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公开(公告)号：CN1934622B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200580008662.2
申请日：2005-03-03
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
IPC: G11B7/00
Abstract: 本发明提供了一种在记录介质上记录或再现数据的方法和设备，包括：在记录介质上记录或再现用于多个驱动器的再现兼容性的至少一个控制数据，所述控制数据管理对记录介质的访问，所述控制数据包括控制数据的更新版本和在记录更新版本之前记录的控制数据的先前存储版本；以及在所述记录介质上记录或再现控制数据的状态信息，所述状态信息指示控制数据的先前存储版本为无效，而控制数据的更新版本为有效。
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公开(公告)号：CN1989554B
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：CN200580024310.6
申请日：2005-07-20
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
CPC classification number: G11B27/32 , G11B7/00736 , G11B19/122 , G11B20/00086 , G11B20/00152 , G11B20/00695 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B2020/1288 , G11B2220/21 , G11B2220/2541
Abstract: 公开了一种记录介质以及控制对该记录介质的访问的方法和设备。提取预先记录在记录介质上的物理访问控制(PAC)信息。随后，从该PAC信息提取PAC标识。当PAC标识为已知时，使用包含在PAC信息中的第一控制信息控制对该记录介质的访问。或者，当PAC标识为未知时，使用包含在PAC信息中的第二控制信息控制对该记录介质的访问。
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公开(公告)号：CN101635152A
公开(公告)日：2010-01-27
申请号：CN200910163735.5
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00375 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/24038 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明涉及一种缺陷区域管理方法及装置。揭示了一种管理具有至少一个记录层的只写一次的光学记录介质上的缺陷的方法。管理至少一记录层上缺陷的方法包括以下步骤：将至少一个替换区域和多个临时缺陷管理区域分配到光学记录介质，其中临时缺陷管理区域分开提供，并将缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区域的至少一个上。
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公开(公告)号：CN101572098A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200710148221.3
申请日：2004-12-30
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
IPC: G11B7/0037 , G11B20/12
Abstract: 一种诸如高密度和/或光学记录介质等其上包括物理访问控制(PAC)信息的记录介质，以及用于向该记录介质记录和从该记录介质再现的设备和方法，目的在于增强数据保护、数据管理和/或再现兼容性。
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公开(公告)号：CN100545917C
公开(公告)日：2009-09-30
申请号：CN200580018954.4
申请日：2005-06-17
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/00736 , G11B20/00086 , G11B20/0013 , G11B20/00695
Abstract: 公开了一种记录介质，以及重格式化该记录介质的方法和设备。该重格式化记录介质的方法包括以下步骤：(a)读取多个记录单元中的多个记录介质物理访问控制信息；以及(b)一旦接收到与这多个记录单元相关联的重格式化命令，即对每个记录单元执行初始化过程，其中初始化过程是根据记录在每个记录单元中的信息的属性而不同地执行的。因此，可高效地重格式化包含在高密度光盘中的PAC区。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100541611C
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN03821406.7
申请日：2003-09-30
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/10009 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 提供一种用于管理记录介质上缺陷区的方法和设备。所述方法包括：在进行数据写入操作时，数据一经写入数据区，则在该记录介质的数据区内检测存在的缺陷区；如果检测到缺陷区，则将写入缺陷区的数据写入数据区的备用区；将与缺陷区相关的临时缺陷列表写入该记录介质的临时缺陷列表区；以及在所述记录介质的临时盘定义结构区中写入包括用于指示该临时缺陷列表位置的信息的临时盘定义结构。
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公开(公告)号：CN100474403C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN03812082.8
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B20/10009 , G11B20/1883 , G11B20/22 , G11B2020/1288 , G11B2220/20 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种用于管理一次性写入光记录介质的有缺陷的区域的方法和一种使用其的光记录介质。该方法包括步骤：首先，在预先确定的区域中写入替换数据，该替换数据对应于在数据再现操作期间检测到的有缺陷的区域；其次，在预先确定的区域中写入定位器信息，该定位器信息表示有缺陷的区域和相应的替换数据各自的位置；和第三，在引入区域中写入辅助访问指针，该访问指针用于访问在预先确定的区域中写入的定位器信息。预先确定的区域可以位于数据区之内或者位于数据区之外，在一次性写入型光盘，诸如BD-WO光盘上记录数据之后，当主机新近检测到有缺陷的区域的时候，该预先确定的区域存储使得可以进行数据读取操作的辅助缺陷列表信息。
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公开(公告)号：CN100458933C
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：CN200480020471.3
申请日：2004-07-09
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
IPC: G11B7/0045 , G11B20/12
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1235 , G11B2020/1265 , G11B2020/1285 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/235 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一次写入光记录介质和用于将管理信息记录在该记录介质上的方法和装置。该记录装置至少包括一个记录层和该记录层上的SRR信息。所述SRR信息关于至少一个SRR且包括一报头、一SRR条目和一终结器。SRR条目列表包括多个SRR条目，该SRR条目的每一个关于一SRR并包括至少一个状态区域，用于将会话开始信息存储于其中。
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公开(公告)号：CN100424759C
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200480026217.4
申请日：2004-08-04
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容彻
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1217 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了用于在光盘上记录管理信息的一次写入光盘以及方法和装置。光盘包括至少一个记录层和该至少一个记录层上的多个临时缺陷管理区(TDMA)。至少一个TDMA包括指示器，它指示哪一个TDMA具有使用中的状态。
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公开(公告)号：CN101252016A
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN200810082036.3
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。
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