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公开(公告)号：CN102027344B
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN200880128650.7
申请日：2008-02-15
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor： 达米安·魏德曼
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0232 , G01J3/0286 , G01J3/08 , G01J3/427 , G01N21/276 , G01N21/3518 , G01N21/39 , G01N2021/399
Abstract: 本发明提供了一种通过使不同频率的第一和第二激光束穿过样本、利用吸收光谱法来检测样本的同位素比的方法和装置。使用了两个IR吸收室，第一IR吸收室包含同位素比已知的参考气体，第二IR吸收室包含同位素比未知的样本。可以使用交错器或反射斩光器，使得当激光频率被扫描时，交替地检测样本室的吸收和参考室的吸收。这确保了连续地校准该装置并且在使用相敏检测时可以丢弃基线噪声。
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公开(公告)号：CN102265137B
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN200980151784.5
申请日：2009-12-15
Applicant: 法国欧陆汽车公司
CPC classification number: G01J1/4257 , F02D41/1451 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0232 , G01J3/0256 , G01J3/08 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/2866 , G01N21/031 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N21/359 , G01N21/85 , G01N2021/0314 , G01N2021/317 , G01N2021/3181 , G01N2021/8521 , G01N2201/0636 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种用于在先前选择的波长范围中测量光束的光谱的装置，所述光谱由待分析的样品生成，所述光学测量装置包括：至少一个光源（12）；测量室（9）；以及测量检测器（17），其被放置在光学测量路径上，所述光学测量路径由光源（12）发射的光学测量束所行进并且遇到测量室（9）；自校准构件，适合于与待分析样品存在或不存在与测量室中无关地考虑到由于环境或操作条件引起的可能偏转，所述自校准构件包括：用于产生光学参考路径的构件（15），所述光学参考路径由光源发射的光学参考束所行进并且不遇到测量室；以及参考检测器（18）。所述测量装置显著之处在于其被设计成机载安装在汽车上并且包括用于选择性地混合光学测量束和光学参考束的构件（30、31），所述测量检测器（17）还充当参考检测器（18）。
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公开(公告)号：CN102265137A
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN200980151784.5
申请日：2009-12-15
Applicant: 法国欧陆汽车公司
CPC classification number: G01J1/4257 , F02D41/1451 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0232 , G01J3/0256 , G01J3/08 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/2866 , G01N21/031 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N21/359 , G01N21/85 , G01N2021/0314 , G01N2021/317 , G01N2021/3181 , G01N2021/8521 , G01N2201/0636 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种用于在先前选择的波长范围中测量光束的光谱的装置，所述光谱由待分析的样品生成，所述光学测量装置包括：至少一个光源（12）；测量室（9）；以及测量检测器（17），其被放置在光学测量路径上，所述光学测量路径由光源（12）发射的光学测量束所行进并且遇到测量室（9）；自校准构件，适合于与待分析样品存在或不存在与测量室中无关地考虑到由于环境或操作条件引起的可能偏转，所述自校准构件包括：用于产生光学参考路径的构件（15），所述光学参考路径由光源发射的光学参考束所行进并且不遇到测量室；以及参考检测器（18）。所述测量装置显著之处在于其被设计成机载安装在汽车上并且包括用于选择性地混合光学测量束和光学参考束的构件（30、31），所述测量检测器（17）还充当参考检测器（18）。
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公开(公告)号：CN102073133A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN201010540079.9
申请日：2010-11-09
Applicant: 奥林巴斯株式会社
Inventor： 大塚武
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0248 , G01J3/027 , G01J3/08 , G01J3/32 , G01J3/42 , G02B21/365
Abstract: 提供一种虚拟显微镜系统，其能够在短时间内获取染色样品图像和光谱的统计数据，该虚拟显微镜系统包括：图像获取单元，其用于获取染色样品图像；光谱获取单元，其用于获取染色样品图像的光谱；光路设定单元，其用于设定透过染色样品的光通量相对于图像获取单元和光谱获取单元的光路；以及控制单元，其用于在染色样品的观察场中进行控制以重复通过图像获取单元获取染色样品图像和通过光谱获取单元获取染色样品图像的光谱，以制作染色样品的虚拟切片和光谱表。
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公开(公告)号：CN101802572A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200880020833.7
申请日：2008-05-09
Applicant: 莱布尼茨解析科学学院
CPC classification number: G01J3/22 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/08 , G01J3/1809 , G01J3/2823 , G01J3/32
Abstract: 一种光谱计装置(10)具有光谱计，用于在探测器(34)上产生来自辐射源的辐射的光谱，它包含有一个成像的，光学的利特罗装置(18，20)，用于使进入光谱计装置里的辐射(16)成像在一个图像平面里，有第一分散装置(28，30)，用于对进入光谱计装置里的辐射的第一波长范围进行光谱分解，还有第二分散装置(58，60)，用于对进入光谱计装置里的辐射的第二波长范围进行光谱分解，以及有一个共同的布置在成像光学机构的图像平面里的探测器(34)，其特征在于，成像的光学机构(18，20)包括有在两个位置(20，50)之间运动的元件(20)，其中射入光谱计装置里的辐射在第一位置上通过第一分散装置，而在第二位置上通过第二分散装置进行传导。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101487793A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200810190657.3
