公开(公告)号：CN102608279A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201210069479.5

申请日：2012-03-16

Applicant: 上海大学

Inventor： 王海芳 ,  陈欣欣 ,  成斌 ,  曹傲能 ,  王琳 ,  杨怡新

IPC: G01N33/02

Abstract: 本发明公开了一种分析检测食品中纳米二氧化钛的方法，针对含有二氧化钛添加剂的典型食品样品，采用不同的前处理过程将二氧化钛溶出，利用离心使二氧化钛富集，使用有机溶剂清洗分离出的二氧化钛，然后通过透射电子显微镜观察和软件统计确定纳米二氧化钛的存在及粒径分布。同时对分离得到的纳米二氧化钛进行全面表征，利用扫描电子显微镜、X射线衍射仪、X射线能谱图等全面表征纳米颗粒的基本信息，利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定二氧化钛的总含量，并结合粒径分布给出纳米颗粒的质量浓度数据。本发明分离操作简单，能高效地分离出食品中的纳米二氧化钛颗粒并适用于多种食品中纳米二氧化钛的检测，为纳米产品的标示和安全性评价提供基本数据。

公开(公告)号：CN102914535A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201210395577.8

申请日：2012-10-18

Applicant: 上海大学

Inventor： 王海芳 ,  成斌 ,  陈欣欣 ,  杨怡新 ,  马辛 ,  陈胜 ,  曹傲能

IPC: G01N21/73 ,  G01N15/02 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明公开了一种分离检测食品中纳米二氧化硅的方法，针对含有二氧化硅添加剂的典型食品样品，采用不同的前处理过程将二氧化硅溶出，利用离心使二氧化硅富集，使用有机溶剂清洗分离出的二氧化硅，然后通过透射电子显微镜观察和确定纳米二氧化硅的存在。同时对分离得到的纳米二氧化硅进行全面表征，利用扫描电子显微镜、X射线能谱图等全面表征纳米颗粒的基本信息，利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定二氧化硅的总含量。本发明分离操作简单，能高效地分离出食品中的纳米二氧化硅颗粒并适用于多种食品中纳米二氧化硅的检测，为纳米产品的标示和安全性评价提供基本数据。