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公开(公告)号：CN107064064B
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201710135024.1
申请日：2017-03-08
Applicant: 宁波大学
Abstract: 本发明公开了一种飞秒激光加工中透明薄膜折射率改变量的获取方法，利用激光平面加工装置，采用间隔为300nm的逐线扫描方法在薄膜上获得64个与激光功率和平台扫描速度相关的80μm×80μm大小的折射率发生改变的区域，通过带有显微系统和三维移动平台的傅里叶红外光谱仪测得该64个区域的透射谱，采用改进的Swanepoel方法从透射谱中计算得到薄膜的折射率，进而得到激光加工区域的薄膜折射率改变量。
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公开(公告)号：CN109407205A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811554836.0
申请日：2018-12-19
Applicant: 宁波大学
IPC: G02B6/02
Abstract: 一种硫系玻璃光纤端面衍射光栅的制作装置及制作方法，属于衍射光栅技术领域，解决了传统的直写逐点刻写法制作衍射光栅时激光聚焦不精准的问题，其技术方案要点是包括飞秒激光器，位于飞秒激光器后光路上依次排列的衰减装置、电子快门、光功率检测模块、监控模块以及位于监控模块后的光路上的聚焦物镜；聚焦物镜的出光侧设置有待加工的硫系玻璃光纤，待加工的硫系玻璃光纤固定设于三维平台上，三维平台与计算机连接并通过计算机控制，电子快门与计算机连接并通过计算机控制其开闭，以调整激光的曝光时间，并能够对刻写的端面进行实时监测，实现光栅加工的可控性，提高加工效率和加工的准确度。
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公开(公告)号：CN107356559A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710403760.0
申请日：2017-06-01
Applicant: 宁波大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种单层光学薄膜任意波长处折射率的获取方法，首先通过改进的Swanepoel的方法获得该薄膜的厚度、透射光谱曲线峰谷附近对应的取得整数和半整数位置的干涉级次，然后利用干涉方程以及透射曲线方程在任一波长λo处设置不同的干涉级次值得到一系列离散的理论透过率数据，在该数据中找出与波长λo对应的透过率大小值最接近的理论透过率值，将该理论透过率值对应的干涉级次作为该波长对应的干涉级次，进而求出该波长对应的折射率，最终获得薄膜任一波长处的折射率。
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公开(公告)号：CN106198454A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610465740.1
申请日：2016-06-22
Applicant: 宁波大学
CPC classification number: G01N21/45 , G01N21/1717 , G01N2021/1725
Abstract: 本发明公开了一种薄膜折射率与色散系数获取方法，首先利用分光光度计测量得到具有干涉调制现象的透射曲线，然后利用Savitzky-Golay分段滤波法滤除信号频率5倍以上的高频噪声，得到光滑的透射曲线后再利用循环比较方法获得该曲线的峰谷值数据及其对应的光波长，再利用三阶样条插值的方法分别对离散的峰值数据与谷值数据进行插值，获得连续的随光波长变化的波峰曲线，利用该数据可得到相应光波长处薄膜的折射率，将上述获得的折射率及相应的光波长代入干涉方程得到薄膜厚度，利用薄膜厚度、干涉级次等参数对求得的薄膜折射率进行修正可精确得到不同峰值波长处薄膜的折射率n'(λ)，进一步利用ng＝n'-λdn'/dλ得到群速折射率ng，最后利用Dλ＝c-1d ng/dλ得到该薄膜在不同波长处的色散系数Dλ。
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公开(公告)号：CN106166643A
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201610455158.7
申请日：2016-06-21
Applicant: 宁波大学
IPC: B23K26/042 , B23K26/03
CPC classification number: B23K26/042 , B23K26/032
Abstract: 本发明公开了一种提高飞秒激光加工精度的方法，将测量平台与微纳结构加工平台集成在一起，利用样品距离检测装置与旋转矩阵法相结合，利用该检测装置获得四个待加工区域的位置数据代入旋转矩阵后，计算获得修正后的微纳结构位置数据，并将该数据代入加工系统，精确地将激光光斑中心定位在样品上，优点在于不需要在不同平台间互相切换，表面高度数据测量后可以直接输入到计算机，利用旋转矩阵法消除待加工样品、衬底及三维移动平台表面等的倾斜造成的误差，精确定位被加工样品的位置，使得待加工样品准确设置在激光光斑的中心处，进而提高激光微纳加工的精度，使飞秒激光加工的精度可以达到300nm左右，并保证实际获得的结构与预设的结构相同。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102323275B
