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公开(公告)号：CN108120501A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201711169109.8
申请日：2017-11-22
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提出一种宽量程微弱光照度测量装置，解决10-3lx～10-9lx照度的测量问题，使用光电倍增管直接进行探测，探测器电流响应量级为纳安级。在设计中采用了光电倍增管的电制冷技术和纳安级稳态放大处理技术。光电倍增管的电制冷技术大大降低了光电倍增管的噪声，纳安级稳态放大处理技术使本装置达到极高的灵敏度和信噪比，可对10-7lx～10-9lx以下的光照度进行探测。相比于用光子计数器对10-7lx～10-9lx弱光进行探测的弱光照度计价格比较高，一般在几万甚至十几万元每台的问题，本发明采用光电倍增管设计的探测下限到10-9lx的弱光照度计，价格在1.5万元左右。本发明突破了国内外采用光电倍增管设计的弱光照度计的10-7lx的探测极限，且价格低廉，将广泛应用于微光、星光技术领域。
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公开(公告)号：CN104089709B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201410299228.5
申请日：2014-06-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提出一种飞焦级纳秒脉冲激光波形处理方法，过标准探测器采集飞焦级标准激光光源输出微焦量级光束能量为10μJ时，不同脉冲宽度的微焦量级光束，得到飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置的系统输入，同时再通过飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置采集飞焦级标准激光光源输出飞焦量级光束能量在要求范围内的，且对应上述脉冲宽度的飞焦量级光束，得到若干个系统输出U，从而得到若干个传递函数，再对这些传递函数对应的各个系数进行平均，得到最终的传递函数G(s)，最后使用G(s)复原待测飞焦级脉冲激光光源波形。有效地解决了因飞焦级纳秒脉冲激光能量探测装置传递函数未知而造成的时域波形曲线畸变，而导致的能量等参数测量不准确的问题。
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公开(公告)号：CN103776531A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410001652.7
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种近红外微弱脉冲光谱辐亮度校准装置，属光学计量技术领域。该装置包括用于标定光栅光谱仪的光源组件，含有阵列光纤束的光纤组件，装有光谱辐亮度校准数据处理软件包的计算机，含有平场凹面光栅和面阵EMCCD的光栅光谱仪；阵列光纤束的输入端为单根光纤，输出端含有n根按一字排列的光纤；被测脉冲光源发出的脉冲光束经光纤组件、狭缝后被平场凹面光栅色散，色散光聚焦到面阵EMCCD的光敏面上而形成n行线光谱，计算机采集n行线光谱并根据光谱辐亮度计算公式获得被测脉冲光源随波长变化的光谱辐亮度值，并在计算机屏幕上显示单幅或多幅光谱辐亮度曲线。本发明解决了近红外微弱脉冲光源的光谱辐亮度的校准难题，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN113720446B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202110997978.X
申请日：2021-08-27
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光辐射功率测量技术领域，公开了一种低温辐射计布线结构及布线方法，设计六根超导电碳黑制作的绝热导电柱均匀分布在二级圆柱体热沉的圆周上，低温辐射计吸收腔上一只锗温度传感器和一个薄膜加热器的引线分别在绝热导电柱一端缠绕若干圈并用Kapton胶带固定；引线在绝热导电柱另一端缠绕若干圈后缠绕在位于二级热沉和一级热沉之间的胶木定位环圆环穿孔中的细铜棒上，确保温度传感器和加热器引线有序布置并通过各级热屏蔽层；缠绕在细铜棒上的引线再缠绕在一级圆柱体热沉、制冷头，直至引出低温辐射计真空腔。本发明提高温度传感器温度测量的准确性，即提高了低温辐射计功率测量的准确性。
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公开(公告)号：CN113686428B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202111000185.2
申请日：2021-08-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明属于光学计量技术领域，公开了一种低温辐射计吸收腔，包括：离轴椭球面光阑、斜口‑斜底圆柱腔、斜底面；离轴椭球面光阑采用在离轴椭球面开圆孔制作；斜口‑斜底圆柱腔采用圆柱腔线切割制作，斜口‑斜底圆柱腔一端为斜口，另一端为斜底；斜底面为椭圆形；离轴椭球面光阑的切面与斜口‑斜底圆柱腔的斜口端面重合并连接，斜底面与斜口‑斜底圆柱腔的斜底端面重合并连接。本发明采用离轴球面光阑，光阑与腔体的连接面与圆柱的轴线之间夹角和吸收腔斜底所在平面与圆柱的轴线之间夹角互余，形成多次反射结构，减少入射到腔中的辐射通过镜面反射和漫反射溢出腔外，从而有效形成光陷阱，使入射到腔中的辐射经过多次反射后被近似完全吸收。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113687507B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202110997954.4
