公开(公告)号：CN104958061A

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201510451028.1

申请日：2015-07-28

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 刘国忠 ,  孟浩 ,  李萍 ,  燕必希 ,  王晓飞

IPC: A61B3/12 ,  A61B3/14

Abstract: 本发明提供了一种近红外双目立体视觉三维成像的眼底OCT成像方法及其系统，解决了OCT信号的相位以及空间位置和角度的三维校正不精确的问题，该方法包括：双目立体视觉成像系统、眼底OCT系统进行同步采集；利用双目立体视觉系统自标定结果，获取OCT坐标系到双目立体视觉坐标系之间旋转矩阵ROI和平移向量TOI，并对视网膜表面血管分叉点三维坐标重建；获取双目立体视觉坐标系到人眼坐标系旋转矩阵RIE和平移向量TIE；提取视网膜B扫描图像；利用旋转矩阵ROI和平移向量TOI，实现B扫描图像从OCT坐标系到双目立体视觉坐标系的转换；利用旋转矩阵RIE和平移向量TIE,实现B扫描图像从双目立体视觉坐标系到人眼坐标系的转换；通过在人眼坐标系中对转换后B扫描图像插值，获得空间均匀分布的三维OCT图像。

公开(公告)号：CN102818523B

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201210262125.2

申请日：2012-07-26

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 燕必希 ,  刘力双 ,  邓文怡 ,  祝连庆 ,  宗敏

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明涉及一种小工件视觉测量方法及测量系统，其中方法包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到测量系统的高度标定参数；利用测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对测量系统进行平面二维尺寸标定，得到每一分层高度对应的平面标定参数；将平面标定参数与高度标定参数进行拟合，建立平面标定参数和高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量被测工件的台阶面的高度；通过被测工件的台阶面的高度、该被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和对应关系获取被测工件的测量参数。本发明可以实现对被测工件的不同高度平面几何尺寸的测量，并提高被测工件测量的准确性。

公开(公告)号：CN104036542A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201410214980.5

申请日：2014-05-21

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 王君 ,  董明利 ,  孙鹏 ,  燕必希 ,  娄小平

IPC: G06T17/00 ,  G06T7/00

Abstract: 本发明提出了一种基于空间光线聚集性的像面特征点匹配方法，在唯一的三维空间，根据像面特征点对应重建光线的聚集性分析，实现特征点匹配，从而利用被测空间的唯一性，将二维的匹配问题回归到三维空间解决，包括如下步骤：(1)空间光线重建；(2)确定光线聚集阈值；(3)光线聚集性判断；(4)像面特征点匹配；(5)同名点合并。

公开(公告)号：CN102865857B

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201210323184.6

申请日：2012-09-04

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 董明利 ,  王君 ,  孙鹏 ,  祝连庆 ,  娄小平 ,  燕必希

IPC: G01C11/00

Abstract: 本发明涉及一种摄影测量图像匹配方法，该方法包括：步骤1、分布标定摄像机的内方位参数初值和外方位参数初值；步骤2、根据内方位参数初值和外方位参数初值获取位于测量场中的多个测量点对应的像点的极线，基于极线匹配方法对多个测量点进行图像匹配，获取基于极线匹配的匹配点集；步骤3、将初值和匹配点集进行光束法平差，获取摄像机的内方位参数优化值和外方位参数优化值；步骤4、将优化值替代初值，迭代执行步骤2~步骤4，直至匹配点集中的测量点的特征同名点的个数不再增加，从而得到测量点的最终图像匹配结果。本发明实施例提供的摄影测量图像匹配方法提高了摄影测量过程中图像匹配的准确度。

公开(公告)号：CN102818523A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201210262125.2

申请日：2012-07-26

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 燕必希 ,  刘力双 ,  邓文怡 ,  祝连庆 ,  宗敏

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明涉及一种小工件视觉测量方法及测量系统，其中方法包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到测量系统的高度标定参数；利用测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对测量系统进行平面二维尺寸标定，得到每一分层高度对应的平面标定参数；将平面标定参数与高度标定参数进行拟合，建立平面标定参数和高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量被测工件的台阶面的高度；通过被测工件的台阶面的高度、该被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和对应关系获取被测工件的测量参数。本发明可以实现对被测工件的不同高度平面几何尺寸的测量，并提高被测工件测量的准确性。

公开(公告)号：CN101694370B

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200910092676.7

申请日：2009-09-15

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 董明利 ,  祝连庆 ,  吕乃光 ,  燕必希 ,  杨健 ,  陈瑞保

IPC: G01B11/00 ,  G01C11/00

Abstract: 本发明公开了一种大尺寸工业摄影测量系统的空间误差场获取方法及基准装置，包括：采用激光跟踪仪从基准装置中获取到反射靶点的第一三维坐标信息，所述第一三维坐标信息形成空间基准场；采用摄影测量系统从所述基准装置中获取到反射靶点的第二三维空间坐标信息，所述第二三维空间坐标信息形成空间测量场；通过所述空间基准场和所述空间测量场获取空间误差场。本发明提供的大尺寸工业摄影测量系统的空间误差场获取方法及基准装置，根据空间基准场和空间测量场获取到空间误差场，通过空间误差场分析摄影测量系统中的误差来源，进一步提高摄影测量系统在大尺寸工业摄影测量中的测量精度。