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公开(公告)号:CN103622666B
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201310227326.3
申请日:2013-06-08
CPC classification number: G01B9/02091 , A61B5/0066
Abstract: 本发明公开一种具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法。所述断层图像产生装置包括:光源单元,发射用于扫描物体的光;光学控制单元,控制光的传播方向;光耦合器,对入射光进行分束并进行合束;多个光学系统,光连接到光耦合器;以及调制和校正器件,对用于扫描物体的光进行调制和校正。调制和校正器件设置在光学控制单元和光耦合器之间。此外,调制和校正器件包括在将光照射到物体上的光学系统中。调制和校正器件可仅对被反射到物体上的光进行调制。
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公开(公告)号:CN103622666A
公开(公告)日:2014-03-12
申请号:CN201310227326.3
申请日:2013-06-08
CPC classification number: G01B9/02091 , A61B5/0066
Abstract: 本发明公开一种具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法。所述断层图像产生装置包括:光源单元,发射用于扫描物体的光;光学控制单元,控制光的传播方向;光耦合器,对入射光进行分束并进行合束;多个光学系统,光连接到光耦合器;以及调制和校正器件,对用于扫描物体的光进行调制和校正。调制和校正器件设置在光学控制单元和光耦合器之间。此外,调制和校正器件包括在将光照射到物体上的光学系统中。调制和校正器件可仅对被反射到物体上的光进行调制。
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公开(公告)号:CN103829924A
公开(公告)日:2014-06-04
申请号:CN201310435950.2
申请日:2013-09-23
CPC classification number: G01B9/02091 , G01B9/02038 , G01B9/02087
Abstract: 本发明公开一种用于产生断层图像的设备和方法,该设备包括:检测单元,将每一束入射光调制成基于至少两个基本调制参数的至少两束基本调制入射光和基于目标调制参数的目标调制入射光,并检测出对象的至少两个基本干涉信号和目标干涉信号;成像单元,分析至少两个基本干涉信号,以输出设定的目标调制参数,所述成像单元将目标干涉信号处理为对象的目标图像,并输出该目标图像。
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公开(公告)号:CN103565415A
公开(公告)日:2014-02-12
申请号:CN201310308798.1
申请日:2013-07-22
IPC: A61B5/00
CPC classification number: G01B9/02091 , G01B9/0201 , G01B9/02083 , G01N2021/1787
Abstract: 提供一种产生层析图像的方法和设备。所述方法和设备确定空间光调制器的至少一个基本图案,其中,空间光调制器根据布置了像素的图案来调制入射光线的相位;通过执行空间移位调制获得基础图案的多个移位图案,其中,所述空间移位调制针对基础图案将像素的布置竖直或水平地移动预定数量;通过使用通过穿过空间光调制器并进入对象的入射光线获得的光线的谱信号,产生基础图案的层析图像和基础图案的多个移位图像的层析图像;基于产生的层析图像,从基础图案和多个移位图案之中选择产生最清晰的层析图像的一个图案;通过使用选择的图案来产生最终层析图像。
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公开(公告)号:CN103829924B
公开(公告)日:2017-05-03
申请号:CN201310435950.2
申请日:2013-09-23
CPC classification number: G01B9/02091 , G01B9/02038 , G01B9/02087
Abstract: 本发明公开一种用于产生断层图像的设备和方法,该设备包括:检测单元,将每一束入射光调制成基于至少两个基本调制参数的至少两束基本调制入射光和基于目标调制参数的目标调制入射光,并检测出对象的至少两个基本干涉信号和目标干涉信号;成像单元,分析至少两个基本干涉信号,以输出设定的目标调制参数,所述成像单元将目标干涉信号处理为对象的目标图像,并输出该目标图像。
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