公开(公告)号：CN102636636A

公开(公告)日：2012-08-15

申请号：CN201210028574.0

申请日：2012-02-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金弘根 ,  李用九 ,  李英均

IPC: G01N33/50 ,  G01N33/53 ,  B01L3/00

Abstract: 这里公开一种盘型微流器件，其具有改善的结构以在早期阶段检测盘型微流器件的插入错误。该盘型微流器件包括盘型主体和通孔，该通孔穿过该主体的中心部分使得驱动该主体的驱动器件可以连接到该通孔，该通孔形成为关于划分该通孔的厚度的中心线不对称，从而该驱动器件仅沿该主体的一个方向连接到该通孔。

公开(公告)号：CN110249228A

公开(公告)日：2019-09-17

申请号：CN201780085721.9

申请日：2017-06-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金弘根 ,  金承铉 ,  朴姓河 ,  朴志英 ,  宋炅美 ,  李大善 ,  李钟建 ,  崔钟烨 ,  卓裕敬

IPC: G01N35/10 ,  G01N35/00

Abstract: 在此公开了一种具有改进的测试稳定性的流体分析盒以及相关联的流体分析盒组件。流体分析盒组件包括具有样本采集室的样本采集构件和被构造为连接到样本采集构件的流体分析盒。流体分析盒包括样本接收室和至少一个孔，样本接收室被构造为接收由样本采集构件采集的样本，所述至少一个孔被布置在样本接收室的一侧上并且通过样本采集构件与流体分析盒所述至少一个孔的连接而被打开。样本接收室储存将要与样本进行混合的缓冲溶液。

公开(公告)号：CN103185691A

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN201210579250.6

申请日：2012-12-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金弘根 ,  金东映 ,  金忠雄

IPC: G01N21/15 ,  G01N21/59

CPC classification number: G01N35/1081 ,  G01N35/00069

Abstract: 一种试样分析装置设置有于精确的位置使盘的旋转停止的结构。所述试样分析装置包括：盘，构造成在旋转轴上旋转并具有至少一个检测区域；光学传感装置，构造成检测在所述至少一个检测区域上的反应结果；至少一个位置确定突起，设置在所述盘的外表面上；滑动器，在径向上相对于所述盘移动地设置；以及止动器，安装到所述滑动器并构造成通过阻挡所述至少一个位置确定突起使所述盘的转动停止。