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公开(公告)号：CN212301746U
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202020685256.1
申请日：2020-04-29
Applicant: 厦门市计量检定测试院 , 厦门天马微电子有限公司
Abstract: 本实用新型公开了液晶显示面板的静电测试装置，包括放电开关、保护电路以及与液晶显示面板上的金属触点接触的静电聚集装置，静电聚集装置上远离液晶显示面板的一端与放电开关的一端连接，放电开关的另一端与保护电路的一端连接，保护电路的另一端接地；本实用新型通过静电聚集装置与液晶显示面板上的金属触点接触，闭合放电开关，形成由金属触点、静电测试装置、保护电路到地的放电路径，以对液晶显示面板的静电进行测试，之后再进行施加电场，即对液晶显示面板进行预放电，从而使液晶面板经受目标静电压的击穿效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208570068U
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201821346746.8
申请日：2018-08-21
Applicant: 厦门市计量检定测试院
IPC: G09G3/00
Abstract: 本实用新型提供了一种使用方便且测试效果好的曲面屏光电性能的测试装置。所述曲面屏光电性能的测试装置包括第一转轴、第二转轴、分光辐射亮度计、安装座和滑轨；所述第一转轴和第二转轴垂直设置，所述安装座的安装面与第一转轴和第二转轴形成的平面平行设置，所述第一转轴与安装座的中心轴线平行设置，所述安装座绕第一转轴和第二转轴分别可转动设置，所述安装座沿第一转轴的轴向可移动设置；所述分光辐射亮度计的镜头朝向安装座的安装面，所述分光辐射亮度计设于滑轨上且沿滑轨可移动设置，所述滑轨与第一转轴垂直设置。
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公开(公告)号：CN208568934U
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201821287577.5
申请日：2018-08-10
Applicant: 厦门市计量检定测试院
Abstract: 本实用新型提供了一种结构简单且测试效率高的触摸屏触控准确度的测试装置。所述触摸屏触控准确度的测试装置包括工作台和触控组件；所述触控组件位于工作台的上方；所述工作台上设有多个的定位孔，多个的所述定位孔呈矩形阵列分布，所述触控组件包括支撑件和至少一个的触控件；所述支撑件沿定位孔围成的矩形区域的长边方向和短边方向分别可移动设置，所述支撑件朝靠近或远离工作台的方向可移动设置；至少一个的触控件设于支撑件靠近工作台的一端且与工作台垂直设置，所述触控件可伸缩设置。
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公开(公告)号：CN208568511U
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201821288105.1
申请日：2018-08-10
Applicant: 厦门市计量检定测试院
Abstract: 本实用新型提供了一种成本低且测试效果好的柔性显示屏的折叠可靠性测试装置。所述柔性显示屏的折叠可靠性测试装置包括第一折叠板和第二折叠板，所述第一折叠板上设有第一折叠面，所述第二折叠板上设有第二折叠面，所述第一折叠面和第二折叠面朝向同一侧，所述第一折叠板和第二折叠板分别绕同一转轴可转动设置，所述第一折叠面和第二折叠面分别与转轴平行设置，所述第一折叠面与第二折叠面之间的夹角随第一折叠板与第二折叠板的转动而改变。
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公开(公告)号：CN113218628A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110429396.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种微型发光器件空间光色分布检测系统及其检测方法，涉及微型发光器件。检测系统包括带空腔的半球体、底板、三维台、电流源、光纤、光纤集成面板、分束镜、CCD相机、高光谱成像光谱仪和计算机；微型发光器件与电流源相连接，置于球心处，将已知辐照度光谱分布数据的标准光源置于半球体中心位置，进行系统校准；光纤将空间光分布传输到光纤集成面板上，高光谱成像光谱仪采集二维图像及光谱信息，通过计算机数据处理，得到微型发光器件三维空间光色分布，所有光纤光分布积分后即为微型发光器件光通量或光功率。将发光器件的三维空间光色分布特性转化为二维分布特性，能快速准确地检测出微型发光器件的光学特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110057466A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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公开(公告)号：CN109655233A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811546859.7
申请日：2018-12-18
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种多路光谱成像显示屏光学检测系统及其检测方法，属于显示屏光学检测技术领域，解决机器视觉法对于单像素点的检测则不够全面、成像亮度计缺乏对显示屏光学信息全面分析的技术问题。解决方案为：一种多路光谱成像显示屏光学检测系统，它包括光源、积分球、成像镜头、分束器、相机、多路光纤固定器、光路复用器、光谱仪、激光器和测距仪，依次经过系统校准、待测显示屏光学检测，用镜头收集待测显示屏发出的光线，十六路光纤及光谱仪采集像平面对应显示屏像素光谱，同时通过激光和相机的辅助对焦，使每一路光纤精确地对应显示屏像素点。通过对光谱的校准分析，可以得到该像素点的光谱分布、亮度、色度等参数，全面地对显示屏的显示质量做出分析。
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公开(公告)号：CN109655233B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201811546859.7
申请日：2018-12-18
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种多路光谱成像显示屏光学检测系统及其检测方法，属于显示屏光学检测技术领域，解决机器视觉法对于单像素点的检测则不够全面、成像亮度计缺乏对显示屏光学信息全面分析的技术问题。解决方案为：一种多路光谱成像显示屏光学检测系统，它包括光源、积分球、成像镜头、分束器、相机、多路光纤固定器、光路复用器、光谱仪、激光器和测距仪，依次经过系统校准、待测显示屏光学检测，用镜头收集待测显示屏发出的光线，十六路光纤及光谱仪采集像平面对应显示屏像素光谱，同时通过激光和相机的辅助对焦，使每一路光纤精确地对应显示屏像素点。通过对光谱的校准分析，可以得到该像素点的光谱分布、亮度、色度等参数，全面地对显示屏的显示质量做出分析。
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公开(公告)号：CN113218628B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202110429396.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 厦门大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种微型发光器件空间光色分布检测系统及其检测方法，涉及微型发光器件。检测系统包括带空腔的半球体、底板、三维台、电流源、光纤、光纤集成面板、分束镜、CCD相机、高光谱成像光谱仪和计算机；微型发光器件与电流源相连接，置于球心处，将已知辐照度光谱分布数据的标准光源置于半球体中心位置，进行系统校准；光纤将空间光分布传输到光纤集成面板上，高光谱成像光谱仪采集二维图像及光谱信息，通过计算机数据处理，得到微型发光器件三维空间光色分布，所有光纤光分布积分后即为微型发光器件光通量或光功率。将发光器件的三维空间光色分布特性转化为二维分布特性，能快速准确地检测出微型发光器件的光学特性。
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公开(公告)号：CN110057466B
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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