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公开(公告)号：CN119688073A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411927974.4
申请日：2024-12-25
Applicant: 深圳市麓邦技术有限公司
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及光学设备技术领域，公开一种偏振测量仪的校准方法及系统，以提升校准精度。本发明方法包括：确定用于调整起偏偏振片与检偏偏振片夹角的迭代步长；在每个迭代过程中，获取探测器采集的波片旋转一周所对应的光强变化曲线，对该光强变化曲线做快速傅里叶变换后得到一组系数，根据该组系数计算起偏偏振片与检偏偏振片夹角在每个迭代过程所对应的R值；绘制起偏偏振片与检偏偏振片夹角与R值的曲线，在该曲线中，查找相隔90°且R值相差最接近0的两夹角，确定该两夹角所对应的起偏偏振片与检偏偏振片夹角为±45°关系；以起偏偏振片与检偏偏振片夹角为±45°为基准，旋转检偏偏振片以与作为基准的起偏偏振片平行。
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公开(公告)号：CN115335684B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202180022393.4
申请日：2021-12-27
Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司
IPC: G01N21/21 , G01N21/3563 , G01N21/3581 , G01N21/359 , G01J3/00 , G01J3/12 , G01J4/00 , G02F1/35
Abstract: 椭偏计、偏振计、反射计和分光光度计系统包括一个或多个波长修改器，其将由电磁辐射源提供的波长转换为用于在调查样品中使用的不同的波长，和/或其检测器可以检测的波长。
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公开(公告)号：CN119354336A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411908158.9
申请日：2024-12-24
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种基于电光采样的太赫兹偏振测量方法和系统，属于光谱检测领域，该系统包括飞秒脉冲单元、太赫兹产生单元、偏振调制单元和平衡探测单元。其中，偏振调制单元，用于将所述探测光调制为双偏振探测光，双偏振探测光具有两种偏振状态，两种偏振状态间隔分布在所述双偏振探测光的脉冲序列中；平衡探测单元，用于将太赫兹脉冲光的S光分量和P光分量的电场信号分别调制在双偏振探测光的相邻的两个脉冲上，由平衡探测器探测太赫兹脉冲光的全时域波形。本发明提供的技术方案通过偏振调制单元将两种不同偏振状态间隔加载在探测光的相邻脉冲当中，使得单次扫描就能测量S分量和P分量的电场信号，不仅提高了探测效率，而且提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN119349498A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411884245.5
申请日：2024-12-20
Applicant: 睿创微电子(烟台)有限公司
Abstract: 本发明涉及红外成像领域，公开了一种像元结构及其制作方法、非制冷红外偏振探测器，包括：像元阵列、封装结构和光学隔离体；所述像元阵列包括多个像元，所述封装结构位于所述像元的上方并对所述像元进行封装；所述封装结构包括封装基体层和微偏振片结构层，所述封装基体层与所述像元连接，所述微偏振片结构层位于所述封装基体层的上表面；所述微偏振片结构层具有纳米线栅结构；所述光学隔离体位于相邻两个所述像元之间。本发明在相邻像元之间设有光学隔离体，可有效减小甚至消除相邻像元之间的光学串扰，有效提高偏振探测器的消光比，从而获得更高的偏振探测精度。
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公开(公告)号：CN119349497A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411884174.9
申请日：2024-12-20
Applicant: 睿创微电子(烟台)有限公司
Abstract: 本发明涉及红外成像领域，公开了一种像元结构及其制作方法、非制冷红外偏振探测器，包括：像元阵列和封帽结构，像元阵列包括多个像元，封帽结构位于像元的上方并对像元真空封装；封帽结构包括封帽支撑层、微偏振片结构层、红外窗口层和通道；封帽支撑层与像元连接，微偏振片结构层和红外窗口层依次层叠在位于封帽支撑层的上表面；通道贯穿微偏振片结构层和封帽支撑层，红外窗口层填满通道；微偏振片结构层具有纳米线栅结构。封帽结构对像元进行真空封装，即本发明采用像元级封装，避免繁杂和昂贵的常规真空封装流程，提升封装效率，降低封装成本，可以降低探测器的体积和重量，使得器件具有小型化和轻量化的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119310440A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411863746.5
