一种基于介质超表面的全stokes偏振测量仪

    公开(公告)号:CN116358705A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310433233.X

    申请日:2023-04-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于介质超表面的全stokes偏振测量仪,属于光学器件技术领域。包括一层介质超表面和探测器阵列,探测器阵列位于介质超表面的焦平面处。本发明提供的基于介质超表面的全stokes偏振测量仪,其所依附的设计框架可任意选择感兴趣的目标偏振态和它们各自的聚焦点,可以容易地实现传统设计思路无法实现的正四面体分布的目标偏振态探测。相较于现有的对正多面体分布的六种偏振态探测的设计有着更小的体积,相较于现有的对非正多面体分布的四种偏振态探测的设计有着更小的噪声干扰。

    一种强度-时间积分型快速偏振成像方法及装置

    公开(公告)号:CN114216562B

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202111542560.6

    申请日:2021-12-16

    Abstract: 本发明公开了一种强度‑时间积分型快速偏振成像方法及装置,该装置包括成像镜头、中空高速电机、高精度同轴编码器、偏振片、光强探测器、同步控制模块、数据采集及信号处理模块。本发明基于旋转偏振片偏振成像探测原理,将偏振片安装于中空高速电机上高速旋转,并采用高精度同轴编码器实时测量偏振片瞬时角度,实现对成像镜头收集的入射光高速、高精度线偏振调制;同时,采集光强探测器对连续旋转偏振片瞬态偏振调制后的强度进行时间积分,并利用集成于数据采集及信号处理模块中的数据反演方法和冗余复用算法反演入射光偏振参数,实现对目标场景快速、高精度偏振成像探测。本发明从原理上解决偏振片连续旋转引入的偏振调制强度时间积分效应。

    用于SERF原子自旋陀螺仪激光偏振稳定装置及陀螺仪及方法

    公开(公告)号:CN114440854B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202210065960.0

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于SERF原子自旋陀螺仪的激光偏振稳定装置,其分光棱镜的透射光为输出光路,分光棱镜的反射光为监测光路;监测光路输出至偏振分光棱镜,偏振分光棱镜将输入的监测光路分成两路监测光,该两路监测光的分光比由监测光路的偏振方向决定;第一光电探测器、第二光电探测器接收所述两路监测光,并将光功率转化为电信号输出至控制线路,控制线路处理电信号,并通过测得的分光比变化输出控制信号至高精度电动可调节1/2波片,高精度电动可调节1/2波片接收输出光路并接收控制线路的控制信号,通过调节主轴角度调节输出光路的偏振方向。本发明布局合理,工艺实施方便,实现对激光器输出激光偏振方向的准确监测和调节,适用于SERF陀螺仪等系统。

    一种基于三维光线追迹的晶体电光调制方法

    公开(公告)号:CN116183183A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310450190.6

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本发明涉及一种基于三维光线追迹的晶体电光调制方法,包括:根据晶体的主轴折射率,确定晶体的种类、光轴朝向、通光方向及外加电压方向;根据晶体的通光口径,晶体两端电压,晶体的电光系数确定折射率变化;确定电光调制时激光射入晶体时入射角和方位角的变化范围,并根据入射角和方位角计算入射光矢量和折射光矢量;再根据菲涅尔方程,计算两条折射光线的折射率以及在晶体内传播时产生的相位差;当晶体通电后,晶体由单轴晶体变为双轴晶体,分别计算出两光轴的三维坐标,再根据折射光矢量计算出折射光线的偏振方向矢量,以确定偏振方向矢量与光轴面的夹角;根据相位差和偏振方向矢量与光轴面的夹角,计算出晶体电光调制的光强。

    一种用于非简并偏振纠缠源制备与测量的装置

    公开(公告)号:CN116164850A

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202111406131.6

    申请日:2021-11-24

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本申请提供了一种用于非简并偏振纠缠源制备与测量的装置,包括制备模块、分光器、光处理模块和采集模块。采用单向泵浦激光器作为光发射源,利用双周期结构特性的波导样品、光束聚焦透镜和光束偏振器构成纠缠源制备模块,制备纠缠的信号光子。将波导工艺和周期极化晶体制备方法结合,使波长具有可扩展性。同时,波导工艺提升了非线性晶体对光的束缚能力,使纠缠源制备模块纠缠原产率变高。又通过畴调控技术在非线性晶体上引入两个周期,解决了非线性晶体每一个倒格矢只提供一个角动量无法满足单向泵浦条件的问题。双周期结构可以同时满足两个非线性过程,从而省去了设计极化周期间距的环节,使制备方法具有一般性。

