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公开(公告)号：CN119717772A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411887834.9
申请日：2024-12-19
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 一种芯片自测试系统及测试方法，芯片自测试系统包括：测试机以及被测芯片，其中：测试机，与被测芯片耦接，适于向被测芯片烧录测试程序，获取被测芯片反馈的温感电压转换码以判断被测芯片是否异常；被测芯片包括电源管理模块、存储器、微控制器核、模数转换器以及温度传感器，其中：电源管理模块为被测芯片提供工作电压和参考电压；存储器存储测试程序；微控制器核读取测试程序并运行；温度传感器，采集被测芯片的实时温度并转换成温感电压输出至模数转换器；模数转换器将温感电压转换成对应的温感电压转换码并通过微控制器核输出至测试机。采用上述方案，对MCU芯片进行测试时无需占用较多的测试机资源。
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公开(公告)号：CN119596111A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411787123.4
申请日：2024-12-05
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种芯片测试的资源防呆方法及装置、芯片测试系统，该方法包括：对测试组中测试工位进行编号，并依序设置对应各测试工位的非对称资源，以使测试机台根据非对称资源对待测芯片进行测试，以确定是否有连接错误。相应地，在将测试组中的所有待测芯片依序放置到测试板的对应测试工位上，并且连接机台测试资源至各测试工位的接口后，根据设置的非对称资源对待测芯片进行测试；如果有测试工位的测试结果固定失效，则确定有连接错误，从而可使工作人员及时更正相应的连接错误，避免由于操作错误引起测试结果错误，从而保证测试顺利进行。利用本发明方案，可以简单、有效地实现芯片测试的资源防呆，进而保证测试结果的准确性，有效地避免了对芯片的误宰或误放。
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公开(公告)号：CN119574924A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411728746.4
申请日：2024-11-27
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
Abstract: 本申请提供一种ESD测试治具及方法，该治具包括：可移动支架、以及设置在所述可移动支架上的支撑装置；支撑装置用于放置待测设备，待测设备包括一个或多个测试点；可移动支架用于通过支撑装置带动待测设备在水平方向移位，使当前测试点与静电枪头对准，然后带动待测设备在垂直方向移位，使当前测试点与静电枪头接触或分离。利用本申请方案，可以方便地实现静电枪头与测试点的准确定位和有效接触，并可实现测试点的快速切换，进而提升ESD测试的准确性和一致性，提升测试效率。
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公开(公告)号：CN113595451B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202111005901.6
申请日：2021-08-30
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
Abstract: 本申请提供一种多电机运行控制系统，包括电流采集装置、模数转换装置、数字逻辑控制装置、PWM开关控制装置和N个三相逆变桥电路。电流采集装置用于获取N个电机中每个电机运行时的三相电流和母线电流，其中，N为大于零的整数；模数转换装置将N个电机的三相电流和母线电流转换为数字信号；数字逻辑控制装置用于对数字信号进行FOC算法逻辑处理后输出脉冲宽度调制信号；PWM开关控制装置用于接收脉冲宽度调制信号，根据脉冲宽度调制信号输出控制信号；N个三相逆变桥电路用于根据PWM开关控制装置输出的控制信号控制N个电机的运行电流。本申请提供的多电机运行控制系统适用于不同场景下多台电机的运行控制，使用方便。
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公开(公告)号：CN114840048B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202210552393.1
申请日：2022-05-20
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司 , 青岛海尔洗衣机有限公司
IPC: G05F1/56
Abstract: 本发明公开了一种低压差线性稳压电路、芯片以及终端设备，所述低压差线性稳压电路包括：基准电压生成单元，用于生成基准电压，并输出至电压转换单元；电压转换单元，用于根据所述基准电压生成稳压电压，并选择性地输出所述稳压电压，所述稳压电压大于等于所述基准电压。通过本发明技术方案能够有效地缩小电路面积，降低电路的功耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118747261A
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202410714262.8