申请日：2024-12-17
Applicant: 浙江老鹰半导体技术有限公司
Abstract: 本申请提供了一种VCSEL芯片测试方法及其系统。VCSEL芯片测试方法，应用于多通道VCSEL芯片测试装置，多通道VCSEL芯片测试装置包括驱动测试板、运动模块和用于执行不同的测试项目的多个测试设备，驱动测试板包括多个测试孔位，各测试孔位分别用于连接对应的VCSEL芯片，以提供驱动信号至相连接的VCSEL芯片，运动模块分别与多个测试设备连接，用于带动相连接的测试设备移动至目标位置执行测试；VCSEL芯片测试方法包括：根据各VCSEL芯片对应的目标测试项目确定目标测试设备；根据各VCSEL芯片对应的目标测试孔位的孔位编号规划各目标测试设备的测试路线；目标测试孔位为连接有VCSEL芯片的测试孔位；控制运动模块依次带动各目标测试设备沿测试路线对VCSEL芯片进行测试。
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公开(公告)号：CN119104156A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411508973.6
申请日：2024-10-28
Applicant: 东北师范大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种基于超表面的自驱动偏振探测器，属于偏振探测技术领域。基于超表面的自驱动偏振探测器，包括衬底，衬底的上表面设置有若干个超表面结构单元，超表面结构单元包括金属贴片和底层贴片，金属贴片位于底层贴片的上方，金属贴片具有非中心对称结构。金属贴片为Y型金属贴片，Y型金属贴片的材料为金，底层贴片的材料为石墨烯。采用本发明所述的基于超表面的自驱动偏振探测器及应用，当偏振光照射至探测器表面时，金‑石墨烯超表面会产生与位移电流类似的矢量光电流，根据光电流大小和方向的差异，实现对偏振光的检测，具有体积小、集成化程度高的优点。
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公开(公告)号：CN111964783B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202010870215.4
申请日：2020-08-26
Applicant: 清华大学深圳国际研究生院
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种偏振片和偏振测量装置。偏振片包括至少一个起偏部，每一个起偏部用于将光线过滤，以形成线偏振光，线偏振光用于照射被测物体，并用于照射被测物体后反射出去。至少一个检偏部，检偏部的数量与起偏部的数量相同，每一个检偏部与其中一个起偏部在偏振片上呈中心对称分布，检偏部用于过滤从被测物体反射出去的线偏振光。通过在一片偏振片上设置中心对称的起偏部与检偏部，在同一片偏振片上就可以完成不同偏振角度的起偏与检偏操作，简化了设计检测装置的复杂结构，便于检测装置微型化。
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公开(公告)号：CN112577602B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202011515072.1
申请日：2020-12-21
Applicant: 江西万骏光电有限公司
Inventor： 曹俊诚
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于远红外激光技术领域，具体地说，是一种迈克尔逊干涉式远红外光偏振态的转换装置及其实现方法，包括：第一线偏振片、动镜、定镜、第二线偏振片、透镜以及探测器。本发明所提出的远红外光偏振态转换装置可以实现线偏振光到近圆偏振光再到线偏振光的周期性调节与转换，具有工作波长范围宽，偏振态转换效果好等优点，与传统45度入射线偏振片方式相比，本发明利用迈克尔逊干涉原理，可以任意调节两束会合激光的光程差，突破了偏振状态转换和调节过程受平面反射镜与线偏振片距离的限制，降低了转换和调节的难度，实现了更宽波长范围远红外光偏振态的转换和调节，同时本发明还可以使两束会合激光完全重合，提高了合束激光偏振态的信噪比。
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公开(公告)号：CN118583289A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410659160.0
申请日：2024-05-27
Abstract: 本发明一种基于分振幅结构的多光谱偏振成像系统属于偏振探测识别技术领域，包括光谱系统和光场系统；在光谱系统中包含有四个滤光片与四个透镜，每片滤光片分别放置在透镜前端，当入射光进入光谱系统时，光被滤光片分为四种不同的波长，这四种波长的光经过透镜的调制后，形成了不同的光场分布，进而进入光场系统；在光场系统中，采用共光路分振幅偏振成像结构，结合光谱系统传输而来的不同波长的图像信息，经过一次曝光即可获取动态场景0°，45°，90°，135°四通道多波长偏振态特征，基于级联能量分光棱镜与线偏振片，相对应的偏振信息成像于CMOS图像传感器中。采用上述偏振成像系统不但可以利用不同物质表面的不同偏振特征进行目标的探测，而且在多波长信息的加持下，使得目标信息更加多元化。
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