存储装置、操作其的方法及电子设备

    公开(公告)号:CN118211620A

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202311113025.8

    申请日:2023-08-31

    Inventor: 金颢渊 尹钟轮

    Abstract: 提供了存储装置、操作其的方法及电子设备。所述存储装置被配置为与主机装置进行通信并且包括存储单元阵列和存储器内处理(PIM)芯片。操作所述存储装置的方法包括:由所述PIM芯片从所述存储单元阵列加载激活数据和权重数据;由所述PIM芯片通过对所述激活数据执行第一修剪运算来生成修剪后的激活数据;由所述PIM芯片将所述修剪后的激活数据提供给所述主机装置;由所述PIM芯片通过对所述权重数据执行第二修剪运算来生成修剪后的权重数据;由所述PIM芯片将所述修剪后的权重数据提供给所述主机装置;以及由所述存储单元阵列存储与基于所述修剪后的激活数据和所述修剪后的权重数据而执行的神经网络运算相对应的输出数据。

    预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及存储设备

    公开(公告)号:CN114664367A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202111227999.X

    申请日:2021-10-21

    Abstract: 提供了预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及执行该方法的存储设备。在预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法中,执行读取序列。所述读取序列包括多个读取操作,所述多个读取操作中的至少一个读取操作被顺序地执行,直到成功地得到所述非易失性存储器件中存储的读取数据。生成序列类别和纠错码(ECC)解码信息。基于所述序列类别和所述ECC解码信息中的至少一者确定所述非易失性存储器件的寿命阶段。当确定所述非易失性存储器件对应于第一寿命阶段时,执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的粗略预测。当确定所述非易失性存储器件对应于所述第一寿命阶段之后的第二寿命阶段,执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的精细预测。

    存储器件、包括其的存储器系统及操作存储器系统的方法

    公开(公告)号:CN119576211A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202410748068.1

    申请日:2024-06-11

    Inventor: 金鹄渊 尹钟轮

    Abstract: 提供了一种存储器件、包括其的存储器系统及操作存储器系统的方法。用于支持机器学习的存储器件包括:第一单元阵列,所述第一单元阵列被配置为以第一精度或第二精度存储权重数据;第二单元阵列,所述第二单元阵列被配置为以所述第一精度存储损失数据;第三单元阵列,所述第三单元阵列被配置为以所述第一精度存储梯度数据;以及计算电路,所述计算电路被配置为在使用所述第一精度和所述第二精度的混合精度训练期间执行与缩放因子对应的乘法运算、除法运算或取整运算中的至少一者。

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