申请日：2004-08-19
Applicant: 独立行政法人科学技术振兴机构 , 西泽诚治
CPC classification number: G01J3/08 , G01N21/3586 , G01N2201/0696 , G01N2201/0698
Abstract: 一种提供时间序列变换脉冲分光计测装置，其可容易地在短时间内进行多种试样或其状态等的时间序列变换脉冲分光计测。本发明的时间序列变换脉冲分光计测装置具有：脉冲激光光源；分割装置，其将来自该脉冲激光光源的脉冲激光分割为激发用脉冲激光光束和检测用脉冲激光光束；脉冲光辐射装置；检测装置；保持试样的试样保持部；试样部射入射出光学系统，具有：至少一个测光区域设定用的光程变更装置，其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光路的任一个；至少一个时间序列信号测定用光学延迟装置，其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光的任一个。
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公开(公告)号：CN1839307A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200480023721.9
申请日：2004-08-19
Applicant: 独立行政法人科学技术振兴机构 , 西泽诚治
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01J3/08 , G01N21/3586 , G01N2201/0696 , G01N2201/0698
Abstract: 一种提供时间序列变换脉冲分光计测装置，其可容易地在短时间内进行多种试样或其状态等的时间序列变换脉冲分光计测。本发明的时间序列变换脉冲分光计测装置具有：脉冲激光光源；分割装置，其将来自该脉冲激光光源的脉冲激光分割为激发用脉冲激光光束和检测用脉冲激光光束；脉冲光辐射装置；检测装置；保持试样的试样保持部；试样部射入射出光学系统，具有：至少一个测光区域设定用的光程变更装置，其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光路的任一个；至少一个时间序列信号测定用光学延迟装置，其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光的任一个。
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公开(公告)号：CN1630811A
公开(公告)日：2005-06-22
申请号：CN03803518.9
申请日：2003-01-28
Applicant: 应用光学电子光学及光谱学开发研究所 , 光谱化学及应用光谱学开发研究所
CPC classification number: G01J3/04 , G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/08 , G01J3/14 , G01J3/1809 , G01J3/28 , G01J2003/1208 , G01J2003/2866
Abstract: 一种谱仪组件(10)，包括一个具有连续谱线的光源(11)，一个用来产生较小线性色散的光谱的预单色仪(2)，从其中可选择一个光谱部分，其光谱带宽小于或等于中阶梯光谱内该序数的自由光谱范围的带宽，其中所选定的光谱间隔的中心波长可以以最大激发效率测定，一个带波长校准装置的中阶梯谱仪(4)，一个处在预单色仪(2)上的入口缝(21)，一个带中间缝(3)的中间缝组件(50)，和一个位于谱仪出口平面、用于检测波长谱的空间分辨光检测器(5)。该组件的特征在于：中间缝(3)的宽度大于在中间缝处由预单色仪产生的入口缝的单色象，并提供了校准预单色仪的装置，该装置用来将具有连续谱线的光源在检测器上的光校准到一个参考位置。
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公开(公告)号：CN207778340U
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201721111580.7
申请日：2017-08-31
Applicant: 卡尔蔡司光谱学有限公司
CPC classification number: G01J3/10 , F21V7/04 , F21V7/043 , G01J3/021 , G01J3/08 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/102 , G01J2003/425 , G01N21/255 , G01N21/4738 , G01N21/474 , G01N21/4785 , G01N21/55 , G01N21/57 , G01N2021/8411 , G01N2201/061
Abstract: 本实用新型涉及一种测量光源和用于检测反射光谱的测量系统。用于产生具有均匀的空间照度分布的测量光的测量光源包括空心体(01)，其具有漫反射的内面。在空心体中布置有凹面镜形的凹状照明腔(04)、管状的光成形腔(06)和凹面镜形的凹状光射出腔(07)，它们具有共同的轴线(03)。用于产生光的光源(08)至少部分布置在照明腔中。光射出腔具有光出口(14)。照明腔和光射出腔用它们的凹面镜形状相对而置且通过光成形腔连接。在空心体中布置有用于使被空心体的布置在光射出腔内的内面反射的光穿过光出口向空心体的外部反射的漫反射的反射盘(11)。此外，本实用新型还涉及一种用于检测样品的绝对反射光谱和用于执行参考测量的测量系统。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204924916U
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201520320366.7
申请日：2015-05-18
Applicant: 西克股份公司
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/314 , G01J3/021 , G01J3/08 , G01J3/427 , G01N21/031 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/317 , G01N2021/3177 , G01N2021/3181 , G01N2201/0625 , G01N2201/0636 , G01N2201/0691 , G01N2201/0696 , G01N2201/127
Abstract: 本实用新型涉及一种用于测量特定气体组分的测量装置，所述测量装置通过几个宏观机械运动部件来实现。因此提出一种测量装置，其装配有-宽带光源，其被设计用于调制地发出光；-测量体积，其中有待测气体；-第一光偏转单元，其具有至少一个MEMS反射镜，并将光交替地偏转到两个光路上；-并且其中一个第一路径被构造成测量路径并包括第一滤波器元件；-并且其中另一个第二路径被构造成参考路径并包括第二滤波器元件；-光学元件，其将测量路径和参考路径又重新引至同一光路；-光探测器；以及-评估和控制单元，其用于控制光源和光偏转单元以及用于评估检测到的光强度，并从而测量气体组分。
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