半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN117276341A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202310737782.6

    申请日:2023-06-20

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件,该半导体器件包括:基板;有源区,在基板上在第一方向上延伸;栅极结构,在基板上在第二方向上延伸并包括栅电极;源极/漏极区,提供在有源区上在栅极结构的至少一侧;层间绝缘层,覆盖栅极结构;第一接触结构,在栅极结构的至少一侧连接到源极/漏极区;以及栅极接触结构,至少部分地穿过层间绝缘层并连接到栅电极,其中栅极接触结构包括:第一层,包括导电材料;第二层,提供在第一层上,通过第一层与层间绝缘层间隔开,并包括第一杂质;以及第三层,提供在第二层上并包括第二杂质。

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