申请日：2024-06-03
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: G06F17/18 , G06F17/16 , G01R31/367 , G01R31/385 , G01R31/387 , G01R31/374
Abstract: 本发明公开了一种电池SOC估算方法及装置，该方法包括：根据电池模型，确定状态量及所述状态量的初始值，所述状态量包括电池SOC；确定优化的状态转移方程，所述优化的状态转移方程为：#imgabs0##imgabs1#其中，SOCt、SOCt+Δt分别表示t时刻和t+Δt时刻的电池SOC值，Qt、Qt+Δt分别表示t时刻和t+Δt时刻的放电容量，ΔQ表示基于两时刻实时电流和温度的放电容量差值，It表示t时刻的电池负载电流，η为库伦效率系数；利用EKF算法及优化的状态转移方程计算得到电池SOC值。利用本发明方案，可以提高电池模型参数精度，进而提高电池SOC估算精度。
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公开(公告)号：CN108904130B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN201810769405.X
申请日：2018-07-13
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: A61F9/06
Abstract: 一种电焊镜，包括：控制器、弧光检测电路、镜片变光电路以及镜片，其中：所述弧光检测电路，与所述控制器以及所述镜片变光电路耦接，适于在检测到弧光时生成第一触发信号并输出至所述控制器以及所述镜片变光电路；所述控制器，包括第一触发信号检测端，所述第一触发信号检测端与所述弧光检测电路耦接；所述控制器适于在接收到所述第一触发信号时被唤醒；所述镜片变光电路，与电源、所述弧光检测电路以及所述镜片耦接，适于在接收到所述第一触发信号时，在所述电源与所述镜片之间形成通路，以使得所述电源向所述镜片供电；所述镜片，适于在上电时变光。上述方案可以提高电焊镜的镜片变光响应速度。
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公开(公告)号：CN117074902A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310910062.5
申请日：2023-07-21
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种芯片测试系统，包括：测试信号产生单元、K个第一开关单元以及K个测试接口，其中：测试信号产生单元，包括M层串联的电源资源组，其中：第i层电源资源组包括N个并联的电源资源，第M层电源资源组包括K个电源资源，K个电源资源的第一端均输出目标测试信号；K个第一开关单元中，第j个第一开关单元的第一端与K个电源资源中第j个电源资源的第一端耦接，第j个第一开关单元的第二端与第j个测试接口耦接，第j个第一开关单元的控制端输入测试激励信号；K个测试接口中，第j个测试接口设置有待测试芯片；1≤i≤M‑1，1≤j≤K。上述方案，能够提供高测试电压、大过流能力的测试信号，且能够快速上下电。
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公开(公告)号：CN116380267A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310301445.2
申请日：2023-03-24
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
IPC: G01K7/01
Abstract: 一种温度传感电路，包括温度检测单元以及数据处理单元，其中：所述温度检测单元，与所述数据处理单元耦接，适于生成与当前所处环境的温度对应频率的温度检测信号并输出；所述温度检测单元包括温感模块，所述温感模块由N个PMOS管组成，且N个PMOS管的栅极、漏极互相连接；N≥2；所述数据处理单元，适于接收所述温度检测信号，根据所述输出信号的频率确定当前所处环境的温度值。采用上述方案，能够简化温度传感器电路的电路结构，降低工艺复杂度。
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公开(公告)号：CN110134424B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN201910410888.9
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海东软载波微电子有限公司
Abstract: 一种固件升级方法及系统、服务器、智能设备、可读存储介质，所述固件升级方法，包括：将目标固件对应的数据进行分割，得到N个数据段，每个所述数据段存在一一对应的完整性验证信息；分别将每个数据段及对应的完整性验证信息组成一个数据包，并采用包密钥对每个数据包进行加密，得到N个加密数据包；其中，每个数据包均存在一一对应的包密钥；向智能设备发送所述目标固件对应的数据信息，所述数据信息包括：所述目标固件容量、加密数据包的数目N以及所述目标固件的版本信息；在接收到所述智能设备发送的成功接收所述数据信息的反馈信息后，向所述智能设备发送N个加密数据包。采用上述方案，能够提高远程进行固件升级时数据传输的安全性。
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