光学头
    41.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1235205C

    公开(公告)日:2006-01-04

    申请号:CN01814621.X

    申请日:2001-06-22

    Abstract: 光盘由于在其半径方向倾斜时发生的彗形象差的影响引起跟踪信号产生相位偏移,使跟踪控制的精度减低。在光学头中设置:集光于光盘的物镜(4)、收受从光盘反射的反射光束、获得受光信号的受光装置(8)、从受光信号中检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测装置(9)、以及使入射到受光装置(8)的反射光束中、用于检测跟踪误差信号的跟踪误差信号检测用光束的中央部的领域的光量衰减的光学装置(6)。

    光学头
    44.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101243503B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200680030363.3

    申请日:2006-10-13

    CPC classification number: G11B7/133 G11B7/0908 G11B7/1381 G11B2007/0013

    Abstract: 光学头具有:第1光学系统,其将来自光源的光,聚光到第1记录层及第2记录层中的某一个上;第2光学系统,其在光被聚光到第1记录层上时,接受并透过由第1记录层反射的反射光及由第2记录层反射的迷惑光;受光元件,其具有多个受光区域,各受光区域输出与通过第2光学系统射入的光的光量对应的信号;以及运算部,其差动运算多个受光区域中的第1受光区域输出的第1信号组之和及第2受光区域输出的第2信号组之和,生成聚焦误差信号。射入第2光学系统的反射光及迷惑光互相干涉,第1受光区域组及第2受光区域组配置成均等地包含了因干涉产生的光量的变动的影响。可减少来自非再现层的反射光引起的干涉的影响,获得良好的伺服信号及再现信号。

    光头及具有光头的光盘装置

    公开(公告)号:CN100520930C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200380101389.9

    申请日:2003-11-04

    Inventor: 荒井昭浩

    Abstract: 本发明的光头,用于对具有反射率不同的2个以上的轨道的记录媒体,进行数据的写入及/或读出。光头包括:接收被轨道衍射的衍射光的0次成分和1次成分重叠的多个第1反射光束,生成与多个第1反射光束的光量对应的光量信号的多个受光区域,以及在多个受光区域之间存在、不接收只包含所述0次成分的第2反射光束的非受光区域的受光单元,对于连接多个受光区域之间的第1方向,多个受光区域的距离比非受光区域的宽度长的受光单元;根据光量信号,生成跟踪误差信号的跟踪误差信号生成单元。

    光学头
    49.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101243503A

    公开(公告)日:2008-08-13

    申请号:CN200680030363.3

    申请日:2006-10-13

    CPC classification number: G11B7/133 G11B7/0908 G11B7/1381 G11B2007/0013

    Abstract: 光学头具有:第1光学系统,其将来自光源的光,聚光到第1记录层及第2记录层中的某一个上;第2光学系统,其在光被聚光到第1记录层上时,接受并透过由第1记录层反射的反射光及由第2记录层反射的迷惑光;受光元件,其具有多个受光区域,各受光区域输出与通过第2光学系统射入的光的光量对应的信号;以及运算部,其差动运算多个受光区域中的第1受光区域输出的第1信号组之和及第2受光区域输出的第2信号组之和,生成聚焦误差信号。射入第2光学系统的反射光及迷惑光互相干涉,第1受光区域组及第2受光区域组配置成均等地包含了因干涉产生的光量的变动的影响。可减少来自非再现层的反射光引起的干涉的影响,获得良好的伺服信号及再现信号。

    光学头和光盘装置
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101243502A

    公开(公告)日:2008-08-13

    申请号:CN200680030341.7

    申请日:2006-10-10

    CPC classification number: G11B7/0956 G11B7/0943

    Abstract: 本发明提供一种可以降低倾斜检测的误差,进行高精度的倾斜检测的光学头,其具有:物镜,其将来自光源的光束聚集到光盘上;受光部,其将由光盘反射的光束用受光面的多个区域分割后受光,输出来自各区域的受光信号;和,倾斜检测部,其根据各受光信号检测出物镜和光盘的相对倾斜。倾斜检测部,根据来自多个区域中,对应光盘半径方向的、关于与光轴相交的假设的基准线对称配置的第1多个区域的受光信号,生成第1推挽信号PP1,根据来自关于基准线对称地配置的、与第1多个区域不同的第2多个区域的受光信号,生成第2推挽信号PP2,并且,根据物镜在光盘半径方向上的位置改变系数k,根据TLT=PP1-k×PP2,生成倾斜检测信号TLT。

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