申请日：2021-08-27
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于超高真空应用技术领域，涉及一种应用于光学校准装置的超高真空多光路切换机构，包括布儒斯特真空窗口及其安装机构、平板玻璃真空窗口及其安装机构、法兰真空窗口及其安装机构、双面反射镜、抽气接口、光路连接法兰、密封波纹管、真空穿仓平面旋转机构、垂直旋进机构、光路转换真空室抽气接口和光路连接法兰。本发明机构可以通过穿仓平面旋转机构和垂直旋进机构控制双面反射镜的角度和高度，在保证真空光路内超高真空环境不被破坏的前提下，实现激光偏振单色光、可见‑红外单色仪出射的非偏振单色光以及紫外‑真空紫外单色仪出射的非偏振单色光等三个光路的快速切换，大幅提高宽波段光学探测器校准的效率。
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公开(公告)号：CN113582162B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202110997955.9
申请日：2021-08-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: C01B32/15
Abstract: 本发明光学吸收领域，公开了一种高光学吸收碳纳米材料，其包括：碳黑和通过化学气相沉积法在碳黑表面生长的具有陷光能力的碳纳米墙，利用墙体之间间隙结构实现对光的吸收。本发明采用射频等离子增强化学气相沉积工艺，利用惰性气体增加等离子能量密度的方式，在还原性气体氢气的作用下将碳源气体的化学键打开，经过成核、迁移、取向和生长等过程在碳黑表面构建垂直排列的碳纳米墙，等效折射率接近1，具有很好的界面阻抗匹配，入射光几乎无反射地穿过材料表面进入墙体的间隙空间中，经过多次墙体间反射最终被吸收转换成热能，在这些物理机制共同作用下，实现在紫外‑可见光波段的高效光学吸收。
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公开(公告)号：CN115824398A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211558853.8
申请日：2022-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/04
Abstract: 本发明公开了一种基于光压的激光功率测量装置，其特征在于，包括：防风舱、第一反射镜、第二反射镜、轻质双面反射镜、自准直仪；双面反射镜布置在防风舱内，其一侧表面为激光反射面，另一侧表面为自准直仪反射面，自准直仪正对自准直仪反射面布置，用于检测双面反射镜是否静止稳定，第一反射镜、第二反射镜布置在激光反射面一侧；防风舱上设置入射窗口和出射窗口，第一反射镜布置在入射窗口内侧，第二反射镜布置在出射窗口内侧，待测激光经由入射窗口入射至第一反射镜并反射至双面反射镜，经双面反射镜反射后经由第二反射镜反射，并由出射窗口射出。本发明极大地简化了传统的大功率激光功率测量装置，提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN115585756A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211295298.4
申请日：2022-10-21
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光束检测定位的同轴度测量装置，结构为：导轨一安装在第一多维调整台上，准直光源安装在导轨一上，导轨二安装在第二多维调整台上，成像CCD安装在导轨二上；第一多维调整台安装在待测轴一上，第二多维调整台安装在待测轴二上；移动准直光源到位置一，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置一；移动准直光源到位置二，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置二；通过光斑中心位置一和位置二以及准直光源在导轨上移动的距离，算出待测轴一的轴线位置；同样的方法转动轴二，计算出轴二的位置；将轴一与轴二的位置比较，算出两轴的同轴度误差。本发明结构简单，易于实现，不会引入其他测量误差。
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公开(公告)号：CN115031662A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210481414.5
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种非接触式扫描反射镜大动态角度测量装置，包括：激光发射模块、空间滤波器、接收屏、分布式探测系统和主控计算机；激光发射模块产生圆形光斑作为测量目标，经过空间滤波器整形后进入被测扫描反射镜，经被测扫描反射镜反射后在接收屏接收激光光斑；分布式探测系统对接收屏上的激光光斑进行探测分析，将采集到的数据经缓存后上传至主控计算机；当被测扫描反射镜运动时，接收屏上的光斑图像位置发生变化，由此计算被测扫描反射镜的偏转角度。本发明实现了扫描反射镜大动态角度的绝对测量，可以达到亚像素级别的位置精度，并且误差不会随着角度的增加而增加；可以避免自准直仪测量时十字线目标亮度损失较大的问题。
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