光束偏振变化测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN113686444A

    公开(公告)日:2021-11-23

    申请号:CN202110685062.0

    申请日:2021-06-21

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本公开的各实施例涉及提供了一种光束偏振变化测量装置及其方法。该装置包括:光源装置,其用于发射预定波长的检测光束;起偏装置,其用于使检测光束起偏,并且将起偏后的偏振光入射至待测样品;检偏装置,其用于接收从待测样品透射或反射的光,并且将经透射或反射的光分解成两束偏振方向相互正交的第一偏振光束和第二偏振光束;平衡探测装置,其适于探测所述第一偏振光束和第二偏振光束之间的光强差,以便基于所述光强差测量所述待测样品所引起的偏振变化;以及温控装置,其适于检测和控制所述起偏装置的环境温度,并且将所述起偏装置的环境温度抖动控制在±0.03度的范围内。

    石英玻璃窗偏振效应原位校准的光学常数测量方法及装置

    公开(公告)号:CN112378859B

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202011067230.1

    申请日:2020-10-05

    Abstract: 本发明公开了石英玻璃窗偏振效应原位校准的光学常数测量方法及装置,属于偏振光学测量领域,包括:建立变温椭偏测量装置中石英玻璃窗在斜入射情况下的穆勒矩阵W和变温椭偏测量装置中高温加热腔内样品的理论穆勒矩阵MS;穆勒矩阵W中包括椭偏参数Ψ2和Δ2以及参数m13,穆勒矩阵MS中包括椭偏参数Ψ1和Δ1;根据W和MS建立变温椭偏测量装置的整体穆勒矩阵为M=WMSW,并归一化为矩阵Mn,由此得到Ψ2、Δ2、m13、Ψ1、Δ1以及Mn中各元素之间的关系;将样品加热至不同的温度,并测量各温度下的光谱穆勒矩阵,以计算各温度下Ψ1和Δ1的光谱,并反演拟合得到样品的高温光学常数。本发明能够对石英玻璃窗的偏振效应进行原位校准,保证了样品高温光学常数的测量精度。

    一种基于磁光检测的有效电光系数测量装置及方法

    公开(公告)号:CN111398218B

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202010208439.9

    申请日:2020-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法,包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器,线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中,该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数,测量范围较大,稳定性较高。

    一种椭圆偏振光测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN109270000B

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN201710894030.5

    申请日:2017-07-18

    Abstract: 本发明提供一种椭圆偏振光测量装置,其包括依次经光路连接的光源、起偏器、样品架、集成检偏器以及探测器组件;所述样品架用于放置待测样品,光源发出的光线经过起偏器照射到待测样品,待测样品将光反射到所述集成检偏器;所述集成检偏器包括多个偏振器,每个偏振器的方位角在0‑180°之间分布,从待测样品反射出来的光线入射到偏振器;所述探测器组件包括多个探测器,所述探测器与所述偏振器一一对应设置,独立检测每一偏振器的光学信号。本发明所提供的高速椭圆偏振光测量系统具有采样效率更高,可以快速获取偏振器接近纳秒级别的高速动态参数的优点,本发明还提供一种椭圆偏振光测量方法。

    一种空间调制偏振检测系统及设计方法

    公开(公告)号:CN113447126A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202110790721.7

    申请日:2021-07-13

    Abstract: 本发明提供一种空间调制偏振检测系统及设计方法,用于对待测样品的偏振特性进行检测,属于光学设计技术领域,该系统包括光源、偏振态产生器、空间光滤波器、准直透镜、相位延迟器、偏振态分析器、聚焦透镜、探测器及数据处理模块;该系统还包括四分之一波片,所述四分之一波片设置于相位延迟器与准直透镜之间;所述四分之一波片的快轴方位角为所述由所述偏振态系数对比度最大来确定。本申请选取四分之一波片的最优快轴方位角使强度分布模型中的模型参数有最大的对比度,以使得拟合解算偏振态过程中有全局最优解,来提高偏振态的解算精度。

    部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113375790A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110633291.8

    申请日:2021-06-07

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量方法及系统,其方法包括:将待测部分相干矢量光束的各个方向分离;对分离的每个方向的光束分别引入三次不同相位赋值的扰动,并对扰动后的每个方向的光束进行傅里叶变换;记录每个方向的光束在三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强;根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强,通过反傅里叶变换得到待测部分相干矢量光束的各项交叉谱密度矩阵元。本发明简单可行,在不引入参考臂、不引入透镜以及不需要知道光源信息的情况下,实现对部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量,适用于具有复杂实数和虚数结构的部分相干矢量场。

    一种高效率全Stokes分量偏振测量方法

    公开(公告)号:CN113359069A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110624212.7

    申请日:2021-06-04

    Abstract: 本发明公开了一种高效率全Stokes分量偏振测量方法,包括:设计偏振测量装置,所述偏振测量装置包括一片λ/2微相位延迟器阵列、一片3λ/4微相位延迟器阵列、一片线性偏振片,优化得到两个微相位延迟器阵列内各微相位延迟器的快轴方位角;基于优化结果,得到两块微相位延迟器阵列和线性偏振片的排布;入射光进入偏振测量装置,对应得到4种偏振调制后的光强信号L1,L2,L3,L4;由光强信号L1,L2,L3,L4解算得到全Stokes分量(s0,s1,s2,s3)T,其中T表示向量转置符号。本发明的方法可实现线偏振分量和圆偏振分量的测量效率相同,且总体效率最大化,有利于减小测量过程中的不确定度,提升测量效率。

    偏振光性能的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN113340424A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110680091.8

    申请日:2021-06-18

    Inventor: 周辉 乔晟

    Abstract: 本发明提供一种偏振光性能的检测方法和检测装置。所述检测方法中,首先待测偏振光束入射到反射式平行光管的主镜表面且经反射汇聚后形成汇聚偏振光,汇聚偏振光束以避开反射式平行光管的次镜的路径传播,然后对汇聚偏振光束进行检偏,接着检测汇聚偏振光束中的偏振分量光束的光强度,之后计算待测偏振光束的消光比。利用上述检测方法对待测偏振光束进行检测,可以避免次镜对待测偏振光束的偏振性能的影响,提高消光比的检测准确度,有助于准确评估待测偏振光束的偏振性能。所述检测装置中,量子通讯终端发出的待测偏振光束入射到反射式平行光管的主镜表面并反射汇聚,形成的汇聚偏振光束以避开次镜的路径传播。

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