公开(公告)号：CN110856821A

公开(公告)日：2020-03-03

申请号：CN201810957453.1

申请日：2018-08-22

Applicant: 厦门大学 ,  厦门万泰凯瑞生物技术有限公司

Inventor： 葛胜祥 ,  苏晓崧 ,  张师音 ,  张东旭 ,  闵小平 ,  曾俊添 ,  熊君辉 ,  张军 ,  夏宁邵

IPC: B01L3/00

Abstract: 本发明涉及一种试剂储存模块、其与连通器的组合及微流控芯片，其中，试剂储存模块包括：模块主体；试剂仓，设于所述模块主体内，用于储存试剂；第一通道，设于所述模块主体内，第一端与所述试剂仓连通；第二通道，设于所述模块主体内，第一端与所述试剂仓连通；密封组件，设于所述模块主体，用于将所述第一通道的第二端和所述第二通道的第二端封闭；在所述密封组件失效的状态下：所述第一通道的第二端与所述模块主体的外部连通，所述第一通道用于将试剂仓内的液体引至所述模块主体的外部；所述第二通道的第二端与所述模块主体的外部连通，所述第二通道用于将所述模块主体的外部的气体引至所述试剂仓内。本发明用于试剂的长期密封保存。

公开(公告)号：CN110560184A

公开(公告)日：2019-12-13

申请号：CN201810573810.4

申请日：2018-06-06

Applicant: 厦门大学 ,  厦门万泰凯瑞生物技术有限公司

Inventor： 闵小平 ,  葛胜祥 ,  张师音 ,  张东旭 ,  苏晓崧 ,  付达 ,  翁振宇 ,  陈文堤 ,  翁祖星 ,  宋浏伟 ,  张军 ,  夏宁邵

IPC: B01L3/00

Abstract: 本公开涉及一种微流控芯片、微流控反应系统及反应方法。微流控芯片(100)包括：反应芯片本体(110)，具有至少一个流道和至少一个反应腔(131，132，133)，所述至少一个流道分别与所述至少一个反应腔(131，132，133)直接连通或阀控连通；和取样机构，设置在所述反应芯片本体(110)上，并与所述至少一个流道连通，用于从独立于所述微流控芯片(100)的试剂存储结构(200)提取试剂样本，并提供给所述反应腔(131，132，133)。通过在反应芯片本体上设置取样机构，并利用取样机构对独立于微流控芯片的试剂存储结构提取试剂样本，这样就能减少或消除对反应芯片本体内试剂存储和释放结构的依赖，从而简化微流控芯片的整体结构设计，降低芯片的保存要求。

公开(公告)号：CN103776478B

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201410048416.0

申请日：2014-02-12

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭隐彪 ,  张东旭 ,  杨平 ,  杨旭

IPC: G01D11/00

Abstract: 一种用于检测平台的待测元件定位装置，涉及元件定位装置。设有旋转平台、旋转基座、换挡机构、粗调机构、矩形磁铁块、角度显示器、微调机构、固定块、非接触式传感器、PC机；换挡机构设有曲轴、曲轴固定底座、换挡上限位块、换挡下限位块和手柄；粗调机构设有粗调丝杆螺母、粗调丝杆、粗调丝杆螺母底座、粗调齿条、粗调旋钮、粗调限位块；微调机构的结构与粗调机构相同，微调丝杆螺母和微调丝杆的螺距远小于粗调丝杆螺母及粗调丝杆的螺距；粗、微调机构调节范围分别为-5°～5°和-1°～1°。可对工件的摆放角度精确调整，安装简便，操作简单，可进行微调和粗调，保证定位精度。不影响检测平台的检测精度，可与大多数检测平台联合使用。

公开(公告)号：CN102645202B

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201210145591.2

申请日：2012-05-11

Applicant: 厦门大学

Inventor： 王振忠 ,  叶卉 ,  张东旭 ,  白志扬 ,  郭隐彪

IPC: G01B21/20

Abstract: 大口径非球面工件轮廓的测量方法，涉及一种非球面工件的测量。将等分的N段轮廓测量数据建立各自的局部坐标系，取L1段测量轮廓上的m个重叠测点进行最小二乘线性拟合得到轮廓特征线P1，再取L2段前端的m个重叠测点，同样利用最小二乘线性拟合得到轮廓特征线P21，然后以L1段轮廓所建坐标系为参考坐标系，对轮廓特征线P21进行坐标变换至与轮廓特征线P1重合，完成L1和L2段拼接。同理，可获得其他相邻两段测量轮廓的两两拼接，完成N段轮廓的拼接测量，并对拼接得到的完整工件轮廓曲线进行去倾斜处理，最终得到完整的工件表面轮廓特征。该方法可实现高精度小量程测量设备检测大口径元件。精度较高、通用性较好。

公开(公告)号：CN102528639B

公开(公告)日：2014-07-23

申请号：CN201210018648.2

申请日：2012-01-20

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭隐彪 ,  潘日 ,  张东旭 ,  杨峰 ,  陈梅云

IPC: B24B37/005

Abstract: 大口径平面光学元件抛光盘表面平整性在线检测系统，涉及一种光学元件的检测。设有2个DSP摄像头、支撑架、数据传输装置和计算机；所述支撑架固定在防震块上，所述支撑架和防震块一起锁于机床床身上并处于竖直方向，所述2个DSP摄像头设于支撑架下方，2个DSP摄像头间的距离为人眼距离，每个DSP摄像头与水平方向呈5～10°角，2个DSP摄像头的重合拍摄区域径向长度为抛光盘的半径，通过设置抛光机床旋转轴的转速以及2个DSP摄像头同时拍摄的时间，产生2张不同角度的画面形成视差，然后通过数据传输装置将采集到的2张带有视差的图像输出至计算机进行处理。

