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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116282482A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310433995.X
申请日：2023-04-21
Applicant: 上海大学
IPC: C02F1/76 , C02F1/72 , C02F101/30 , C02F101/36
Abstract: 本发明涉及有机质强化高级氧化体系去除场地典型有机污染物的方法，在含有场地典型有机污染物的水体中加入氧化剂和铁基催化剂形成高级氧化体系，通过加入腐殖质材料增强高级氧化体系对场地典型有机污染物的去除效率。与现有技术相比，本发明可以弥补高级氧化体系对于催化剂的过量需求和受水体环境中各影响因素干扰的不稳定性，同时进一步促进降解效率，且腐殖质材料安全无毒，不会对水体环境产生二次污染，能够应用于受场地典型有机污染物污染的场地土壤、地下水和地表水等环境介质中，实现场地典型有机污染物的高效去除。
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公开(公告)号：CN112326560B
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202011171796.9
申请日：2020-10-28
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种多折面形光栅、高光谱探测装置及方法，其中，多折面形光栅包括底板和若干个与所述底板一侧连体设置的凸起；若干个凸起间隔设置，凸起两侧连接的底板上设有遮光面；凸起的表面包括多个平面，多个平面首尾依次连接形成多个折面，显然，所构成的光栅具有多个折面，当利用该多折面形光栅对光进行衍射时，能够分散零级光谱聚集的能量；将该多折面形光栅应用于高光谱探测装置中时，探测装置中的滤波器滤除零级光谱时，避免将大部分的光能量滤除，能够将大部分的光能量用于目标的探测，大大提高了光源的利用率，同时也提高了高光谱探测目标的准确性。
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公开(公告)号：CN112326560A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011171796.9
申请日：2020-10-28
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种多折面形光栅、高光谱探测装置及方法，其中，多折面形光栅包括底板和若干个与所述底板一侧连体设置的凸起；若干个凸起间隔设置，凸起两侧连接的底板上设有遮光面；凸起的表面包括多个平面，多个平面首尾依次连接形成多个折面，显然，所构成的光栅具有多个折面，当利用该多折面形光栅对光进行衍射时，能够分散零级光谱聚集的能量；将该多折面形光栅应用于高光谱探测装置中时，探测装置中的滤波器滤除零级光谱时，避免将大部分的光能量滤除，能够将大部分的光能量用于目标的探测，大大提高了光源的利用率，同时也提高了高光谱探测目标的准确性。
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公开(公告)号：CN112326617B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202011229259.5
申请日：2020-11-06
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明提供了一种瞬态毒侵探测系统及方法。系统包括样品靶室、第一脉冲光调制器、偏振分束器、第二脉冲光调制器、偏振片和信息处理器。先将被测样品放入样品靶室，激光信号依次经第一脉冲光调制器和偏振分束器，于所述偏振分束器产生第一偏振激光和第二偏振激光，所述第一偏振激光进入样品靶室冲击被测样品；同时泵浦激光依次经第二脉冲光调制器和偏振片进入样品靶室冲击被测样品，所述被测样品经所述第一偏振激光和所述泵浦激光的冲击产生荧光。将第二偏振激光和荧光送入信息处理器，作为二阶关联函数的输入，通过观察二阶关联函数值的变化，实现对被测样品瞬态毒侵过程的探测。
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公开(公告)号：CN112326617A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011229259.5
申请日：2020-11-06
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明提供了一种瞬态毒侵探测系统及方法。系统包括样品靶室、第一脉冲光调制器、偏振分束器、第二脉冲光调制器、偏振片和信息处理器。先将被测样品放入样品靶室，激光信号依次经第一脉冲光调制器和偏振分束器，于所述偏振分束器产生第一偏振激光和第二偏振激光，所述第一偏振激光进入样品靶室冲击被测样品；同时泵浦激光依次经第二脉冲光调制器和偏振片进入样品靶室冲击被测样品，所述被测样品经所述第一偏振激光和所述泵浦激光的冲击产生荧光。将第二偏振激光和荧光送入信息处理器，作为二阶关联函数的输入，通过观察二阶关联函数值的变化，实现对被测样品瞬态毒侵过程的探测。
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