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公开(公告)号：CN114972185A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210408314.X
申请日：2022-04-19
Applicant: 上海大学
IPC: G06T7/00 , G06T5/00 , G06V10/762 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种基于统计建模的多晶粉末X光衍射图谱的全谱线拟合方法：粉末X光衍射图期望最大化算法全谱线拟合方法(Whole Pattern Fitting of Powder XRD byExpectation Maximum algorithm,简称WPEM)。可用于多晶粉末X光衍射图的全谱拟合,从中提取各衍射峰的峰位、峰宽、峰形、积分衍射强度等晶体结构信息。实现了“统计背底计算”、“组分晶格常数的精确测定”、“组分体积分数的定量测定”等功能。本发明技术能够减少或者消除由衍射几何因素形成的不对称峰形的噪声，可以对混合多晶系的X光衍射图进行全谱线分解和拟合，精确和定量测定各个晶系晶格常数、峰形及各个晶系体积分数。与主流的商用拟合软件Fullprof,TOPAS等相比,显示出更优越的拟合精度。
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公开(公告)号：CN113984813A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111134382.3
申请日：2021-09-27
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N23/20025
Abstract: 本发明提供了一种高通量薄膜晶体结构表征装置及方法，包括电子枪发射机构、面探测器、低温控制系统、样品台控制装置、样品台、真空系统；利用易聚焦的电子束作为探测源，通过聚焦元件的汇聚作用，可将电子束束斑直径缩小至微米量级，从而提高样品表面的空间分辨率；通过对电子束的偏转作用可以改变电子束的入射角，从而可以根据实际实验需求改变样品表面的空间分辨率；通过样品台移动机构可以实现样品台沿平面内的高精度可控移动，并通过逐一扫描各个样品完成高通量薄膜中所有样品的晶体结构表征，可以用于高通量薄膜晶体结构表征。
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公开(公告)号：CN113533397A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110744044.5
申请日：2021-07-01
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N23/20033
Abstract: 本发明提供了一种原位研究二维材料低温晶体结构的装置及方法。包括低温控制系统、RHEED系统、衬底台、衬底台升降器、中空Z轴驱动器、真空系统。通过调节衬底台与换热装置的相对距离在低温和高温两种工作模式间进行切换。低温工作模式：衬底台背面和换热装置底端完全接触，适于二维材料的低温晶体结构测试和低熔点金属薄膜制备；高温工作模式：换热装置远离衬底台，高真空环境保证了极小的气体对流漏热。本发明在RHEED系统中集成低温控制系统，为二维材料的晶体结构测试提供了低温环境。其中，本发明的有益效果是：结构简单，操作方便，适合原位二维材料的低温晶体结构分析且不破坏样品结构。
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公开(公告)号：CN109682847A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201811461910.4
申请日：2018-12-03
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20033 , G01N23/20058
CPC classification number: G01N23/20008 , G01N23/20033 , G01N23/20058
Abstract: 本发明公开了一种组合材料芯片的高通量材料合成及同步辐射光源高通量表征方法，利用化学组合材料芯片的制备方法，与同步辐射光源X射线衍射站高通量表征相结合的高通量材料制备与表征综合系统。采用的原料可以是金属醇盐，硝酸盐，醋酸盐，氯化物。该方法可以利用化学法一次制备上百甚至上千的样品而且样品数量还可以根据实验需求自行调控。同步辐射X射线衍射线站高通量表征自动化平台可以对材料的晶体结构进行快速、高效地测试与解析。将化学组合材料芯片法与高通量表征的自动平台相结合构成的制备与表征系统，不仅可以极大的提高无机材料的制备与表征速度，还可以提高同步辐射光源的利用效率。
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公开(公告)号：CN109682847B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201811461910.4
申请日：2018-12-03
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20033 , G01N23/20058
Abstract: 本发明公开了一种组合材料芯片的高通量材料合成及同步辐射光源高通量表征方法，利用化学组合材料芯片的制备方法，与同步辐射光源X射线衍射站高通量表征相结合的高通量材料制备与表征综合系统。采用的原料可以是金属醇盐，硝酸盐，醋酸盐，氯化物。该方法可以利用化学法一次制备上百甚至上千的样品而且样品数量还可以根据实验需求自行调控。同步辐射X射线衍射线站高通量表征自动化平台可以对材料的晶体结构进行快速、高效地测试与解析。将化学组合材料芯片法与高通量表征的自动平台相结合构成的制备与表征系统，不仅可以极大的提高无机材料的制备与表征速度，还可以提高同步辐射光源的利用效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106191991A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610758457.8