公开(公告)号：CN103776478A

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201410048416.0

申请日：2014-02-12

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭隐彪 ,  张东旭 ,  杨平 ,  杨旭

IPC: G01D11/00

Abstract: 一种用于检测平台的待测元件定位装置，涉及元件定位装置。设有旋转平台、旋转基座、换挡机构、粗调机构、矩形磁铁块、角度显示器、微调机构、固定块、非接触式传感器、PC机；换挡机构设有曲轴、曲轴固定底座、换挡上限位块、换挡下限位块和手柄；粗调机构设有粗调丝杆螺母、粗调丝杆、粗调丝杆螺母底座、粗调齿条、粗调旋钮、粗调限位块；微调机构的结构与粗调机构相同，微调丝杆螺母和微调丝杆的螺距远小于粗调丝杆螺母及粗调丝杆的螺距；粗、微调机构调节范围分别为-5°～5°和-1°～1°。可对工件的摆放角度精确调整，安装简便，操作简单，可进行微调和粗调，保证定位精度。不影响检测平台的检测精度，可与大多数检测平台联合使用。

公开(公告)号：CN103616008A

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201310616664.6

申请日：2013-11-28

Applicant: 厦门大学

Inventor： 毕果 ,  胡陈林 ,  郭隐彪 ,  叶卉 ,  林桂丹 ,  张东旭 ,  吴海韵

IPC: G01B21/30

Abstract: 一种表面粗糙度仪探针保护装置，涉及表面粗糙度仪。设有支撑架结构、缓冲端帽结构、探针端部结构；支撑架结构设有支撑架、电磁铁和控位弹簧；支撑架左右两侧设有线圈，线圈和电磁铁相连接；电磁铁安装在支撑架底座上；控位弹簧安装在支撑架的上部中心位置；缓冲端帽结构设有缓冲端帽、小支架；缓冲端帽设有蝶形槽轨和小支架连接帽；缓冲端帽和支撑架之间通过控位弹簧连接；小支架上设有支撑脚，小支架安装在缓冲端帽上的小支架连接帽上，小支架与小支架连接帽之间螺接；探针端部结构设有微型滑轮、检出器、螺母、定位片、中轴、探针，中轴两端设有螺纹；中轴安装在检出器上，中轴左右两侧安装定位片、微型滑轮、螺母。方便、快捷，容易控制。

公开(公告)号：CN103438800A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310383473.X

申请日：2013-08-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭隐彪 ,  张东旭 ,  杨平 ,  杨炜 ,  王詹帅

IPC: G01B11/00

Abstract: 用于大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算方法，涉及光学元件检测。将空间误差分解为X、Y平面内误差和该平面沿Z轴运动后由Z轴所引起的误差，综合利用这两部分误差值，通过分别对X、Y两轴联动误差、Z轴定位误差进行多项式拟合以及将Z轴实际运动轨迹分别向ZO1X和ZO1Y平面垂直投影和解多个相关直角三角形的方法计算出空间误差值。因为所应用的误差值均可通过已有设备进行测量，从而实现了大口径光学元件精密检测平台的空间误差计算。

公开(公告)号：CN103056776A

公开(公告)日：2013-04-24

申请号：CN201210501191.0

申请日：2012-11-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭隐彪 ,  张东旭 ,  刘强 ,  王振中 ,  潘日

IPC: B24B55/00

Abstract: 用于磨床加工环境监测系统的数据采集与传输同步化方法，属于精密磨削加工技术领域。所述的精密磨床加工环境监测系统设有母板电路板、电源电路板、视频采集与无线通讯电路板、传感器信号采集电路板和子系统多功能接口电路板。1）将监测系统的视频采集与无线通讯电路板的采样周期T作为监测系统的硬件同步信号，视频采集与无线通讯电路板第k个采样时刻对应的时间值为tk，设定监测系统各个电路板采集数据的方式为等距采集，在母板电路板上安装硬件定时器，分别测出各个电路板采集数据的时刻与同步信号之间的时间差值Δtk；2）计算出（tk-Δtk）时刻的数据变化率3）计算出监测系统在同步信号时刻的采集数据值。

公开(公告)号：CN102152238B

公开(公告)日：2012-08-15

申请号：CN201110024135.8

申请日：2011-01-21

Applicant: 厦门大学

Inventor： 彭云峰 ,  郭隐彪 ,  张东旭

IPC: B24B53/06 ,  B24B55/02

Abstract: 一种超声振动在线砂轮修整的磨削加工方法及其装置，涉及砂轮修整方法及其装置。提供一种结构简单、控制精度高、使用方便的超声振动在线砂轮修整的磨削加工方法及其装置。设有支架、振动轴、纵向压电陶瓷、横向压电陶瓷、修整块、冷却液喷管、第一波函数发生器、第一功率放大器、第二波函数发生器和第二功率放大器；振动轴安装在支架上，纵向压电陶瓷与振动轴轴向连接，横向压电陶瓷与振动轴径向连接，修整块安装在横压电陶瓷上，第一波函数发生器接第一功率放大器，第一功率放大器接纵向压电陶瓷，第二波函数发生器接第二功率放大器，第二功率放大器接横向压电陶瓷，冷却液喷管置于支架上。将支架安装在磨床上，可对砂轮进行在线磨削修整。