一种用于CMOS传感器的测试方法

    公开(公告)号:CN106993184A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710196074.0

    申请日:2017-03-29

    CPC classification number: H04N17/00

    Abstract: 本发明涉及一种用于CMOS传感器的测试方法,主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题,本发明通过采用包括平行光灯箱;数量为N的无镜头CMOS传感器,无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应;与无镜头CMOS传感器连接的测试板,测试板包括用于采集信号数据的图像传感器;无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板,所述测试板固定板固定连接于升降台;所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接,所述控制单元还与升降台连接,所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案,较好的解决了该问题,可用于CMOS传感器性能测试中。

    一种二维码解码算法对比验证系统

    公开(公告)号:CN106934313A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710177262.9

    申请日:2017-03-23

    CPC classification number: G06K7/10821 G06K7/1417

    Abstract: 本发明涉及一种二维码解码算法对比验证系统,主要解决现有技术中存在的对比结果准确度低,操作复杂的技术问题,本发明通过采用包括扫码枪,与扫码枪连接的开关电路转接装置,ARM处理器及上位机,开关电路转接装置还与MIPI解码装置及FPGA芯片连接;ARM处理器还与MIPI解码装置、上位机及FPGA芯片连接;MIPI解码装置还与FPGA芯片相连,可用于二维码算法的实际设计中。

    一种应用于IC测试的高低温测试装置

    公开(公告)号:CN106908711A

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201710066043.3

    申请日:2017-02-06

    Abstract: 本发明涉及一种应用于IC测试的高低温测试装置,主要解决了现有技术中存在的不能够在不开启高低温箱时对单个异常的集成电路进行异常排查与修正,也不能够彻底的将不能修正或测试完成的集成电路的电源断开,进入静默状态的技术问题。本发明通过包括上位机,与上位机相连的硬件电路,与所述硬件电路连接的多个IC;所述硬件电路包括处理器,与所述处理器并连连接的电源模块,电流监控模块,电压监控模块及开关模块的测试装置,较好的解决了该问题,可用于IC的工业生产中。

    一种微波移相器
    84.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106887654A

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201710133139.7

    申请日:2017-03-08

    CPC classification number: H01P1/18

    Abstract: 本发明涉及一种微波移相器,主要解决现有技术中存在的相移精度低,相移量小的技术问题。本发明通过采用一种微波移相器,包括用于输出偏振光的窄线宽分布式反馈激光器;与窄线宽分布式反馈激光器依次连接保偏光纤耦合器,强度型光调制器,单模光纤耦合器,磁光开关;与磁光开关并联连接的电动光纤延迟线及电控压电陶瓷光纤延迟线;与所述电动光纤延迟线及电控压电陶瓷光纤延迟线共同连接的单模光纤耦合器;与所述单模光纤耦合器连接的高速光电探测器;与强度型光调制器连接的强度型光调制器控制单元及射频信号输入端口的技术方案,较好的解决了该问题,可用于微波移相器的工业生产中。

    一种CMOS传感器测试方法
    85.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106841989A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710075470.8

    申请日:2017-02-13

    Abstract: 本发明涉及一种CMOS传感器测试方法,主要解决现有技术中存在的不能够自动测试多种光照条件下的图像质量,不能对漏电现象进行测试的技术问题。本发明通过采用用于采集数据的数据采集装置及与用于控制所述数据采集装置统计测试总数量及各类不良数量的软件平台,数据采集装置包括待测CMOS传感器,开短路测试模块,与开短路测试模块连接的图形测试模块,漏电测试模块及系统电源模块的技术方案,较好的解决了该问题,可用于CMOS传感器的工业生产中。

    一种具有能够测试并实时反馈的IC电气特性测试装置

    公开(公告)号:CN106841979A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201611234013.0

    申请日:2016-12-28

    CPC classification number: G01R31/2879

    Abstract: 本发明公开了电气测试装置领域的一种能够测试并实时反馈的IC电气特性测试装置。所述测试装置包括MCU控制器,第一低压差线性稳压器模块(LDO1)、第二低压差线性稳压器模块(LDO2)、输入保护电路、LCD显示模块、按键模块、电源档位电路模块、电源干扰电路模块、过流保护电路模块、待测IC模块;测试方法,包括对过流监控设置电流门限值,电流超过电流门限值切断供电;对输入保护电路设置电压门限值,输入电压超过电压门限值,切断电源。主要解决现有技术中存在的不能连续测试,不能实时反馈的问题。

    一种超宽带相位噪声测试系统的使用方法

    公开(公告)号:CN106771688A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710130664.3

    申请日:2017-03-07

    CPC classification number: G01R29/26

    Abstract: 本发明涉及一种超宽带相位噪声测试系统的使用方法,主要解决了当前相位噪声测试系统精度低、误差大,系统结构复杂、成本高,不易实现超宽带测试和自适应测试的问题。所述系统包括调制控制模块,与调制控制模块相连接的光调制模块,与光调制模块相连接的光电探测模块,与光电探测模块相连接的低通滤波器,与低通滤波器相连接的计算机。本发明采用基于平衡光电探测器的设计方案较好的解决了该问题,能够用于超宽带射频微波信号相位噪声的测试。

    一种果蔬清洗设备及使用方法

    公开(公告)号:CN112120249B

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202010998475.X

    申请日:2020-09-22

    Inventor: 陈爱英

    Abstract: 本发明公开了一种蔬果清洗设备,涉及食品安全领域,包括:筛选机构、清洗机构、沥水机构、蔬果从筛选漏斗进入筛选机构内部,通过设置在筛选机构内部的筛选盒进行向下幅度的摆动,将蔬果进行清洗,在通过设置在筛选盒上的筛选盒顶柱对筛选盒进行倾侧,使筛选盒内的蔬果排出,排出的蔬果进入设置在筛选机构左侧的清洗机构,通过臭氧对蔬果表面的农药残留进行清洗,最后进入沥水机构,使用多个沥水盒将蔬果进行沥水,在蔬果被取出后,沥水盒掉落后,因惯性重新安装在轨道上,继续装载蔬果并对其沥水。

    一种扬声器自动装配设备

    公开(公告)号:CN108322884B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN201810223742.9

    申请日:2018-03-19

    Inventor: 卢平

    Abstract: 本发明公开了一种扬声器自动装配设备,包括机架(0),胶罐控制柜(1),操作面板(2),上料平台(3),回转输送机构(4),磁铁装配机构(5),外壳翻转机构(6),防尘网装配机构(7),胶片装配机构(8),补胶下料机构(9),本发明结构简单,占地面积小,生产成本低,生产效率高,成品质量高,极大地提高了扬声器的性能,适应市场需求。

    一种包装压力传感器的包装装置

    公开(公告)号:CN111907756A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202010909724.3

    申请日:2020-09-02

    Inventor: 陈爱英

    Abstract: 本发明公开了一种包装压力传感器的包装装置,主要以解决现有的压力传感器依靠人工包装劳动强度大,包装费时费力并不能形成一个快速的流水线包装的问题。包括第一传输带,所述第一传输带为竖向设置,第一传输带上放置有包装箱;所述包装箱中装有装载盘,所述装载盘中设置有两排多个的圆形放置口,放置口中可载放压力传感器;第二传输带;第三传输带,所述第三传输带设置在所述第二传输带的右边;转运机构,所述转运机构设置在所述第二传输带与所述第三传输带之间,所述转运机构用于将装载盘转运;第四传输带,所述第四传输带设置在所述第三传输带上。本发明获得了对压力传感器快速装箱、减轻工人劳动力、提高包装生产的优点。

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