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公开(公告)号：CN106934313B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201710177262.9
申请日：2017-03-23
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
Abstract: 本发明涉及一种二维码解码算法对比验证系统，主要解决现有技术中存在的对比结果准确度低，操作复杂的技术问题，本发明通过采用包括扫码枪，与扫码枪连接的开关电路转接装置，ARM处理器及上位机，开关电路转接装置还与MIPI解码装置及FPGA芯片连接；ARM处理器还与MIPI解码装置、上位机及FPGA芯片连接；MIPI解码装置还与FPGA芯片相连，可用于二维码算法的实际设计中。
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公开(公告)号：CN106771689B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201710130665.8
申请日：2017-03-07
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明涉及一种超宽带相位噪声测试系统，主要解决了当前相位噪声测试系统精度低、误差大，系统结构复杂、成本高，不易实现超宽带测试和自适应测试的问题。所述系统包括调制控制模块，与调制控制模块相连接的光调制模块，与光调制模块相连接的光电探测模块，与光电探测模块相连接的低通滤波器，与低通滤波器相连接的计算机。本发明采用基于平衡光电探测器的设计方案较好的解决了该问题，能够用于超宽带射频微波信号相位噪声的测试。
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公开(公告)号：CN106950011A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710144120.2
申请日：2017-03-13
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01L25/00
CPC classification number: G01L25/00
Abstract: 本发明涉及一种压力传感器测试装置，主要解决当前手工生产的FPC压力传感器无法实现高效、精确、自动化测试的技术问题。本发明通过采用机械工具加电子数据处理的技术方案，能够对FPC压力传感器测试结果进行实时显示并对产品进行等级划分，实现了FPC压力传感器的快速、高效、精准测试，有效提高了测试的自动化程度高，较好的解决了该问题，可用于FPC压力传感器的工业生产中。
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公开(公告)号：CN106949838A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710159760.0
申请日：2017-03-17
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
Abstract: 本发明涉及一种光纤位移传感系统，主要解决现有技术中存在的环境适应性差、环境因素影响大、稳定性差的技术问题，本发明通过采用包括信号源、待测物体，与信号源连接的二等分功分器；二等分功分器第一输出端连接直调激光器；直调激光器连接光纤位移传感探头；光纤位移传感探头与高速光电探测器连接；IQ混频器射频输入端与所述高速光电探测器，本振输入端与二等分功分器第二输出端连接，输出端依次连接后处理模块；信号源用于输出微波信号，微波信号经二等分功分器后通过直调激光器变为光载波信号；高速光电探测器用于转换光波信号为微波信号的技术方案，较好的解决了该问题，可用于光纤位移传感器的工业生产中。
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公开(公告)号：CN106918424A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201710144118.5
申请日：2017-03-13
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01L25/00
CPC classification number: G01L25/00
Abstract: 本发明涉及一种基于压力传感器测试装置的测试方法，主要解决当前手工生产的FPC压力传感器无法实现高效、精确、自动化测试的技术问题。本发明通过采用机械工具加电子数据处理的技术方案，能够对FPC压力传感器测试结果进行实时显示并对产品进行等级划分，实现了FPC压力传感器的快速、高效、精准测试，有效提高了测试的自动化程度高，较好的解决了该问题，可用于FPC压力传感器的工业生产中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106908715A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710176054.7
申请日：2017-03-23
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种用于线性传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试过程复杂，测试精度低的技术问题，本发明通过采用所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机，所述FPGA还与光源模块连接，较好的解决了该问题，可用于线性传感器的工业生产中。
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公开(公告)号：CN106768623A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710102460.9
申请日：2017-02-28
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01L25/00
CPC classification number: G01L25/00
Abstract: 本发明涉及一种用于笔尖压力传感器生产测试的方法，解决现有技术中存在的产品一致性不高，可靠性低，测试繁琐的技术问题。通过采用所述装置包工作台，钢网，中央控制器，与所述中央控制器连接的机械1，机械2，设有刮刀的机械3，包括N个吸嘴的机械4，设有下压块的机械5，机械6及ADC采样模块，ADC采样模块还与所述机械5相连的技术方案，较好的解决了该问题，能够用于笔尖压力传感器的工业生产中。
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公开(公告)号：CN107121077A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710259114.1
申请日：2017-04-19
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
Abstract: 本发明涉及一种基于光谱干涉装置的测量系统，主要解决现有技术中存在的测量精度不足的技术问题，本发明通过采用所述测量系统包括光源，与光源依次连接的扩束准直透镜、起偏器、检偏器、自聚焦透镜、光谱仪及数据处理单元；待测双折射晶体连接于所述起偏器与检偏器之间；所述起偏器用于将经扩束准直透镜输出的平行光起偏为线偏振光；所述起偏器(的偏振轴与待测双折射晶体的任意偏振轴有夹角θ；检偏器与待测双折射晶体的任意偏振轴夹角为45度的技术方案，较好的解决了该问题，可用于双折射晶体厚度测量。
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公开(公告)号：CN106973287A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201710196104.8
申请日：2017-03-29
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: H04N17/00
CPC classification number: H04N17/00
Abstract: 本发明涉及一种用于CMOS传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定架固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。
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公开(公告)号：CN106936498A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201710130677.0
申请日：2017-03-07
Applicant: 张家港市欧微自动化研发有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: H04B10/079 , H04B10/275 , H04B10/50 , H04B10/548 , G01R29/26
Abstract: 本发明涉及一种基于超宽带相位噪声测试系统的信号分析方法，主要解决了当前相位噪声测试系统精度低、误差大，系统结构复杂、成本高，不易实现超宽带测试和自适应测试的问题。其特征在于：所述系统包括调制控制模块，与调制控制模块相连接的光调制模块，与光调制模块相连接的光电探测模块，与光电探测模块相连接的低通滤波器，与低通滤波器相连接的计算机。本发明采用基于平衡光电探测器的设计方案较好的解决了该问题，能够用于超宽带射频微波信号相位噪声的测试。
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