申请日：2016-08-30
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种高通量杂化微波合成法制备多晶材料的方法，以高纯的物质粉末为原料，按摩尔配比在手套箱内称重，充分研磨混合后，利用压片机制成的圆片素坯，将反应物放置在圆柱形氧化铝坩埚中，以SiC做导热材料在微波炉内进行加热。本发明制备方法的优点是可以同时实现多个样品或同个样品不同成分点的高通量制备。利用微波加热，同时以SiC为导热材料，使样品在极短的时间内达到所需的反应温度，实现了快速经济高通量合成。本发明方法实现了材料高通量制备并且克服了样品制备过程中在反应温度和反应时间上存在的限制，实现了材料的高效合成。本发明制备的合成钨青铜系列AxWO（3 A=Na，Ca，B）和稀土钛化物RTiO（3 R是稀土元素）晶体，能广泛应用于磁性,超导及相关材料制备技术领域。
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公开(公告)号：CN114972185B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202210408314.X
申请日：2022-04-19
Applicant: 上海大学
IPC: G06T7/00 , G06T5/73 , G06V10/762 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种基于统计建模的多晶粉末X光衍射图谱的全谱线拟合方法：粉末X光衍射图期望最大化算法全谱线拟合方法(Whole Pattern Fitting of Powder XRD byExpectation Maximum algorithm,简称WPEM)。可用于多晶粉末X光衍射图的全谱拟合,从中提取各衍射峰的峰位、峰宽、峰形、积分衍射强度等晶体结构信息。实现了“统计背底计算”、“组分晶格常数的精确测定”、“组分体积分数的定量测定”等功能。本发明技术能够减少或者消除由衍射几何因素形成的不对称峰形的噪声，可以对混合多晶系的X光衍射图进行全谱线分解和拟合，精确和定量测定各个晶系晶格常数、峰形及各个晶系体积分数。与主流的商用拟合软件Fullprof,TOPAS等相比,显示出更优越的拟合精度。
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公开(公告)号：CN113984813B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202111134382.3
申请日：2021-09-27
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N23/20025
Abstract: 本发明提供了一种高通量薄膜晶体结构表征装置及方法，包括电子枪发射机构、面探测器、低温控制系统、样品台控制装置、样品台、真空系统；利用易聚焦的电子束作为探测源，通过聚焦元件的汇聚作用，可将电子束束斑直径缩小至微米量级，从而提高样品表面的空间分辨率；通过对电子束的偏转作用可以改变电子束的入射角，从而可以根据实际实验需求改变样品表面的空间分辨率；通过样品台移动机构可以实现样品台沿平面内的高精度可控移动，并通过逐一扫描各个样品完成高通量薄膜中所有样品的晶体结构表征，可以用于高通量薄膜晶体结构表征。
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公开(公告)号：CN113533397B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202110744044.5
申请日：2021-07-01
Applicant: 上海大学
IPC: G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N23/20033
Abstract: 本发明提供了一种原位研究二维材料低温晶体结构的装置及方法。包括低温控制系统、RHEED系统、衬底台、衬底台升降器、中空Z轴驱动器、真空系统。通过调节衬底台与换热装置的相对距离在低温和高温两种工作模式间进行切换。低温工作模式：衬底台背面和换热装置底端完全接触，适于二维材料的低温晶体结构测试和低熔点金属薄膜制备；高温工作模式：换热装置远离衬底台，高真空环境保证了极小的气体对流漏热。本发明在RHEED系统中集成低温控制系统，为二维材料的晶体结构测试提供了低温环境。其中，本发明的有益效果是：结构简单，操作方便，适合原位二维材料的低温晶体结构分析且不破坏样品结构。
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公开(公告)号：CN104931808A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201410738599.9
申请日：2014-12-08
Applicant: 上海大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种极端条件下测量材料热释电性能的系统。它包括一个综合物性测量系统（PPMS）、一个静电计(KEITHLEY 6517B)、一个微机终端和一个开关部分。开关部分包括两个双刀双掷继电器、一个单片机（STC89C52）、一个L293D四倍高电流H桥驱动、一个9V直流开关电源。先将调试好的单片机程序烧录到单片机中，微机终端则可通过单片机控制L293D四倍高电流H桥驱动来控制继电器的吸合，从而实现在测试、加电压极化、以及短路放电不同操作之间任意切换。本发明能够克服在放电和测试的时候手动接线，整个测试过程完全自动化。
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