散斑干涉系统的标定和校准。

公开(公告)号：CN111288914A

公开(公告)日：2020-06-16

申请号：CN202010248258.9

申请日：2020-03-31

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  刘天承 ,  李伟仙

IPC: G01B11/16 ,  G01B9/02

Abstract: 本公开涉及一种基于空间载波的数字散斑干涉方法及系统。所述方法包括：分光元件对光源出射的光进行分光，得到物光和参考光；扩束元件对物光进行扩束后照射到被测物面；参考光以预设角度进入感光元件；经被测物面反射的物光通过成像元件、光学4F系统、光阑后进入感光元件，并与以预设入射角度进入感光元件的参考光进行散斑干涉。本公开利用光学4F系统的光学传递特性，可以扩大数字散斑干涉系统的被测视场角，进而可以实现对大面积被测物的全场测量。

公开(公告)号：CN109000580A

公开(公告)日：2018-12-14

申请号：CN201811145167.1

申请日：2018-09-29

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  刘承运 ,  杨连祥 ,  李伟仙 ,  董明利

IPC: G01B11/16

Abstract: 本申请实施例公开了一种应变测量方法和装置，所述方法包括：搭建基于空间载波的三维剪切散斑干涉光路；根据所述三维剪切散斑干涉光路，同步确定被测物的多个位移空间梯度；根据所述多个位移空间梯度，同步确定所述被测物的多维应变量。本申请实施例可以有效实现在动态变形过程中同步测量多维应变量。

公开(公告)号：CN108871220A

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201810425874.X

申请日：2018-05-07

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  李露 ,  董明利 ,  李伟仙 ,  杨连祥

IPC: G01B11/16 ,  G01B9/02

Abstract: 本申请公开了一种时间相移器，包括：驱动模块和至少三个相移模块；所述至少三个相移模块的介质折射率为n，若将所述至少三个相移模块按厚度从大到小排列，相邻两个相移模块之间的厚度差为其中，Δφ为所述时间相移器的相移步长，λ为光源波长；驱动模块通过改变所述至少三个相移模块的位置，在不同时刻引入不同的相移量。本申请基于设置有至少三个厚度不同的相移模块的时间相移器，能够在时间相移过程精确地引入相移量，有效避免压电陶瓷蠕变性、迟滞性、非线性等特性带来的引入相移量存在误差的问题。

公开(公告)号：CN105093893B

公开(公告)日：2017-09-29

申请号：CN201510260769.1

申请日：2015-05-20

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  杨连祥 ,  潘思阳 ,  祝连庆 ,  吕勇

IPC: G03H1/22

Abstract: 本发明涉及一种时空三维相位解包裹的方法和装置，所述方法包括：对对应于一待测物面的包裹相位图的至少一特征点进行时间相位解包裹，得到所述至少一特征点的绝对相位，所述至少一特征点为所述包裹相位图的部分点；以所述至少一特征点的至少之一为起始参考点，对所述包裹相位图进行空间相位解包裹，得到所述包裹相位图的至少一其他点的绝对相位。本发明可以较低的成本得到包裹相位图全场的绝对相位，还可处理对应于不连续物面的包裹相位图。

公开(公告)号：CN104215193B

公开(公告)日：2017-06-23

申请号：CN201410426311.4

申请日：2014-08-26

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  高新亚 ,  杨连祥 ,  祝连庆 ,  周哲海

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统，其中，一种物面形变测量方法包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据；根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正，具有广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN106091974A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201610632892.6

申请日：2016-08-04

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  高新亚 ,  杨连祥 ,  高燕

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开了一种物体形变测量仪器、方法和设备。形变测量设备包括采集单元和测量单元。所述采集单元，用于启动时间相移光路，采集被测物体的第一形变信息；所述测量单元，用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于静态形变时，测量所述被测物体的第一形变量；所述采集单元，还用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于动态形变时，启动空间载波光路，采集所述被测物体的第二形变信息；所述测量单元，还用于根据所述第二形变信息，测量所述被测物体的第二形变量。通过形变测量设备能够精确计算被测物体的形变量，避免现有技术中存在的物体形变测量不准确的问题，有效提升了测量物体形变的效率以及测量准确度。

公开(公告)号：CN104215193A

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：CN201410426311.4

申请日：2014-08-26

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统，其中，一种物面形变测量方法包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据；根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正，具有广泛的应用前景。