    基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数测量装置和方法

    公开(公告)号:CN115931131A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211476306.5

    申请日:2022-11-23

    Abstract: 一种基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数测量装置和方法,属于偏振测量领域。基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数的测量方法所采用的测量,该装置包括:激光器,第一线偏振片,偏振器件,达曼光栅,第一透镜,第一半波片,第二半波片,第三半波片,四分之一波片,波片载具,第二透镜,第三透镜,第二线偏振片以及CCD相机;激光的出射光束通过第一线偏振片和偏振器件后生成偏振光束,通过达曼光栅后被均匀分束成四束相同的光束,四束光分别通过四个不同的波片,最后通过第二线偏振片后被CCD相机采集。根据CCD相机单次采集的四束光强分布就能够测量得到偏振光束的全场斯托克斯参数,并能够进一步重建得到全场的偏振态分布。本发明技术可以对动态变化的偏振光束进行实时的斯托克斯参数测量。

    基于一阶矢量扰动理论的多涂层目标偏振测量装置与方法

    公开(公告)号:CN115656051B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211575647.8

    申请日:2022-12-09

    Abstract: 基于一阶矢量扰动理论的多涂层目标偏振测量装置与方法,涉及多涂层目标的探测与识别技术领域,解决了现有技术缺少对多涂层目标探测和识别的问题。所述装置包括光源装置、偏振相机、接收装置、控制装置、静态测量导轨、机械转台、动态测量导轨、轴承支架和底座;所述光源装置和接收装置均安装在动态测量导轨上;所述偏振相机安装在静态测量导轨上;所述光源装置、接收装置和机械转台均与控制装置连接;所述静态测量导轨和动态测量导轨的两端均与轴承支架连接所述机械转台固定在轴承支架上;所述轴承支架固定在底座上。

    一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法

    公开(公告)号:CN112082651B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202010919156.5

    申请日:2020-09-04

    Abstract: 本发明提供一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法:将用于全保偏Sagnac闭合光路装配的Y波导和保偏光纤环先后连接成非闭合光路和闭合光路,并分别接入光学相干域偏振测量仪中进行测量,结合二阶偏振串扰效应,可以获得闭合光路中所有连接点的一阶偏振串扰、保偏光纤环全长度的分布式偏振串扰和Y波导芯片消光比等全部偏振特性信息。该方法实现了全保偏Sagnac闭合光路装配过程中偏振特性的测量,可广泛用于闭合光路中所有光学器件和连接点的分布式偏振串扰的监测和评价,对于高性能干涉型光学传感器的研制具有重要意义。

    一种穆勒矩阵同步测量系统和方法

    公开(公告)号:CN115876650A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202310166267.7

    申请日:2023-02-27

    Abstract: 一种穆勒矩阵同步测量系统和方法,涉及穆勒矩阵测量技术领域,解决了现有穆勒矩阵测量系统得到的偏振信息缺乏真实性的问题。系统包括偏振光发射装置、海雾发生装置和偏振光接收装置;首先利用海雾发生装置模拟海雾环境,模拟的海雾环境更真实并且发生的散射现象真实性更高;其次通过偏振光发射装置和偏振光接收装置进行偏振光发射与接收,并通过偏振光接收装置进行穆勒矩阵同步测量,计算退偏图像和双向衰减图像,并测量海雾发生装置中多层海雾的光学厚度;最后通过偏振分析仪的数值、穆勒矩阵图像、退偏图像和双向衰减图像来分析海雾环境下传输介质的散射规律,并通过测量得到的海雾发生装置的光学厚度辅助分析海雾环境下传输介质的散射规律。

    偏振激光雷达系统
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115808245A

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN202310087837.3

    申请日:2023-02-09

    Abstract: 本申请公开了一种偏振激光雷达系统,应用于光学技术领域。该系统包括激光器、回波信号接收模块及回波信号采集处理模块。其中,回波信号采集处理模块包括电控检偏器、一个光电探测器、一个单通道的数据采集卡和处理器。电控检偏器,用于在处理器的控制下进行旋转,将回波信号接收模块出射的回波信号依次分离为P分量和S分量进行出射;光电探测器,用于采集P分量和S分量,并将采集数据传输至数据采集卡。本申请可以简单、高效且精准地实现偏振信息的测量。

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