光谱计装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101802572B

    公开(公告)日:2012-12-05

    申请号:CN200880020833.7

    申请日:2008-05-09

    Abstract: 一种光谱计装置(10)具有光谱计,用于在探测器(34)上产生来自辐射源的辐射的光谱,它包含有一个成像的,光学的利特罗装置(18,20),用于使进入光谱计装置里的辐射(16)成像在一个图像平面里,有第一分散装置(28,30),用于对进入光谱计装置里的辐射的第一波长范围进行光谱分解,还有第二分散装置(58,60),用于对进入光谱计装置里的辐射的第二波长范围进行光谱分解,以及有一个共同的布置在成像光学机构的图像平面里的探测器(34),其特征在于,成像的光学机构(18,20)包括有在两个位置(20,50)之间运动的元件(20),其中射入光谱计装置里的辐射在第一位置上通过第一分散装置,而在第二位置上通过第二分散装置进行传导。

    时间序列变换脉冲分光计测装置

    公开(公告)号:CN101487793B

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN200810190657.3

    申请日:2004-08-19

    CPC classification number: G01J3/08 G01N21/3586 G01N2201/0696 G01N2201/0698

    Abstract: 一种提供时间序列变换脉冲分光计测装置,其可容易地在短时间内进行多种试样或其状态等的时间序列变换脉冲分光计测。本发明的时间序列变换脉冲分光计测装置具有:脉冲激光光源;分割装置,其将来自该脉冲激光光源的脉冲激光分割为激发用脉冲激光光束和检测用脉冲激光光束;脉冲光辐射装置;检测装置;保持试样的试样保持部;试样部射入射出光学系统,具有:至少一个测光区域设定用的光程变更装置,其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光路的任一个;至少一个时间序列信号测定用光学延迟装置,其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光的任一个。

    采用光开关消除阵列光谱仪暗噪声漂移的方法

    公开(公告)号:CN105737979A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610192033.X

    申请日:2016-03-30

    Inventor: 粟晖 姚志湘

    CPC classification number: G01J3/08 G01J3/2803

    Abstract: 一种采用光开关消除阵列光谱仪暗噪声漂移的方法,涉及一种光学领域中消除暗噪声漂移的方法,该方法是将光开关设置于阵列光谱仪的光入口,通过切换光开关,分别记录光通信号和光断信号,求取光通信号和光断信号之间的差值,作为真实的光谱响应,消除了暗噪声漂移系统误差。本发明还可拓展光谱仪线性和动态响应范围,简化测量步骤,可降低随机噪声强度,可降低感光元件的疲劳程度,易于推广使用。

    双通道测量装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104237125A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410171249.9

    申请日:2014-04-25

    Abstract: 本发明涉及用于确定气体浓度的双通道测量装置,具有:第一和第二光源,其将不同波长范围的光发送到测量段;接收装置,其接收所述光源的光;斩波器装置,其具有至少一个对于多个波长范围中的一个范围而言具有高反射的扇区,用于交替地使光源的光透过或偏转以在同一光路上将光置于测量段中;及分析器,其用于分析接收信号并由此确定气体浓度。为提供结构简单且出现较少光强度损失的改进的双通道测量装置,建议接收装置具有第一和第二接收器,其中第一接收器和第二接收器分别分配给第一光源和第二光源用于接收对应波长的光,且斩波器装置也是接收装置的一部分且斩波器装置通过偏转或穿透将通过测量段后的光从同一光路中分离并分配给对应的接收器。

    分光光度计
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103069259A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201180039983.4

    申请日:2011-08-11

    CPC classification number: G01J3/027 G01J3/08 G01J3/42

    Abstract: 为了提供一种不在门上设置开闭传感器等就能够通过由光检测器得到的输出强度信号来检测更换样品池时等的外部光的入射的分光光度计,本发明的分光光度计(60),具备:光检测器(12);遮光部(41);存储部(34),其将被遮光部(41)遮光的遮光期间与由光检测器(12)得到的输出强度信号相对应地存储;以及控制部(31b),其根据存储部(34)中存储的遮光期间的输出强度信号和入射期间的输出强度信号来计算透射率或者吸光度,其中,存储部(34)存储用于检测外部光入射到光检测器(12)的情况的阈值,控制部(31c)根据遮光期间的输出强度信号和阈值来检测外部光入射到光检测器(12)的情况。

    通过应用两个光谱计装置改善探测器利用的阶梯光栅-光谱计

    公开(公告)号:CN101014841B

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200580026987.3

    申请日:2005-06-02

    Abstract: 一种光谱计装置(10)具有一个光谱计(14),用于在一个探测器(42)上产生一种来自辐射源的辐射的第一波长范围的光谱,它包含一个阶梯光栅(36)用于对于进入光谱计装置(10)里的辐射在一个光分散方向(46)上进行光谱分解;包含一个用于分散的元件(34)用于借助于对所述辐射在一个横向分散方向(48)上的光谱分散来进行序列分离,此横向分散方向与阶梯光栅(36)的主分散方向形成一个角度,因此可以产生具有多数分开序列(52)的二维光谱(50);包含一个成像的光学装置(24,38)用于使通过入射间隙(20)进入光谱计装置(10)的辐射在一个成像平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它具有许多探测元件在成象平面(40)里成象,并且包含一个面积探测器(42),它在成象平面(40)里具有许多探测元件的一种二维布置。所述装置的特征在于,设有另外一个光谱计(12),它具有至少另外一个进行分散的元件(64)和另外一个成像的光学装置(60,66),用于在同一个探测器(42)上产生一种来自一个辐射源的辐射的与第一波长范围不同的第二波长范围的光谱(68)。所述光谱可以按面积或者随时间在探测器上进行分离。

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