公开(公告)号：CN101794625A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN201010110966.2

申请日：2010-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵秀行 ,  宋基在 ,  徐成东 ,  河镜虎 ,  金圣九 ,  金永今 ,  赵寅成

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C29/56012 ,  G11C2029/5602 ,  Y10T29/49004

Abstract: 本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电-光信号转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。

公开(公告)号：CN106370991B

公开(公告)日：2020-06-30

申请号：CN201610590051.3

申请日：2016-07-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 尹柱盛 ,  宋基在 ,  张熊镇 ,  崔云燮 ,  金在显

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/01

Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码，以测试至少两个半导体器件。

公开(公告)号：CN102565576A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN201110416659.1

申请日：2011-12-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 宋基在 ,  李成洙

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/31908 ,  G01R31/318513 ,  G01R31/31919

Abstract: 提供一种测试对象的方法以及用于执行测试对象的方法的设备。在测试对象的方法中，可在测试器中设置用于测试对象中的第一装置的第一测试模式。可在测试器和对象之间电气连接的测试头中设置用于测试对象中的第二装置的第二测试模式。第一测试模式可通过测试头被提供给第一装置，第二测试模式可通过测试头被提供给第二装置，以同时测试第一装置和第二装置。因此，彼此不同的第一装置和第二装置可被同时测试而不改变测试器中的测试条件，从而可减少测试对象的时间。

公开(公告)号：CN110890840B

公开(公告)日：2024-12-10

申请号：CN201910846433.1

申请日：2019-09-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 宋基在 ,  柳钟云

IPC: H02M3/158

Abstract: 一种半导体电路，包括：参考电压生成电路，生成第一参考电压；电压控制电路，从参考电压生成电路接收第一参考电压以输出第二参考电压；DC‑DC转换电路，基于从电压控制电路输出的第二参考电压执行DC‑DC转换，并向第一节点提供其输出；电压调节器，基于从参考电压生成电路输出的第一参考电压和第一节点的电压执行电压调节，并向第二节点提供其输出。

公开(公告)号：CN101794625B

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201010110966.2

申请日：2010-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵秀行 ,  宋基在 ,  徐成东 ,  河镜虎 ,  金圣九 ,  金永今 ,  赵寅成

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C29/56012 ,  G11C2029/5602 ,  Y10T29/49004

Abstract: 本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电-光信号转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。

公开(公告)号：CN110890840A

公开(公告)日：2020-03-17

申请号：CN201910846433.1

申请日：2019-09-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 宋基在 ,  柳钟云

IPC: H02M3/158

Abstract: 一种半导体电路，包括：参考电压生成电路，生成第一参考电压；电压控制电路，从参考电压生成电路接收第一参考电压以输出第二参考电压；DC-DC转换电路，基于从电压控制电路输出的第二参考电压执行DC-DC转换，并向第一节点提供其输出；电压调节器，基于从参考电压生成电路输出的第一参考电压和第一节点的电压执行电压调节，并向第二节点提供其输出。

公开(公告)号：CN106370991A

公开(公告)日：2017-02-01

申请号：CN201610590051.3

申请日：2016-07-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 尹柱盛 ,  宋基在 ,  张熊镇 ,  崔云燮 ,  金在显

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/01

Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码，以测试至少两个半导体器件。