公开(公告)号：CN103838662A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201310581221.8

申请日：2013-11-19

Applicant: 三星电子株式会社 ,  首尔大学校产学协力团

Inventor： 李敏周 ,  伯恩哈德·艾格 ,  李在镇 ,  金永洛 ,  金鸿圭 ,  金洪准

IPC: G06F11/34

CPC classification number: G06F11/3466 ,  G06F11/3409 ,  G06F11/348 ,  G06F2201/86 ,  G06F2201/88

Abstract: 提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统，包括：将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数，其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。

公开(公告)号：CN115936080A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211055404.1

申请日：2022-08-30

Applicant: 三星电子株式会社 ,  首尔大学校产学协力团

Inventor： 权亨达 ,  李在镇 ,  金陈杓 ,  方炳祐 ,  金熙勳 ,  朴大煐 ,  孙晟薰 ,  李承昱 ,  张祐锡 ,  郑宇根 ,  郑载勳 ,  赵在彦

IPC: G06N3/063 ,  G06N3/04 ,  G06F1/3296 ,  G06F1/324

Abstract: 提供了一种用于大规模计算的设备和方法。所述设备包括：至少一个处理装置，被配置为执行与神经网络相关的操作，传感器，被配置为感测所述至少一个处理装置的电特性、所述至少一个处理装置的操作频率和所述至少一个处理装置的温度，和处理器，被配置为基于所述至少一个处理装置的操作模式、所述至少一个处理装置的电特性、所述至少一个处理装置的操作频率和所述至少一个处理装置的温度来计算要分配给所述至少一个处理装置的工作负载，并且基于操作模式和工作负载来控制电特性、操作频率和温度。

公开(公告)号：CN103838539A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201310597957.4

申请日：2013-11-22

Applicant: 三星电子株式会社 ,  首尔大学校产学协力团

Inventor： 李敏周 ,  艾格·伯恩哈德 ,  李在镇 ,  金永洛 ,  金鸿圭 ,  金洪准

IPC: G06F3/14

CPC classification number: G06F11/3409 ,  G06F11/348 ,  G06F2201/86 ,  G06F2201/88 ,  G06F2201/885

Abstract: 本发明提供了一种性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法。所述性能测量单元包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测试单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量。所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。

公开(公告)号：CN103838662B

公开(公告)日：2018-04-24

申请号：CN201310581221.8

申请日：2013-11-19

Applicant: 三星电子株式会社 ,  首尔大学校产学协力团

Inventor： 李敏周 ,  伯恩哈德·艾格 ,  李在镇 ,  金永洛 ,  金鸿圭 ,  金洪准

IPC: G06F11/34

CPC classification number: G06F11/3466 ,  G06F11/3409 ,  G06F11/348 ,  G06F2201/86 ,  G06F2201/88

Abstract: 提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统，包括：将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数，其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。

公开(公告)号：CN118140224A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202280070490.5

申请日：2022-04-11

Applicant: 首尔大学校产学协力团

Inventor： 李在镇 ,  朴大煐 ,  金熙勳 ,  金陈杓

IPC: G06F30/3308 ,  G06F30/398 ,  G06F3/06 ,  G06F7/76

Abstract: 根据本公开的量子电路模拟装置可以包括：存储装置系统，包括一个以上的存储装置；以及主机系统，连接到所述存储装置系统以对量子电路进行模拟，其中，可以将存储在所述存储装置系统中的所述量子电路分割为一个以上的部分电路，使得所述主机系统在主存储器上依次模拟所述一个以上的部分电路。