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公开(公告)号：CN1920535A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：CN200610010535.2
申请日：2006-09-13
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提供了一种基于数字处理芯片的荧光寿命的测量装置，利用光电探测器接收荧光信号，经过信号放大、模数转换后送入数字处理芯片，在数字处理芯片中完成快速傅立叶变换，得到的对应频谱项的幅角，再利用公式在处理芯片中完成荧光寿命的计算，将测得的荧光寿命输出或显示，或者作为参考信号给出所测的其它参数(如温度等)，最后通过用异步接收发送器将测得的荧光寿命及其它参量送入计算机。本发明具有实现荧光寿命测量的高速、高精度、不受本地噪声影响、低成本、小型化等特点，是新一代荧光寿命的测量装置。
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