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201110228174.X
申请日：2011-08-10
Applicant: 宁波大学
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种红外硫系玻璃内部宏观缺成像陷检测装置，其中加热装置对金属平板进行加热，加热后的金属平板温度为50-90℃，金属平板、多孔网板、遮杂散光罩、支撑架和红外热成像面阵摄像头依次排列，多孔网板紧贴在遮杂散光罩的前端，被测红外硫系玻璃安装在支撑架上，金属平板、多孔网板、遮杂散光罩、被测红外硫系玻璃和红外热成像面阵摄像头共一个光轴，红外热成像面阵摄像头与视频/图像采集卡连接，视频/图像采集卡与计算机连接，其优点是结构非常简单、操作非常方便，能够检测几毫米至几百毫米直径的红外硫系玻璃内部缺陷，能够实时地拍摄出玻璃内部缺陷图像。
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公开(公告)号：CN102226738B
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201110073411.X
申请日：2011-03-25
Applicant: 宁波大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种红外玻璃非均匀性检测装置及检测方法，检测装置包括顺序排列的红外光源、带通滤光片、准直扩束镜、测试样品架、狭缝、红外探测器和控制计算机，特点是测试样品架和狭缝之间设置有标准透镜，准直扩束镜安装在上下左右俯仰偏转四维可调的光学调整架上，狭缝固定安装在既可上下扫描，也可在垂直于光轴的平面内进行旋转的第一调整架上，红外探测器固定安装在上下左右前后三维精密可调的第二调整架上，第一调整架和第二调整架与位置控制器连接，控制计算机分别与红外光源、红外探测器和位置控制器连接，通过分别测得待测红外玻璃样品放入前后的线扩散函数和相应的光学传递函数，实现红外玻璃非均匀性数据的检测。
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公开(公告)号：CN102226771B
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201110073407.3
申请日：2011-03-25
Applicant: 宁波大学
IPC: G01N21/958 , G01L1/24
Abstract: 本发明公开了一种红外玻璃内部缺陷和残余应力检测装置及检测方法，检测装置包括按顺序排列的红外光源、扩束镜、直径可调的光栏、样品架和红外摄像装置，特点是还包括起偏器和检偏器，起偏器设置在光栏和样品架之间，检偏器可在起偏器和样品架之间或样品架和红外相机之间任意切换，样品架连接有位置控制器，红外光源、位置控制器和红外摄像装置分别与控制计算机连接，优点在于通过移动检偏器位置，在同一检测装置上分别实现了对红外玻璃内部缺陷和残余应力的检测，成本低、精度高。
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公开(公告)号：CN102531335A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110425504.4
申请日：2011-12-16
Applicant: 宁波大学
Abstract: 本发明公开了一种低羟基高纯硫系玻璃的动态全蒸馏提纯方法，先获得掺有除氧、除氢剂均匀掺杂的玻璃，使得杂质与除氧剂、除氢剂均匀反应，再通过动态全蒸馏法和封闭式蒸馏法对获得的玻璃进行两次蒸馏，最后将获得的玻璃熔融淬冷，获得所需的高纯块状玻璃材料。
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公开(公告)号：CN102351425A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110192263.3
申请日：2011-07-11
Applicant: 宁波大学
IPC: C03C10/02
Abstract: 本发明一种半导体纳米晶复合硫系玻璃陶瓷材料及其制备方法，特点是其摩尔组成按化学式表示为：(1-x-y)GeS2·xSb2S3·yM2S3，其中x＝0～0.4，y＝0.10～0.25，M为Ga或In，制备方法包括按摩尔组成化学式选取Ge、Sb、M和S所占当量比例并加热混合的步骤；基础玻璃制备的步骤；然后测试获得基础玻璃样品核化温度300-380℃，晶粒生长温度320-420℃的步骤；最后核化、晶化获得半导体纳米晶复合硫系玻璃陶瓷材料，优点是该材料具有明显增强的硬度、断裂韧性等机械性能并具有二阶非线性光学性能，其制备过程中能够根据需要设计和选择合适的玻璃组成，控制析出不具有反演对称中心的晶相。
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